Способ временного выделения следов многозарядных частиц в толстослойных ядерных эмульсиях
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Соеетских Социалистических Республик) М, Кл, С 011 5/10 рисоединениеь аявки Ме 2) Приоритетубликовано 30,08.74. Бюллетень ЛЪ 3та опубликования описания 14.04.75 осударственньсн ком овета Министров СССпо делам изобретений и открьстнк(72) Авторы изобретен А. Б. Акопова, Г. М, Гарибян Маградз 1) Заявител Ереванский физический институт(54) СПОСОБ ВРЕМЕННОГО ВЫДЕЛЕНИЯ СЛЕДОВ МНОГОЗАРЯДНЪХ ЧАСТИЦ В ТОЛСТОСЛОЙНЪХ ЯДЕРН ЭМУЛЬСИЯХИзобретение может найти применение, например, при изучении тяжелой компоненты космического излучения с помощью искусственных спутников Земли при использовании в качестве регистрирующего прибора ядерных эмульсий. 11 ри этом становится важным вопрос об управлении регистрирующей способностью фотоэмульсии по определенной программе во времени, ибо часто бывает невозможно отнести данное фотографически зарегистрированное событие к определенному интервалу времени или избавиться от регистрации однотипных либо фоновых явлений.Известен способ выключения эмульсии в ходе экспонирования путем частичного проявления (т. с. неполнои обработки) ее и помещения в консервирующий раствор. Однако этот способ высокоинерционен и не позволяет одновременно и идентично изменять свойства больших площадей и объемов эмульсии.Кроме этого, известный способ может быть использован лишь при небольших временах экспозиции около 1 О час) и хранения слоев в консервирующем растворе, Наконец, этот способ совершенно непригоден для выявления из общего фона многочисленных следов различной ионизации лишь следов тяжелых частиц, так как экспонированная эмульсия хранит следы всех частиц, прошедших через нее.Цель изобретения - получение экспонированных и пригодных для микроскопическогоисследования слоев со следами многозарядных частиц, зарегистрированных в заранее заданный промежуток времени, при длительном5 их облучении частицами с различной ионизацией.Цель достигается специальной обработкойядерных эмульсии в условиях наземной лаборатории перед их экспозицией влагой и им 10 пульсным электрическим полем, напряженность которого зависит от длительности выделяемого интервала времени и его положенияотносительно начала облучения,В отличие от известного предлагаемый спо 15 соб практически безынерционен, позволяетвыделить лишь тяжелую компоненту излучения в любой требуемьш промежуток временидаже при длительных экспозициях (месяц иболее) и больших загрузках и не требует наличия вспомогательных приборов на борту корабля.Согласно предлагаемому способу толстослойную ядерную эмульсию любого типа пропитывают в воде при температуре 10 - 23 Св течение 90 - 50 сек соответственно, после чего ее промокают фильтровальной бумагой иподвергают воздействию импульсного электрического поля с частотой следования 100 -300 имп/мин и длительностью импульсов 5 -307 мксек,441538 Составитель П, Домин Техред М. Семенов Корректор Л. Денисова Редактор И. Орлова Заказ 939/2 Изд. Мо 1178 Тираж 678 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 Величину напряженности поля выбирают в зависимости от требуемой длительности выделяемого интервала времени и его положения относительно начала экспозиции. Так при напряженностях поля соответственно 2,5 10, 3,7 10 и 5 10 в/см в слоях оставалась информация о тяжелых частицах, набранная ими за две трети, последнюю половину и последнюю треть времени экспонирования соответственно,После указанной обработки эмульсию экспонируют и затем проявляют обычным способом. Пред м ст изобретенияСпособ временного выделения следов многозарядных частиц в толстослойных ядерных эмульсиях, отли ч а ющи й с я тем, что, с целью получения эмульсионных слоев, пригодных для микроскопических исследований при длительных экспозициях и больших загрузках, перед экспонированием увлажненную эмульсию подвергают воздействию импульс ного электрического поля, при этом величинуполя выбирают из соотношения 0,5 10 в/см на бео стираемой информации, набранной в начальное время экспозиции.
СмотретьЗаявка
1834820, 09.10.1972
ЕРЕВАНСКИЙ ФИЗИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
АКОПОВА АНАИДА БОРИСОВНА, ГАРИБЯН ГРИГОРИЙ МАРКАРОВИЧ, МАГРАДЗЕ НИНА ВАХТАНГОВНА
МПК / Метки
МПК: G01T 5/10
Метки: временного, выделения, многозарядных, следов, толстослойных, частиц, эмульсиях, ядерных
Опубликовано: 30.08.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-441538-sposob-vremennogo-vydeleniya-sledov-mnogozaryadnykh-chastic-v-tolstoslojjnykh-yadernykh-ehmulsiyakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ временного выделения следов многозарядных частиц в толстослойных ядерных эмульсиях</a>
Устройство для поиска следов частиц
Номер патента: 1583899
Опубликовано: 07.08.1990
Авторы: Бенца, Кишваради, Мольнар, Сороко
МПК: G01T 5/10
...т.е. почтив 70 раз.Устройство для поиска следов частиц преимущественно в ядерной фотоэмульсии содержит систему формирова"ния сходящегося пучка света, системупоступательно-вращательного перемещения и контроля положения ядерной фотоэмупьсии, мезооптическое зеркалос образующей в виде дуги эллипса,оптический интерфейс, содержащийплоское зеркало и зеркальную призму,фотоприемник на основе матрицы прибора с зарядовой связью, блок записиданных, При этом второй фокус эллипса, дуга которого является образующей мезооптического зеркала, расположен так, что расстояние по лучусвета от второго фокуса указанногоэллипса до мезооптического зеркала1 в М раз больше расстояния по лучусвета от первого фокуса указанногоэллипса до мезооптического зеркала 1 ,...
Способ определения минимального времени пребывания материала в кипящем слое
Номер патента: 1032311
Опубликовано: 30.07.1983
Автор: Нехлебаев
МПК: F27B 15/00
Метки: времени, кипящем, минимального, пребывания, слое
...слоя в качестве меченых частиц следует применять доломитизированный известняк либо доломит Опытную партию этого материала следует получать в тех же условиях, в которых получают основной материал - известняк дробление и рассев в одинаковых условиях), Соблюдение этого требования обеспечивает равенство коэффициента формы и среднего диаметра основного и меченого материалов.3 1032Цель изобретения - снижение трудоемкости определения минимальноговремени и повышения его точности,.Указанная цель достигается темчто согласно способу определения ми 5нимального времени пребывания материала в кипящем слое, включающемузагрузку и выгрузку материала, выдерживание во времени заданного режима работы слоя, отбор проб, постро.ение тарировочной кривой...
Устройство для поиска вертикальных следов частиц
Номер патента: 1702330
Опубликовано: 30.12.1991
Автор: Сороко
МПК: G01T 5/10
Метки: вертикальных, поиска, следов, частиц
...света ющего объектива, призмы 4 освещающегообъектива, призмы 5 изображающего обьекзп(2)40 тива, шторки б изображающего объектива,коллиматор 7, точечный фотоприемник 8.где Л. - длина волны света; систему 9 одновременного поворота осве 0 - угол между рассматриваемыми дву- щающего и изображающего объективов, симя пучками света, стему 10 перемещения и кОнтроляКаждая пара плоских пучков света абра положения ядерной фотоэмульсии, блок 11зует свою систему интерференционных по- записи данных.лос, шаг котОрой изменяется с координатой Лучи. света, вышедшие из точечного исХ. При наложении многих интерференцион- точника 1 света, преобразуются коллиматоных картин возникает узкая ярко освещен- ром 2 .в коллимированный пучок света,ная...
Способ измерения объемного времени жизни носителей тока в слоях полупроводников
Номер патента: 326526
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Амринов, Гуро, Ковтонюк
МПК: H01L 21/66
Метки: времени, жизни, носителей, объемного, полупроводников, слоях
...поверхности полупроводникового материала, 10 Цель изобретения - устрсти результатов измерений оностных свойств (поверхнции) полупроводников и тение точности измерений.Для достижения цели тонкийлупроводника отделяют от оэлектродов слоями диэлектрикатродам прикладывают импульсго поля, под влиянием которогоных носителей заряда выводиполупроводника в приэлектроВ результате этого тепловая генеме преобладает над рекомбиннекоторое время концентрациястигает исходной величины.Параметром кривой восстанодимости объема является величии определяет время жизни. Врс генерацией только в объеме, а ности, потому что при наличии поля приповерхностные области обогащены свободными зарядами, экранирующими это поле. При этом ловушечные центры поверхности...
Устройство для автоматического определениятрасс заряженных частиц b магнитном поле
Номер патента: 683524
Опубликовано: 07.07.1981
Авторы: Бабаян, Нагорский, Туманьян
МПК: H05H 7/00
Метки: заряженных, магнитном, определениятрасс, поле, частиц
...и расположен внутри соленоида., На чертеже дана принцийиальная схема устройства.25Устройство содержит гибкую токопроводяющую нить 1, подвижную опору2, блок 3, ферромагнитный груз 4,механизм 5 перемещения подвижной опоры, координтано-следящие механизмы6, 7, 8, 9 положения нити, регули- ЗОруемай источник 10 постоянного токанити, управляемый источник 11 переменного тока, дискриминатор 12 экстремальных значений тока нити, координатная система 13 положения груза, З 5управляемый источник 14 постоянноготока соленоида, управляющая ЭВИ 1 Ь,первая обмотка 16 соленоида, втораяобмотка 17 соленоида.Предложенное устройство работает , 4 Оследующим образомКонец нити 1, закрепленный на опоре 2, перемещается посредством механизма 5 в...
Предыдущий патент: Отсчетное устройство для эхолота
Следующий патент: Скважинный акустический излучатель
Случайный патент: Способ определения потерь в механизмах двигателя внутреннего сгорания