Способ измерения деформаций

Номер патента: 508659

Опубликовано: 30.03.1976

Авторы: Варакин, Коровина, Охрименко, Пузанков, Токарев, Тюрин, Фетисов, Экарев

МПК: G01B 5/30

Метки: координатной, сетки

...исследования деформаций с применением координатных сеток при ковке слитков.Известны способы получения координатныхсеток (решеток) либо путем предварительнойзаливки в металл слитка инородных элементов, например, в виде колец, либо путем введения в металл слитка радиоактивных изотопов. По деформации такой координатной сетки, которую определяют на образцах, вырезанных из слитка, судят о внутренних деформациях при ковке слитка.Недостатками известных способов являютсянарушение однородности по сечению слиткавследствие введения в него инородных элементов и технические трудности при использовании радиоактивных изотопов, вводимых в металл слитка при заливке,Целью изобретения является повышениеточности измерений,Это достигается тем, что...

Номер патента: 815486

Опубликовано: 23.03.1981

Автор: Беседин

МПК: G01B 11/06

Метки: деформаций, иперемещений, объекта, поверхности, устройстводля

...с некоторым напуском над его торцом,обеспечивая освещение растровых сопряжений передающим световодом с его торцовой и боковой поверхностей. Измерительных каналов, в состав которых входит приемный световод 1 с сетками 2 и передающие световоды 4 с эталонными сетками 3, может быть несколько, а остальные элементы устройства - в единичном экземпляре.О 20 Элементы 5 связи на световодахполучают путем травления их поверхностей кислотами или же пескоструйной обработкой,Определение перемещений поверхностей объекта производят следующимобразом.Растровое сопряжениеобразуемоерабочими сетками 2, нанесенными наповерхность объекта, и эталоннымисетками З,является своего рода оптическим индикатором перемещения.Передающий 4 и приемный 1 световодыжестко...

Номер патента: 1055961

Опубликовано: 23.11.1983

Авторы: Бушуева, Щербаков

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, зеркальной, объекта, поверхности

...наобъекте, выбирают базовые точки на экране, деформируют объект, из фиксированной точки наблюдения регистрируют положения отражений базовых точек от зеркальной поверхности до и после деформации объекта и по их разности определяют деформации 2 .Однако известный способ не позволяет измерять углы поворота нормалейв произвольно заданной точке и в произвольных сечениях зеркальной поверхности, поскольку в зависимости от кривизны З 5эеркальнои поверхности изображения базовых точек в этой поверхности смеща-,ются, принимают нерегулярную структуру, неконтролируемы и могут не находиться в области, интересуюшей исследо-.40ва тели,Бель изобретения - повышение точности определения деформаций.Для этой цели согласно способу оп 45ределения деформаций...

Номер патента: 1096602

Опубликовано: 07.06.1984

Авторы: Домород, Дубина, Кожаринов

МПК: G03G 17/00

Метки: высокочастотного, гладкой, неоднородностей, объектов, поверхностью, фотографирования, электрических

...состоящую из двух диэлектрических полос, расположенных симметрично линии контакта между роликовым электродом и фотопленкой в зазорах между ними.,45Расстояние между диэлектрическимиполосами составляет не более 0,15радиуса роликового электрода,На Фиг.1 представлено предлагаемое устройство, общий вид; на Фиг.2 представлена регистрограмма изображения покоящегося роликового электрода.устройство содержит светонепроницаемую камеру 1 со смонтированными вней приемной 2 и подающей 3 кассетами и Фотопленкой 4, снабженную направляющими роликами 5, и обкладкуразрядного конденсатора, содержащуюроликовый электрод б в непрозрачномдиэлектрическом корпусе 7 со щелевой 60диафрагмой 8. Объект съемки 9 с дефектом 10 контактирует с Фотопленкой 4,...

Номер патента: 497470

Опубликовано: 30.12.1975

Автор: Бахтадзе

МПК: G01B 11/16

Метки: деформации, объемных, поверхности

...шторка устаноперемещения, обеспеотслеживание того же На чертеже приведена схема предложенного устройства, где волоконный световод 1, оканчивается торцом 2, имеющим форму поверхности объемной детали 3; этот торец 5 вместе с торцом 4 в виде плоского экрана набраны из узких прямоугольных полосок, ширина которых определяется из условия рассмотрения части поверхности объемной детали как плоскости. Около плоского экрана 10 или непосредственно на нем установлен мерный элемент 5 (сетка, растр, шкала). Кольцевая шторка 6 вместе с объективом 7 и щелевой диафрагмой 8 имеют возможность поворачиваться, отслеживая торец световода, 15 сохраняя рабочий зазор между поверхностьюобъемной детали 3 и щелевой диафрагмой.Световод помещен в кожух 9, а...