Устройство для испытания пассиков; . ••; •: п: -5; твг«к-“1 j -; г: г8уй

Номер патента: 414502

Авторы: Китра, Рагульскис, Славицкас

ZIP архив

Текст

111 4145 О 2 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ И АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Ресоублкк(51) М. Кл. б 0115 Р 106 11 Ь 1518 присоединением заявки Государственный комитет 2) Приоритет инистровч изобре открытий Совет,846,73 (088.8 Опубликовано 05.02.74. Бюллетень дел ата опубликования описания 07,02.75 2) Авторы изобретения) Заявител аунасский политехнический институт РОЙ СТВО ИСПЫТАНИЯ ПАССИКО(54 0 Цель изобретения - повышение точностиопределения качества испытуемого пассика.Это достигается снабжением устройства нагрузочным тормозом, модуляционным дискомсо стойкой, источником лучистой энергии сфотоприемником, расположенными над этимдиском и соединенными последовательно сфотоприемником измерительным прибором и 25фильтром, при этом второй шкив устройствавыполнен со ступицей, взаимодействующей снагрузочным тормозом и жестко скрепленнойсо стойкой модуляционного диска.На чертеже приведена электрокинемати Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано для определения качества пассиков, применяемых, например, в аппаратуре магнитной записи.В большинстве своем кинематически замкнутая цепь в лентопротяжных механизмах аппаратов магнитной записи образуется с помощью приводных ремней, или иначе пассиков. Передача в основном осуществляется с электродвигателя на ведущий вал, поэтому необходим тщательный отбор пассиков. В противном случае возникает искажение записываемой и воспроизводимой информации. Известные устройства обкатки и определения качества пассиков не позволяют с достаточной точностью судить о качестве их. авицкас и К. М, Рагульскис ческая схема описываемого устроиства для испытания пасспков.В устройстве имеется электродвигатель 1, маховик 2, на котором установлен первый шкив 3, связанный через испытуемый пассик 4 со вторым шкивом 5. Нагрузку при испытаниях создает тормоз 6, а пригодность пасспка определяют с помощью вращающегося модуляционного диска 7, источника лучистой энергии 8, фотоприемника 9, фильтра 10 и измерителя 11. При вращении шкива 5 нагрузка создается в области ступицы 12, которая жестко связана через стойку 13 с диском 7. Если продольная упругость пасспка является однородной, то при постоянной нагрузке п деформация его будет однозначной, а значит и диск 7 будет вращаться равномерно. В этом случае измеритель не покажет отклонения. При неоднородной упругости испытуемого пассика угловая скорость диска будет изменяться и это изменение отобразится на измерителе. Фильтр низких частот 10 необходим для повышения точности показаний измерителя. Он пропускает сигналы, частота которых характеризует качество испытуемого пасспка, и не пропус. кает частоты, которые могут появиться вслед. ствие неточности изготовления элементов механизма, имеющих обычно более высокое значение, Таким образом, на выходе фильтра 10 выделяется сигнал, по величине прямоЗаказ 178/10 Изд.560 Тираж 903 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 пропорциональный величине неоднородностииспытуемого пассика. Предмет изобретенияУстройство для испытания пассиков, используемых, например, в аппаратуре магнитной записи, содержащее электродвигатель со шкивом, кинематически связанным посредством испытуемого пассика со вторым шкивом, отличающееся тем, что, с целью повышенпя точности определения качества испытуемого пассика, оно снабжено нагрузочным тормозом, модуляционным диском со стойкой, источником лучистой энергии с фотоприемни ком, расположенными над этим диском и соединеннымп последовательно с фотоприемником измерителем с фильтром, при этом второй шкив выполнен со ступицей, взаимодействующей с нагрузочным тормозом и жестко скреп ленной со стойкой модуляционного диска.

Смотреть

Заявка

1759711, 16.03.1972

С. П. Китра, Э. С. Б. Славицкас, К. М. Рагульскис Каунасский политехнический институт

МПК / Метки

МПК: G01L 5/10, G11B 15/18

Метки: г8уй, испытания, пассиков, твг«к-"1

Опубликовано: 05.02.1974

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-414502-ustrojjstvo-dlya-ispytaniya-passikov-p-5-tvgk-1-j-g-g8ujj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для испытания пассиков; . ••; •: п: -5; твг«к-“1 j -; г: г8уй</a>

Похожие патенты