Амплитудный спектрометр

Номер патента: 414497

Опубликовано: 05.02.1974

Авторы: Всесоюзный, Губанов, Конструкторскшпшститут

МПК: G01K 7/22, H04B 15/00

Метки: измерениях, импульсного, низких, подавления, прецизионныхдистанционных, промышленной, температур, частоты, электрическихпомех

...время между цмпульсамц и усилением полученного сигнала.Настоящий способ позволяет полностью исключить влияние помехи сетевой частоты на результат измерения и обеспечить высокую точность датчика прц прецизионных дистанционных измерениях низких температур.На фиг. 1 приведена часть блок-схемы цз- О мерительной системы, реализующей предлагаемый способ; на фиг. 2 - временные осццллограммы, показывающие форму выходного сигнала соответствующего элемента блоксхемы.5 Датчик 1 подключен к источнику 2 напряжения постоянного тока через ключ Кь который управляется генератором 3 импульсов синхронизированным с сетспо 4 питания ц обеспечивающим следование импульсов с удво- О енной частотой сети. Импульсы, промодулцЗаказ 524/12 И Подписно ЦНИИПИ Госуд...

Номер патента: 640136

Опубликовано: 30.12.1978

Автор: Козлов

МПК: G01J 3/06

Метки: амплитудной, интерференционной, модуляцией, селективой, спектрометр

...про), ),2 хомодулировна частотой в большей, чем1.частота изменения аргумента з 1 п. Такимобразом, при величинах хо)0 появляетсяавтомодуляция светового потока, и частотамодуляции будет тем выше, чем больше хи скорость сканирования, Соответственно,частота опорного сигнала синхронного де. где храсстояние от произвольной точкирсшегкп до линии пересечения плоскостей решетки и зеркала,р - угол между плоскостями, содержащими дифракционную решетку и плоское зеркало.Если ввести модуляцию, например, в направлении, параллельном плоскости решетки, то есть смещать зеркало или решетку в этом направлении на расстояние порядка одной длины волны, то изменение порядка интерференции, обусловленное зтпм смещением, приводит в конечном счете к...

Номер патента: 1503021

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Гудилин, Риффель

МПК: G01R 19/04

Метки: амплитудно-модулированного, детектор, огибающей, сигнала

...а), фронты которого совпадают по времени с нулевым уровнем напряжения Б,. Блок 4 дифференцирования формирует в моменты, соответствующие фронтам меандра Б, разнополярные короткие импульсы Ц(фиг.2 б). Палее формирователь 5 формирует из последовательности импульсов П последовательность однополярных импульсов Б . (фиг,2 в), каждый иэ которых фиксирует начало либо положительной, либо отрицательной полуволны напряжения Б . Под действиемэтих импульсов обнуляется счетчик 9,а умножитель 6 частоты формирует последовательность коротких импульсов Б (фиг,2 г) с частотой следования в2 д раз превышающей частоту напряжения 11, . Импульсы Ц жестко привязаныпо фазе к напряжению Б и сдвинутыотносительно моментов перехода черезнуль входного напряжения на...

Номер патента: 115538

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Каминский, Кувалдин, Кузнецов

МПК: H03D 13/00

Метки: детектор, дробнорациональными, кратными, между, напряжениями, сдвига, фаз, фазовый, частотами

...в анодные цепи которых включены полосовые фильтры 1 и 2, настроенные на первую гармонику анод- ного тока. Вторичные обмотки фильтров 3 и 4 с включенными в пх цепи детекторами Д, и Д 2 образуют схему вычитания выпрямленных выходных : напряжений.Входное напряжение низкой частоты через входной трансформатор д подается на обе сетки ламп Л, и Л, в противофазе, а напряжение высокой гастоты - на сетки синфазно через среднюю точку вторичной обмотки -того же трансформатора, Для выбора оптимального режима в цепь сеток этих ламп Включено исходное отрицательное смещение Ев.На сетках ламп образуется геометрическая сумма напряжений высокой и низкой частоты.На фиг. 2 показана диаграмма напряжений балансного фазового детектора в рабочей точке при...

Номер патента: 127053

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Архипов, Желудов, Киселев

МПК: G01B 9/02, G01J 3/18, G02F 1/21

Метки: амплитудной, модуляцией, селективной, спектрометр-интерферометр

...лучей вращением плоскопараллельной пластинки-компенсатора.Схема спектрометра-интерферометра, в котором фшетки установлены параллельно друг другу, изобраспектрометр-интерферометр с перпендикулярным рфракционных решеток - на фиг. 2.Пучок параллельных лучей, падающих на плоскопараллельную пластинку-делитель 1, делится на два интерферирующих между собой пучка, проходящих одинаковые пути, Модуляция производится при изменении разности хода вращением плоскопараллельной пластинки-компенсатора 2. Пучок параллельных лучей после делителя 1 и компенсатора 2 отражается с помощью плоских зеркал 3 и 4 на дифракционные решетки 5 и б. Решетки чстановлены па общем основании параллельно (фиг. 1) или перпендикулярно (фиг. 2) друг другу, При сканировании...