Способ определения функции распределения электронов плазмы по скоростям

Номер патента: 1236884

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Нестеров, Щербов

МПК: G01N 22/00

Метки: концентрации, плазме, распределения, электронов

...комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина, 101 Изобретение относится к СВЧ-диагностике плазмы и может быть использовано для определения пространственного распределения концентрации электронов в плазме (и ) на установках термоядерного синтеза типа "Токамак", "Ураган",Целью настоящего изобретения является повышение точности при измерении концентрации электронов в высокоплотной плазме больцюго поперечного сечения.На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства для измерения распределения концентрации электронов в плазме.Устройство для измерения распределения концентрации электронов в .плазме содержит СБЧ-генератор 1, сдвигатель 2 частоты, первый разделитель 3 сигналов, первый, второй, третий и четвертый...

Номер патента: 568838

Опубликовано: 15.08.1977

Авторы: Олейник, Хайрулина, Чайковский

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, размерам, распределения, функции, частиц

...измерении размеров частиц; (Ъ(а) ) - средняяЦ скорость движения частиц радиуса а; - . -- относительное разрешение спектроанализа тора.Функцию 1(а) определяют, исходя из условий эксперимента. Для случая разделения частиц по скоростям посредством наложения внешнего силового поля: где Р (а) - сила, действующая на частицу радиуса а; 5 - поперечное сечение частицы; о - ее плотность; С - коэффициент сопротивления,Когда разделение частиц по скоростям производится посредством создания градиента скорости потока, расчет Р(а) ароводят, исходя из уравнения движения частиц в турбулентных потоках. Если о о, (о, - плотность среды), оно имеет следующий простой вид: где У, - проеиция скорости потока на ось х: 11,. - проекция скорости частицы радиуса а...

Номер патента: 1179371

Опубликовано: 15.09.1985

Автор: Блатов

МПК: G06F 17/18

Метки: мгновенной, процессов, распределения, случайных, функций, частоты

...техники и может быть использовано для измерения интегральной функции распределения и плотности вероятности случайного процесса.Плотность вероятности мгновенной частоты определяется какотношение времени пребывания процесса в заданном интервале частот к длительности реализации при фиксированном уровне интервала,Цель изобретения - повышение точности.На чертеже приведена схема устройства.Устройство для определения функции распределения мгновенной частоты случайного процесса содержит ограничитель 1, преобразователь 2 частота - код, блок 3 сравнения, элемент И 4, частотомер 5, одновибратор 6;Устройство работает следующим образом..Исследуемый сигнал через ограничитель 1 подается на преобразователь2 частота - код.Ксд числа 1 с выходов...

Номер патента: 596956

Опубликовано: 05.03.1978

Авторы: Ицкович, Линне, Парижский, Сергеев, Шполянский

МПК: G06F 17/18

Метки: анализатор, временных, интервалов, распределения, функций, цифровой

...квантования, Количество импульсов, прошедшее на счетчик 3 между двумя управляющими сигналами и зафиксированное 5 1 О 5 20 25 30 35 Ю 45 50 55 60 4ца его выходе, пропорционально длительности соответствующего времеццого интервала.Ицформа ,ия о длительности очередного измеренного ицтерва а с высода счетчика 3 поступает на дискриминатор 4, который определяет, к какой зоне цо длительности относится измеренный ицтерва.т, и подключает соответствуюций канал блока усреднителей интервалов 5 к выходу счетчика 3.Блок усредцителей 5 содержит столько каналов, ца сколько зон разбиты все возможные значения длительности измеряемых интервалов, В каждом канале работает самостоятельный усредцитель, на гыходс которого после многократного повторения описанных...

Номер патента: 429374

Опубликовано: 25.05.1974

Автор: Гриша

МПК: G01R 27/26

Метки: бесконтактных, высокой, измерений, параметров, полупроводниковых, слоев, частоте

...1 с плавной перестройкой частоты, элемент связи 2, имеющий малое (менее чем в 10 раз) реактивное сопротивление по сравнению с последовательным реактивным (емкостным) сопротивлением кварцевого резонатора 3, пер вичпую обмотку 4 трансформатора с емкостным зондом 5, Индуктивное сопротивление первичной обмотки 4 трансформатора должнО быть во много раз (более 10) менее эквивалентной индуктивности кварцевого резонато ра 3, а емкость зонда 5 должна быть большой(более 10 раз) по сравнению с эквивалентной последовательной емкостью кварцевого резонатора 3.-а некотором расстоянии от зонда 5 15 (0,1 мм) находится испытуемый слой 6, нанесенный на проводящую подложку 7 стеклянной пластины 8. Вторичная обмотка 9 трансформатора подключена к...