Устройство для контроля качества поверхности микропроволоки

Номер патента: 369384

Автор: Авторы

ZIP архив

Текст

,.сиф", г:"; . 1;,гь1 г,. ", 4 Оп И САН ИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельстваМ. Кл. б 01 Ь 7/341636340/25 явлено 25,1.197 присоединением заявкиаритет Комитет по деламзобретений и открытийпри Совете МинистровСССР Опубликовано 081973. Бюлл ДК 531.71(088,8 нь10 сания 16,И 11.1973 а опубликовани Авторыизобретения. Бахтаев, В. Н. Бавлаков и С. Р, Досбаев Институт физики высоких энергий АН Казахско явитель УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВАМИ КРОПРОВОЛОКИ РХНОСТ чика 1 соед ления Р и тельным по,жения 7, а 5 источником Устройств Контроли ремоточного роды 4 и да 0 р,итель 5 ча очередно с чам электро что дает во ного разряд 5 различных сов тока по чества всехУстройство для контроля качества поверх.ности микропроволоки, содержащее датчик коронного разряда, электрод которого в,процессе контроля устанавливают концентрично кон тролируемой проволоке, перемоточный узел:ирегистрирующий прибор, отличаюи 1 ееся тем, что, с целью получения пространственной картины ориентации и расположения микронеров,ностей по сечению и длине микропроволоки, 30 электрод датчика выполнен составным по ок 1Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля качества поверхности микропроволоки,.Известны устройства для контроля качества поверхности микропроволоки, содержащие датчик коронного .разряда, электрод которого выполненный в виде сплошного кольца, устанавливают в процессе контроля концентрично контролируемой проволоке, перемоточный узел и регистрирующий прибор. Известные устройства позволяют контролировать лишь наличие дефекта на поверхности проволоки.Предложенное устройство отличается от известного тем, что электрод датчика выполнен составным,по окружности, а устройство снабжено двумя дополнительными электродами, установленными соосно с двух сторон основного электрода датчика.Указанное отличие позволяет получать простр анственную картину ориентации и р асположения микронеровностей по сечению и длине микропроволоки.На чертеже представлено описываемое устройство.Устройство, содержит датчик 1 коронного разряда, перемоточный узел 2 для протягивания контролируемой проволоки 3, дополнительные электроды 4, измеритель б частоты импульсов .и переключатель б. Электроды даттнены черз нагрузочные сопротивобщее сопротивление Яе с положилюсом источника вьгсокого напряэлектроды 4 соелинены с тем же через сопротивление Йз.о работает следующим образом. руемая проволока 3 с,помощью пеузла 2 протягивается через электтчик 1. В процессе контроля, изместоты импульсов подключают по- помощью переключателя б к пледов датчика 1 (точки О О и т.д.), зможность по частоте тока корона оценить качество поверхности в сечениях, а суммирование импульсекторам дает общую оценку каповерхностей проволоки,Предмет изобретения369384 Составитель И, Богунова Текред Л. Богданова Корректор С. Сатагулова Редактор Л. Василькова Заказ 2219/б Изд.1599 Тираж 755 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 ружности, а устройство снаояено двумя дополнительными электродами, установленными соосно с двух сторон основного электрода датчика.

Смотреть

Заявка

1636340

Ш. А. Бахтаев, В. Н. Бавлаков, С. Р. Досбаев Институт физики высоких энергий Казахской ССР

Авторы изобретени

МПК / Метки

МПК: G01B 7/34

Метки: качества, микропроволоки, поверхности

Опубликовано: 01.01.1973

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-369384-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-kachestva-poverkhnosti-mikroprovoloki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля качества поверхности микропроволоки</a>

Похожие патенты