Установка для механических испытаний материалов при низких температурах

Номер патента: 361419

Авторы: Вител, Ландшафт

ZIP архив

Текст

Союз Советскик Социалистических РеспубликЗависимое от авт, свидетельства-М. Кл. 6 01 п 31 Заявлено 11,П 1.1969 ( 1348212/25-2 с присоединением заявки-Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРаритетв публиковано 07,Х 1,1972. Бюллетень1 за 1973ата опубликования описания 31.1,973 УДК 620,178,38(088,8) вторыобретен И. М. Розенштейн и Э. Н. Ландшафт Заявитель сесоюзный научно-исследовательский институт по монтажны и специальным строительным работамУСТАНОВКА ДЛЯ МЕХА МАТЕРИАЛОВ ПРИ Н ИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИ КИХ ТЕМПЕРАТУРАХ Изобретение относится к устапавкам для исследования прочности и микроструктуры материалов при низких температурах.Извесгна установка для механических испытаний материалов при низких температурах, содержащая охладителыную камеру с иллюминатором для установки образца, на гружающее устройство, взаимодействующее с захватами и микроскоп для наблюдения структуры образца,в процессе деформации, Однако,в известной установке при наблюдении в определенной точке структуры образца в процессе деформиравания необходимо ттостоонно переналаживать оптимическую систему микроскопа, что усложняет эксплу атацию установки и исключает прихтенение киносъемки.Предлагаемая установка отличается тем,что она снабжена устройством для обдува ооъектива микроскопа и иллюминатора, а также щупом, контактирующим с образцом и жестко связанным с охладительной камерой1а камера и микроскоп жестко связанны между собой и выполнены,подвижными относительно заяватов в продольном и поперечном на правлениях.Это позволяет упростить конструкциюустановки и достигнуть непрерывности наблюдения структуры образца в процессе его деформирования, так как отпадает необходимасть постоянно перенастраивать оптическую систему микроскапа.На фиг. 1 изображена схема предлагаемой установки; на фиг. 2 - разрез по А - А 5 на фиг, 1.Установка содержит нагружающее устройство, состоящее из стандартной испытательной машины 1 и рычажнсго реверсора 2, охладительную камеру 3, анабженную иллюми 10 натором 4 и прижимами 5, щуп 6, контактирующий с образцом 7,и жестко закрепленный в камере 3, и микроскоп 8, жестко связанный через тяги 9 с охладителыной камерой 3 и опирающийся на подъемный столик 10 с про тивовесами 1. Столик 10 свободно перемещается по опорной плите 12 на шаровых опорах 13,Объектив 14 микроакопа помещен в корпус 15 с соплом 16, через которое произво дится обдув объектива 14 и иллюминатора 4струей, например, газообразного азота.Рычакный реверсор 2 вьпполнен в видедвуплечих рычагов, шарнирно соединенных осью 17. Верхние концы рычагов подвелены 25 к траверсам 18 иапытателыной машины 1, анижние - к толкателям 19, установленным на роликах 20 в обойме 21. К толкателям 19 шарнирно присоединены захваты 22 для закрепления испытываемого образца 7, поме :ценного,в охладительную камеру 3. Оп ИСАНИЕ 3614 ВИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ361419 фиг Фиг 1 Составитель Н. ДемьяноваТехред Т. Миронова Корректор Л. Новожилова Редактор В. Левят Заказ 734/12 Изд.3 Тираж 404 Подписано ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров ССС Москва, Ж, Раушская наб., д. 45нп, Харьк, фил. пред. сПатент Установка работает следующим образом.Образец 7 устанавливается в захватах 22, и под него с помощью подъемного столика 10 подводигся микроско 1 п 8 с охладителыной камерой 8. В образце выбирается точка наблюдения, и микроскоп 8 настраивается на резкость, после чего образец 7 фиксируется щу 1 пом б и прижимами 5. Камера 8 за 1 полняется охладителем 28, например жидким азотом, и одповременно включается обдув абъектива 14 и иллюминатора 4, Затем к испытуемому образцу прикладывается нагрузка.При деформировании образца, выбранная точка наблюдения меняет свое положение, при этом щуп 6, взаимодействуя с образцом 7; сообщает через охладителыную камеру 8 и тяви 9 движение микроскону 8.Таким образом, выбранная точка наблюдения во время испытания непрерывно находится в поле зрения микроскопа. Для киносъемки микроструктуры во время испытания на окуляре 24 микроскопа устанавливается квнокамера 25. 5 П р едмет изо бр етенияУотановка для механичеаких испытанийматериалов,при низких температурах, содер.жащая охладительную камеру с иллюминатором для установки образца, нагружающее 10 устройство, взаимодействующее с захватамии микроскоп для наблюдения структуры об,разца, отличающаяся тем, что, с целью непрерывного наблюдения структуры образца в процессе доформирования, она снабжена 15 устройством для обдува объектива микроекопа и иллюминатора, а также щупом, контак.тирующим с образцом и жестко связанным с камерой, а камера и микроокоп жестко связаны между собой и,выполнены подвижными 20 огносительно оси захватов в продольном и поперечном направлениях.

Смотреть

Заявка

1348212

Всесоюзный научно исследовательский институт монтажным, специальным строительным работам

витель И. М. Розенштейн, Э. Н. Ландшафт

МПК / Метки

МПК: G01N 3/18

Метки: испытаний, механических, низких, температурах

Опубликовано: 01.01.1973

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-361419-ustanovka-dlya-mekhanicheskikh-ispytanijj-materialov-pri-nizkikh-temperaturakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Установка для механических испытаний материалов при низких температурах</a>

Похожие патенты