Способ измерения времени жизни неосновных

Номер патента: 347699

Авторы: Изобретеии, Финкельштенн

ZIP архив

Текст

фиГ / Составитель 3, Челноковадактор Р 1. Орлова Текре 3. Тараненко Корректор С, Сатагуловаказ3989 Изл.1147 Тираж 1 НИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий иМосква, Ж, Раугискаи нао., л. писнос овсте Министров СССР агорская типографа 1 а 11 ряжсн 11 я 1 змсн 11 ю мскс 1 м 11 лыОс зн 11 е 1 нс напряжения таким образом, чтобы обе кривые пересеклись в точке максимума 1 орнвой полной эквивалентной емкости (фиг, 2); время жизнги отсчитывается по углу поворота ручки регулировки максимального значения амплитуды ннлоооразного напряжения. П р сдм ет из обр етен няСпособ измерения времени жизни неосновных носителей заряда в базе германиевых полупроводниковых быстродействующих диодов, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности измерения на низких частотах, б определяот отношение максимальной емкостидиода к соответствующей ей величине прямого тока с учетом зависимости времени жизни не- основных носителей от уровня ннжекции и особенностей геометрии каждого данного типа 1 О диодов.

Смотреть

Заявка

1485143

Институт электроники, вычислительной техники Латвийской ССР

изобретеии Ш. Вольфсон, Е. Я. Финкельштенн

МПК / Метки

МПК: G01R 31/26

Метки: времени, жизни, неосновных

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-347699-sposob-izmereniya-vremeni-zhizni-neosnovnykh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения времени жизни неосновных</a>

Похожие патенты