346445

Номер патента: 977947

Опубликовано: 30.11.1982

Автор: Тареев

МПК: G01B 11/26

Метки: параметров, пластин, плоскопараллельных, угловых

...пучка автокоплиматора 1 над предметным столиком 2 и выполненный в виде ромбической призмы 3 со светоделительным покрытием 4 на одной из ее отражающих граней и клина 5 с углом 45 между его гранями, склеенных между собой так, что одна из граней клина сопряжена с отражающей гранью со светоделительным покрытием 4 ромбической призмы 3, а ребро его перпендикулярно ее главному сечению, призму .6 БКРО.Устройство работает следующим образом.При отсутствии контролируемой плоскопараллельной пластины 7 на предметном столике 2 в центре поля зрения автоколлиматора 1 наблюдается один яркий блик, например, в виде перекрестия, пред ставляющий собой изображение марки.Контролируемую плоскопараллельную пластину 7 (прозрачную или непрозрачную)...

Номер патента: 568990

Опубликовано: 15.08.1977

Авторы: Благов, Гурин, Савельев, Чефранов, Чувпило

МПК: H01M 6/00

Метки: источника, пластин, последовательно, сборки, секторных, соединенных, химического, цепочки, элементов

...ограничитель, выполненный в видеспиральной перемычки.На фиг. 1 изображено описываемое устройство; на фиг. 2 - то же, вид сверху.Устройство содержит матрицу 1, выполненную в виде стакана, внутри которой расположены составной шток 2 и пружины 3 и 4.Конец штока расположен в катушке электромагнита 5. Шток 2 имеет внутреннюю полостьА, сообщающуюся с его верхней опорной поверхностью щелевым спиральным пазом а.В матрице 1 выполнен паз б с углублением вдля укладки собираемых деталей. Кроме того, в матрице установлен неподвижный стержень б с опорной шайбой 7 и упором 8.штоке 2 расположены спиральная перемыч9 и ориентирующие штыри 10,Устройство работает следующим образом.Собираемые пластины укладываются впазы б и в и ориентируются шайбой 7,...

Номер патента: 1770730

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Авгуцевич, Григулис, Порис

МПК: G01B 5/28

Метки: геометрических, параметров, пластин

...в области опорных точек и вне их для контролируемой пластины судят о ее неплоскостности.Известно устройство, содержащее базовую поверхность с набором выступающих опорных элементов для полупроводниковых пластин, которые при наличии отсчетного узла и блока индикации служит для контроля параметров /3/.Недостатком известного устройства является то, что в нем не достигается необходимая точность из-за неопределенности расположения пластины на множестве опорных шариков.Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому устройству, реализующему способ, является устройство для контроля геометрических параметров пластин прототип /4/), содержащее базовую поверхность с тремя выступающими опорными элементами и отсчетный узел, выполненный в...

Номер патента: 779937

Опубликовано: 15.11.1980

Авторы: Ахманаев, Левдикова, Медведев

МПК: G01R 31/00

Метки: камера, параметров, пластин, полупроводниковых

...пластины 10 в еМкостной зазор резонатора.Величина коэффициента включения К 20 определяется соотношением емкостей С, С, С 1, и может быть найдена иэ выражения 1с где С.САНСИ ЕВ т 30 ПСсщ ф 4 Г.бк: -Ср " емкость, обусловленная наличиемнеконтролируемого зазора между полупроводниковой пластиной 10 и торцомстержня 5;С - емкость между выступом 2 и стенкой короткозамкнутого отрезка 1 запредельного волновода; 40С - емкость полупроводниковой пласЮтины 10 под торцом стержня 5;Я - площадь торца стержня 5; йптолщина полупроводниковой пластины10,45Величину К можно определить либо, расчетным путем, либо, эксперименталь йо методом возмущения, измеряя зависимость резонансной частоты резонатора от толщины полупроводниковой плас"тины...

Номер патента: 152002

Опубликовано: 01.01.1962

Авторы: Иванов, Лебедев

МПК: G01R 29/02

Метки: измеритель, импульсов, параметров, передних, последовательностей, фронтов

...с диодом и емкостью и формирующие цепи соединен с осциллографом.Такой измеритель позволяет с помощью простых средств осуществлять измерение фронтов импульсов наносекундной длительности.На чертеже изображен предлагаемый измеритель.Измеритель длительности и формы передних фронтов последовательностей одинаковых импульсов наносекундной длительности выполнен в виде короткозамкнутой с помощью подвижного поршня 1 коаксиальной линии 2. В результате этого из каждого поступающего на ее вход 3 измеряемого импульса формируется короткий вспомогательный импульс. Амплитуда этого вспомогательного импульса равна мгновенной амплитуде той части измеряемого фронта, которая совпадает по времени с моментом возвращения на вход 3 линии 2 отраженного от ее...