Способ определения диэлектрических характеристик веществ
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 335590
Автор: Романенко
Текст
Союз Советскив Социалистических РеспубликКомитет по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССРУДК 551.508,7(088.8) Авторизобретения аявител СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИ ХАРАКТЕРИСТИК ВЕЩЕСТВхаракнтрации частоты колеба- диэлек- вещест- овыше 1Изобретение относится к элсктрическим измерениям диэлектрических характеристик веществ с помощью включенных в резонансные системы диэлектрических датчиков, параметры которых являются функцией анализируемых или контролируемых сред.Известны способы определения диэлектрических характеристик веществ по частоте резонансного контура, в который включен диэлектрический датчик с контролируемым веществом. Однако в условиях комплексного изменения электрических параметров контролируемого вещества этп способы пс обеспечивают требуемой точности измерений.Предлагаемый способ характеризуется повышенной точностью измерений. Он отличается тем, что после измерения частоты резонансного контура изменяют его добротность на заданную величину, вновь измеряют резонансную частоту, установившуюся в результате изменения добротности, и по значениям измеренных частот и изменению добротности определяют искомую характеристику контролируемого вещества, пользуясь, например, тарировочными данными.На чертеже приведена принципиальная схема устройства, реализующего данный способ,Датчик С и индуктивность Ь составляют резонансный контур, резонансный режим которого поддерживается генератором Г. Ключ К включенный параллельно калиброванному резистору т, служит для изменения добротности контура на определенную величину. Резонансная частота контура контролируется частото мером Ч.После введения в датчик С пробы контролируемого вещества частотомером Ч измеряют резонансную частоту контура 1., С. Затем ключом К замыкают или размыкают резистор 0 г, в результате чего добротность контура изменяется на заданную величину, и вновь измеряют резонансную частоту. Искомую характеристику контролируемого вещества определяют по изменению добротности и измерсн ным частотам, используя, например, тарпровочпые данные.Для измерений в заданном диапазоне частот контур на этот диапазон настраивают при помощи, например, конденсатора перемен ной емкости. Предмет изобретени Способ определения диэлектрических-еристик веществ, например, конце взвеценных наносов, путем измерения работающего в резонансном режиме ельного контура, в который включен трический датчик с контролируемым вом, отличающийся тем, что, с целью пРедактор Б. Федотов Заказ 1284/16 Изд.489 Тираж 448 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 45 Типография, пр. Сапунова, 2 ния точности измерений, после измерения частоты контура изменяют его добротность на заданную величину, вновь измеряют резонансную частоту контура и по изменению добротности и полученным частотам определяют искомую характеристику контролируемого вещества, пользуясь, например, тарировочными данными.
СмотретьЗаявка
1141431
Ю. М. Романенко
МПК / Метки
МПК: G01N 27/02, G01R 27/26
Метки: веществ, диэлектрических, характеристик
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-335590-sposob-opredeleniya-diehlektricheskikh-kharakteristik-veshhestv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения диэлектрических характеристик веществ</a>
Предыдущий патент: Способ термоэлектрического контроля
Следующий патент: Электроискровая головка к устройству
Случайный патент: Приспособление для настрачивания отделочной полосы с одновременным втачиванием кантов на деталях швейных изделий