Способ измерения сечения перезарядкиионовпервичных
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 303742
Авторы: Николейшвили, Чкуасели
Текст
303742 Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства М МПК Н 05 т 5/ОО Заявлено 09.Ъ,1968 (Ло 1231813/26-25) Комитет по делам обретений и открытий ри Совете Министров СССРДК 621.384.6(088.8 летень М 1 ата опубликования описания 14 Х 1.1971 Авторыизобретен Д Николеишвил Чкуасели вител ПОС РЕЗАРЯДКИ ПЕРВИЧНЫХ МЕРЕ ОВ меньшает эне гию п цику эксперимента и у р ергичцых ионов.Предложенный способ позволяет снизить эцергшо первичных ионов до тепловой - 0,2 эв.,1 анный способ измерения сечения перезарядки отличается от известных тем, что сечение перезарядки определяют по регистрации нейтральной компоненты взаимодействующих частиц. Атомарный пучок скрещивается сионцым пучком под углом 90. Те атомы атомарного пучка, которые в результате перезарядки приобретают электрический заряд, удерживаются магнитным полем и учитываются при измерении интенсивности атомарного пучка, Такое же количество частиц из ионного пучка превратится в нейтралы. Таким образом, измерение ослабления атомарного пучка эквивалентно измерению тока вторичных ионов, Следовательно, если измерить ток или концецтрацгпо перви шых ионов, интенсивность атомарного пучка до и после скрещивания с ионным пучком и длину взаимодействия, то однозначно определится интегральное сечение перезарядки в зависимости от энерпцт первичных ионов. Ионный магнитное ловых линпнем двия рисоединением заявки чеисритетубликовано 13,Ъ.1971, Бю Изобретение относится к физике элементарных процессов.Известны способы измерения сечения перезарядки, например способ совмещенных пучков, заключающимся в следующем. Первич ные и возникающие в результате перезарядки вторичные ионы ускоряются до определенной энергии и анализируются по скоростям. При взаимодействии медленных первичных ионов с атомами газа увеличивается вероят ность орбитальных столкновений с образованием квазимолекул по схеме:А+ АА +А-А+А + А+ 15 неупругое столкновение перезарядка Считается, что оба процесса равновероятны. В случае медленных ионов орбитальные столкновения могут являться источником 20 ошибок. Кроме того, источником ошибки может быть потеря ионов при их повторном ускорении и фокусировке из-за несовершенства оптической системы. -ижний предел энергии первичных ионов, достигнутый способом сов мещенцых пучков, 2 - 3 эв. Характерной особенностью известных способов является то, что сечение перезарядки, определяется только по регистрации заряженной компоненты взаимодействующих частиц, что усложняет тех пучок помещается в продольное поле соленоида, направление сией которого совпадает с направлеения ионов,303742 Предмет изобретения Составитель В, Андрюков Редактор Т. 3. Орловская Техред А. А. Камышникова Корректор В. И. ЖолудеваЗаказ 1750 у 12 Изд. Мо 728 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 Способ измерения сечения перезарядки первичных ионов на нейтральных атомах, основанный на измерении спектра скоростей совмещенных в магнитном поле пучков первичных и вторичных ионов, отличающийся тем,что, с целью повышения точности измерений и расширения области энергии первичных ионов, определяют интенсивность атомарного пучка до и после скрещивания с ионным пуч ком и по ослаблению атомарного пучка определяют сечение перезарядки,
СмотретьЗаявка
1231813
Д. В. Чкуасели, У. Д. Николейшвили
МПК / Метки
МПК: H05H 5/00
Метки: перезарядкиионовпервичных, сечения
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-303742-sposob-izmereniya-secheniya-perezaryadkiionovpervichnykh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения сечения перезарядкиионовпервичных</a>
Предыдущий патент: Низкотемпературная рентгеновская камера
Следующий патент: Устройство для измерения фазового объема пучка заряженных частиц
Случайный патент: Полуприцеп-хлопковоз