Способ рентгенорадиометрического аналглк: но-4; хlt; lt; «: ; -кдя1о-
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 296987
Авторы: Всесоюзный, Проектный, Слуцкий, Ходжаев
Текст
О П И С А Н И Е 296987изоБретенияК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 271970 ( 1422133/26-25)с присоединением заявкйМНК б 01 п 23/02 нор итет Комитет ло делам обретений и открыт ри Соеете Министре СССР,Заявитель Всесоюзный научно-исследовательский и проектный институ механической обработки полезных ископаемых.8СБЛИО ПОСОБ РЕНТГЕНОРАДИОМЕТРИЧЕСКОГО АН ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА ВЕЩЕСТВА Известенанализа элеванный катеристическэлемента иследуемых способ рентгенорадиомет ментного состава вещест измерениях интенсивности ого излучения анализ обратного бета-рассеян проб. еского осно- харакуем ого от исСогласно настоящему способу концентрацию химического элемента в веществе определяют по результатам измерений двух величин: интенсивности характеристического излучения анализируемого вещества и интенсивности обратного бета-рассеяния от анализируемого элемента с помощью предварительно построенной градуировочной палетки. Это повышает точность и экспрессность анализа.Для построения палетки подбирают или ,изготовляют эталонные пробы с известной концентрацией анализируемого 1 элемента и с наполнителем различного состава. Свойства наполнителя, характеризующие его влияние на интенсивность характеристического излучения и обратного бета-рассеяния, т. е. массовый коэффициент поглощения и эффективный атомный номер, в эталонных пробах должны изменяться в пределах, совпадающих с пределами их возможного изменения в совокупности вещества, подлежащих анализу.Для эталонных проб измеряют указанные выше интенсивности излучений. Затем на плоскости, где одной координатой служит кон.центрация анализируемого элемента, а другой - интенсивность его характеристического излучения, отмечают точки, соответствующие 5 одному и тому же значению .интенсивностиобратного бета-рассеяния, и проводят линию, проходящую посередине получившегося мно.жества точек. Такие линии проводят для различных значений интенсивности обратного бе- О та-рассеяния и помечают ее значениями.Чтобы определить концентрацию, нужно из.мерить для пробы интенсивность обратного бета-рассеяния и характеристического излучения, найти на палетке линию, помеченную значением интенсивности обратного бета-рассеяния, равным измеренному значению, и отыскать на этой линии точку, в которой интенсивность характеристического излучения имеет значение, равное .измеренному для пробы. О Значение концентрации в этой точке дает искомое значение концентрации в пробе, Если линия, соответствующая измеренному значению обратного бета-рассеяния, не нанесена на палетку, следует провести интерполяцию.5 Палетку можно строить и в координатахинтенсивность обратного бета-рассеяния концентрация анализируемого элемента, Тогда на нее наносят средние линии множества точек с одинаковыми значениями интензо сивности характеристического излучения. Это296987 Составитель Е. И, .ШульгинТехред Л, Л, Евдонов Корректор О. С, Зайцева Редактор Б, Б. федотов Заказ 1125/4 Изд. Юф 486 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 может облегчить отсчеты за счет иного соотношения геометрических размеров палетки.Палетку, построенную при одинаковых условиях облучения и измерения, можно использовать и при других условиях. Для этого нужно измерить и зафиксировать интенсивности излучений для контрольного образца и промерять этот образец при построении палетки и анализах. При этом для построения палетки и отсчетов по ней нужно использовать не измеренные значения интенсивностей излучений для пробы, а их приведенные значения, получаемые умножением измеренных значений на коэффициент, равный отношению зафиксированной интенсивности соответствующего вторичного излучения от контрольного образца к его интенсивности в условиях, когда обмерялась данная эталонная или анилизируемая проба. Это расширяет область применения методов экспрессанализа.Предмет,изобретения1. Способ рентгенорадиометрического анализа элементного состава вещества, основан 4ный на измерениях интенсивности характеристического излучения анализируемого элемента и интенсивности обратного бета-рассеяния от исследуемых проб, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и экспрессности анализа, строят градуировочную палетку, представляющую собой семейство кривых зависимости интенсивности характеристического излучения анализируемого элемента 10 от его концентрации при различных фиксированных значениях интенсивности обратного бета-рассеяния, измеряют интенсивности характеристического излучения и обратного бета-рассеяния в анализируемой пробе и опре деляют искомую концентрацию анализируе.мого элемента. 2. Способ по п. 1, отличающийся тем, чтопалетку строят в виде семейства кривых за.2 О висимости интенсивности обратного бета-рассеяния от концентрации анализируемого элемента при различных фиксированных значениях .интенсивности характеристического излучения.
СмотретьЗаявка
1422133
М. А. Слуцкий, К. Ш. Ходжаев, Всесоюзный научно исследовательский, проектный институт механической обработки полезных ископаемых
МПК / Метки
МПК: G01N 23/02
Метки: аналглк, кдя1о, но-4, рентгенорадиометрического, хlt
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-296987-sposob-rentgenoradiometricheskogo-analglk-no-4-khlt-lt-kdya1o.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ рентгенорадиометрического аналглк: но-4; хlt; lt; «: ; -кдя1о-</a>
Предыдущий патент: Способ лабораторного исследования качества полуфабриката при производстве бумаги
Следующий патент: Пьезокварцевый адсорбционный датчик влажностигазов
Случайный патент: Предохранительное устройство для самовсасывающего центробежного насоса