Электродинамический вибростенд

Номер патента: 1753392

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Водянова, Грук, Коркудинова

МПК: G01N 27/83, G01N 27/85

Метки: величины, магнитного, образца, оценки, поля, рассеяния

...низкая информативностькачества термической обработки исследуемого образца,Цель изобретения - повышение информативности результатов испытания качества термической обработки протяженного исследуемого образца.Указанная цель достигается путем размещения измерительной и полесоздающей катушек на противоположных торцах протяженного исследуемого образца.Способ испытания магнитных материалов осуществляется следующим образом.Измерительйая и полесоздающая катушки устанавливаются раздельно на противоположных торцах протяженного исследуемого образца, Полесоздающая катушка подключается к источнику постоянного тока через коммутатор, Измерительная катушка подключается к веберметру, При прерывании или изменении направления намагничивающего постоянного...

Номер патента: 139135

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Бутузов, Кашуба, Маркелов, Окладнов, Тамарин

МПК: G01N 27/72, G06K 13/18, G06K 7/08

Метки: воспроизведения, изображения, магнитных, осциллографа, полей, рассеяния, экране

...магнитная головка, подключенная к осциллографу, и лентопротяжного механизма 2, поворотного в плоскости движения ленты 3,При проведении магнитографической дефектоскопии сварных швов лента 3 протягивается в направлении 4 - 4 и в направлении 5 - 5, бла. годаря чему улавливаются дефекты любой орнснтации. Для исследования направленности обнаруженного дефекта механизм 2 выключается и угол между осью направления протяжки ленты 3 и плоскостью рабочей щели головки плавно изменяется, например до полохкения 6 - 6 Максимальный сигнал, получающийся на экране осциллографа, свидетельствует о совпадении направления шсли головки с осью дефекта Амплитуда этого сигнала характеризует размер обнаруженного дефекта по глубине, а протяженность зоны...

Номер патента: 920590

Опубликовано: 15.04.1982

Авторы: Горбаш, Зацепин, Кожаринов

МПК: G01R 33/02

Метки: магнитных, полей, рассеяния, регистрации

....поля рассеяния. Иагниточувствительный элемент (Феррозонд) 1, закрепленный в наконечнике 2, поме 25 щают над пластинами 4 и, используя микровинты 3, передвигают пластины 4 и получают на регистраторе 8 максимальный сигнал, прошедший через уси литель 7, По величине полученного сигнала судят о величине магнитного30 поля рассеяния. Повышение чувствительности в данном случае достигается за счет своего рода концентрации магнитного поля рассеяния в ферромагнитных пластинах 4, выполненных из магнитомягкого материала с большой магнитной проницаемостью, причем степень концентрации магнитных силовых линий в пластинах 4 зависит от расположения пластин относительно друг друга, магниточувствительного элемента 1, источника магнитного поля рассеяния...

Номер патента: 1390583

Опубликовано: 23.04.1988

Авторы: Горбаш, Кожаринов, Кожаринова, Шилак

МПК: G01R 33/02

Метки: магнитных, полей, рассеяния, регистрации

...поле рассеяниядефекта 6), помещают верхнюю частьпластин 3 в магнитное поле соленоида 4,в котором изменяют ток подмагничивания с прмощью блока 7 питания ификсируют с помощью блока 8 измерениякривую зависимость сигнала МЧЭ 1 от35тока подмагничивания соленоида 4(фиг.2), Поскольку магнитная прони"цаемость р пластины 3 иэ магнитомягкого материала очень сильно и вшироких пределах зависит от поля подмагничивания, вызванного как магнитным полем рассеяния дефектов, таки магнитным полем соленоида 4, тои ход кривой зависимости сигнала МЧЭ451 от тока подмагничивания соленоида 4 будет для дефекта 6 с различнойгеометрией различным. Причем начальное положение кривой по оси ординат(фиг. 2) в основном определяется шириной дефекта (экспериментальные...

Номер патента: 1675808

Опубликовано: 07.09.1991

Авторы: Гораздовский, Гостев, Гречинский, Рыгалин

МПК: G01R 33/035

Метки: датчик, дефектом, магнитных, объекта, полей, рассеяния

...фильтра первого порядкаизвестного в теории обработки изображений как фильтр Собеля) приведена на фиг.2 в. При синфазном включении измерительных ОЬ;ток измерение магнитного поляосуществляется с фильтрацией, соответствуюгцей фильтру второго порядка (фильтр 15Лапласа), матрица коэффициентов которогоприведена на фиг. 2 г,Датчик работает следуюьцим образом.Над границами прижоговых пятен намагниченной детали возникает градиент напряженности магнитного поля Нх (фиг, За).При сканировании датчика 1 (фиг, 1),осуществляемом по координатам Х и У по поверхности детали с помощью блока 7сканирования, в измерительных катушках 2 25и 3 датчика 1 наводятся сигналы при пересечении аномальных областей магнитногополя, обусловленных прижоговыми...