Затвор-стяжка

Номер патента: 577499

Опубликовано: 25.10.1977

Авторы: Бражник, Забаринский, Марков, Навасартян, Яковенко

МПК: G01V 3/08, G01V 9/00

Метки: залегания, пластов, скважинах, элементов

...т.е.азимут падения слоев. гоСущность способа поясняется прилагаемымчертежом: а-керн с маркировкой "низ"-"верх";Б- керн с поверхностью напластования, стрелка показывает йаправление падения, 3-ориентировка линии падения по отношению к векторуг 5остаточной намагниченности (папеомагнитномумеридиану): г - ориентировка пинии падения награни кубика горной породы; д - схема осаотношения азимутов,Предлагаемый способ определения элемен тов залегания осуществляется следующим образомНа отобранном из скважины верхнемконце керна обнажают поверхность напластсвания 1 и маркируют на ней искривление падения стрелкой 2, Нельзя путать верх - низ зБкерна, так как в этом случае азимут падения 3 будет обратным, Затем иэ керна выпиливают кубик с...

Номер патента: 111919

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Волков, Гриневич, Шульман

МПК: G03B 7/14, G03B 9/32

Метки: затвора, шторного, элемент

...механизм, выполненный в виде кольца с выступами, которые при его вращении сбивают зацепы, удерживающие шторки, и освобождают их последовательно одну за другой.На фиг. 1 изображен общий вид описываемого устройства; на фиг 2 - устройство в двух проекциях,Элемент управления состоит из двух колец: кольца со шкалой выдержек и кольца со шкалой диафрагм. На кольце шкалы выдержек 1 размещается шкала световых значений 2, указывающая световой поток, проходящий через объектив фотоаппарата за время экспозиции, зависящий одновременно от установленной выдержки времени и степени открытия диафрагмы. Кольцо со шкалой выдержек связано со шторками затвора через спускной механизм, представляющий собой кольцо с выступами 3, которые при вращении кольца...

Номер патента: 121516

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Блох

МПК: G01V 3/04

Метки: залегания, наносами, пластов, скрытых, электрометрического, элементов

...Видимую мошность пласта. аВисимость получаемых В результате таких исследОВяний диаграмм От элементов залегания пластов изображена на фиг. 1.Полевые исследования предлагаемым способом складываются из следующих пяти этапов; выбора местоположения центра установки, выбора вида установки, установления размеров установки для единичных замеров, подготовки планшета для измерений и производства измере. ний.Центр установки должен располагаться в точке максимальных изменений кажущихся сопротивлений, вызываемых пластом. Местоположение этой точки устанавливается по результатам двустороннего электропрофилирования несимметричной установкой 1 дипольной или трех- электродной) - с учетом минимальных искажений вызываемых неровностями земной...

Номер патента: 1018573

Опубликовано: 10.04.1995

Авторы: Григоров, Мартынович, Токарев

МПК: H01S 3/16

Метки: активных, затворов, лазерная, пассивных, среда, элементов

ЛАЗЕРНАЯ СРЕДА ДЛЯ АКТИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ И ПАССИВНЫХ ЗАТВОРОВ на основе монокристалла с центрами окраски, отличающаяся тем, что, с целью повышения устойчивости кристалла к действию оптического излучения и расширения спектрального диапазона, она выполнена на основе монокристалла окиси алюминия.

Номер патента: 65371

Опубликовано: 01.01.1945

Автор: Альпин

МПК: G01V 3/04

Метки: горных, залегания, пластов, пород, элементов

...ость которой остается неиз,енной во всех горизонтальных идп)авлеЩ 51 ХГОРИЗОН ГД:ЬНО ОДН 0 ЭОЛНО 1 среды), ндпп лРр в случае горизонтальо залегания плдс)ов, )Ь= - 0 при,иобсм положении злектродов ЛЙ относительно точки О и и;и лгобых дзиммтдх вздизно пер- Г. Р н дк 551 Я и 1 х и Г 51 3 ы х 4 Й .1 Л .1)и дс статс 51,) зд етнсв падов шщ плдсов разно ть потенциалов 1( вообще говог)я, от;шчнд от нуг;и и судет здзисеть от ориентации установки гЙ.ЧЛ относительно ОсПрдни 5 Псрсд и от пожжения 3,Ркгрэдс Л и Й нд прямой ЛЙ.троизводя замеры д. при разлииьх положениях Л и Й Относиельно середины отрезка .Упри рдз.щииых Ориентациях взаимно и;рпенликулярных направлений ЛЙ и .ЧЛ, можно определить направлен;е пространил и оценить кто". гддсия пород, В...