271992

Номер патента: 849920

Опубликовано: 15.12.1985

Автор: Ковальский

МПК: H01J 27/04

Метки: ионов, источник

...в зоне компенсации пространственного заряда пучка и, следова" тельно, пучок, достигнув минимального поперечного размера, начнет вновь расширяться. Таким образом, в известном источнике ионов можно получить лишь локальное повышение плотности тока. Целью изобретения является повышение плотности ионного тока пуч Эта цель достигается тем, что в источнике ионов, содержащем газоразрядную камеру, включающую термокатод, анод, экранный электрод с экстрагирующим отверстием, средство созданиямагнитного поля в камере и систему ускорения осесимметричного пучкаионов, газоразрядная камера выполненав виде тора прямоугольного сечения, ось симметрии которого совпадает с осью симметрии пучка ионов, экранный электрод совмещен с внутреннейстенкой...

Номер патента: 527640

Опубликовано: 05.09.1976

Авторы: Кундзич, Сподарцов

МПК: G01N 15/02

Метки: анализатор, волокон, длины, суспензии

...Общая длина канала не может бытьбольшой, так как она равна толщине стенки трубки, а электроды нанесены так, что не доходят доканала отверстия,Целью изобретения является повышение точнос 0 ти измерения.Это достигается тем, что.апертурная трубка,являющаяся одним из электродов, покрыта снаружислоем изолятора, в котором выполнено калиброванное отверстие, и подключена к измерительной схе 5 ме, а второй электрод выполнен в виде цилиндра с15 отверстием в боковой поверхности, ось симметрий которого совпадает с осью симметрии в апертурной трубке.Изобретение поясняется чертежом.Анализатор длины волокон в суспензии состоит из емкости 1 с испытуемой суспензией 2, в которую помещена апертурная трубка 3, выполненная из то. копроводящего...

Номер патента: 1562784

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Наумов, Сурков, Трофимова, Чинарев

МПК: G01N 15/08

Метки: заполнения, исследования, пор, процесса

...13, первую ос вилку 15, второй переходный цили 16, упругий элемент 17, вал 18, вый подшипник 19, первую обойму вторую ось 21, второй подшипник вторую обойму 23, шарнир 24, ра весы 25, первый 26 и второй 27 фдатчики, переменные резисторы 28, ис. точник 29 питания, самописец 30, коромысло 31. На чертеже показаны исследуемый образец 32, а также световой пучок 33.Устройство, работает следующим образом,Исследуемый образец 32 предварительно пропитывают импрегнатом, за тем его быстро переносят в сосуд 2 с ,иммерсионной жидкостью 3 и устанавливают,на первой чашке 4. На вторую чашку 5 помещают разновесы 25. Уравновешивают коромысло 31 и переменными 15 резисторами 28 балансируют мостовую схему, в которую включены первый 26 и второй 27 фотодатчики...

Номер патента: 1627326

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Горошко, Ивашко, Карпушин, Олейников

МПК: B22F 7/08

Метки: изделия, металлического, нанесения, плоскую, поверхность, слоя

...роликов 35 и 36, которые получают вращательное движение в результате контакта с деталью, происходит уплотнение покрытия. Под действием избыточного давления Ро поршни 6 и 7, а следовательно, и ролики 35 и 36, перемещаются по штокам 8 и 9 до тех пор, пока зазор Л не станет равным О. В хвостовиках штоков 8 и 9 нарезана резьба. Ответная резьба имеется в уплотнениях 26 и 27, что является необходимым для настройки требуемой величины Лпо шкале 50. Окончание процесса формирования покрытия наступит в тот момент, когда торцовые поверхности поршней 6 и 7 соприкоснутся с обращенными к ним торцовыми поверхностями цилиндрических головок 25. После окончания процесса формирования металлического покрытия выключают индукционную установку, привод...

Номер патента: 1755333

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Коненков, Толстогузов

МПК: H01J 49/42

Метки: анализом, ионов, масс-спектрометр, одновременным, отрицательных, положительных

...режиме уско 15 20 25 40 рождения иона. В этом случае через энергетический фильтр 2 пройдет основная масса 50 падение первичного пучка 10 ионовна образец 3 и осуществить сбор вторичных ионов по нормали к образцу 3, что повышает эффективность и локальность сбора вторичных ионов,На вь 1 ходэх квадрупольного энергетического фильтра 2 устанавливают иммерсионные доухэлементные линзы 4 с рения вторичных ионов. Укаэанные линзы 4 служат для фокусировки вторичных ионов на входную диафрагму диаметром0,58, где Во - радиус окружности, вписанной между вершинами электродов КФМ. После линзы 4 следуют коадрупольные фильтры б масс. На выходах КФМ устанавливаются выходные диафрагмы 7 диаметром и детекторы 8 и 9 ионов для детектирования и регистрации...