Многоэлементный феррозондовый дефектоскоп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 268724
Авторы: Всесоюзный, Пасси, Средств, Чуприн
Текст
О П И С А Н И Е 268724ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 06,Ч.1966 ( 1082478/25-28)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 10.1 Ч.1970. Бюллетень14Дата опубликования описания ЗО.Ч 11.1970 Кл. 42%, 46/03 МПК б 01 пУДК 620.179,142 (088.8) Комитет по делам изобретеиий и открытий при Совете Ьикистров СССРАвторыизобретения С. Х. Пасси и Э, В. Чуприняк Всесоюзный научно-исследовательский институт по разработке неразрушающих методов и средств контроля качества материаловЗаявитель МНОГОЭЛ ЕМЕНТНЫЙ ФЕРРОЗОНДОВЫ Й ДЕФЕКТОСКОП Известен многоэлементный феррозондовый дефектоскоп, содержащий импульсный генератор, феррозондовые датчики и блок обработки информации.Однако известный дефектоскоп имеет сложную конструкцию из-за наличия нескольких каналов токосъема (по числу феррозондов),Предложенный дефектоскоп дополнительно снабжен генераторами возбуждения каждого из зондов, соединенными с источником питания через цепи задержки с различным временем задержки.Такое выполнение позволяет упростить конструкцию дефектоскопа.На чертеже изображена схема предложенного дефектоскопа.Многоэлементный феррозондовый дефектоскоп содержит феррозондовые датчики 1, генераторы 2 возбуждения каждого из феррсзондов, состоящие из конденсатора 3 и переключающего диода 4, блок б обработки информации и цепи б задержки, выполненные на резисторах 7 и конденсаторах 8 и соединенные через ключ 9 с источником питания. Для обеспечения последовательного ударного возбуждения феррозондовых датчиков цепи задержки имеют различное время задержки.Описываемый дефектоскоп работает следующим образом.Ключом 9 подается стартовый импульс на цепи задержки. В этот момент начинаются переходные процессы, вызванные зарядкой конденсаторов 3 и 8, Как только на конденсаторе 3 генератора 2, подключенного в цепи б за держки с наименьшим временем задержки,достигнет напряжения переключения диода 4, на колебательный контур феррозондового датчика 1 поступает импульс разряда конденсатора 3. Г 1 о истечении времени, определяемого 10 временем цепей задержки, последовательносработают генераторы возбуждения феррозондовых датчиков.Время второго и последующего зарядов конденсаторов 3, а следовательно, и частота сле дованпя импульсов зависит от постоянной времени генераторов 2, когорая выбирается одинаковой для всех генераторов. Информация с каждого датчика по одному каналу поступает на блок б обработки информации.20 Описываемый дефектоскоп может быть применен в устройствах с вращающимися датчиками, в которых и генераторы и цепи задержки вращаются вместе с датчиками, тогда передача информации на блок б обработки 25 производится по одному каналу. Предмет изобретенияМногоэлементный феррозондовый дефектоскоп, содержащий источник питания, импульс ный генератор, феррозондовые датчики и блок268724 ставитель И. Кесоян Техред Л. Я. Левин дактор Л. Г. Герасимов аврилова ек аказ 2008/5 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретении и открытий пои Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 45 Типография, пр, Сапунова обработки информации, отличаощийся тем, что, с целью упрощения конструкции, дефектоскоп дополнительно снабжен генераторами возбуждения каждого из зондов, соединенными с источником питания через цепи задержкис различным временем задержки.
СмотретьЗаявка
1082478
С. Пасси, Э. В. Чуприн, Всесоюзный научно исследовательский институт разработке неразрушающих методов, средств контрол качества материалов
МПК / Метки
МПК: G01N 27/87
Метки: дефектоскоп, многоэлементный, феррозондовый
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-268724-mnogoehlementnyjj-ferrozondovyjj-defektoskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Многоэлементный феррозондовый дефектоскоп</a>
Предыдущий патент: Поляриметр автоматический
Следующий патент: Дефектоскоп для контроля изделий методом вихревых токов
Случайный патент: Устройство для контроля линейной плотности волокнистых материалов