Способ исследования параметров электронных

СПИ ИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ 243891 Ввез Вееетекил Социелистическип РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт, свидетельствал. 421, 8/02 965 ( 1013617/26-1 Заявлено 22 Ч с присоедине м заявкиЪПК Ст 013 сДК 621,396,6.0,4 (088.8) Комитет по делам зобретений и открыт при Соеете Министро СССР.19 Авторизобретения Н. Ктитарев Ижевский мотозав аявител СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОННЫХ СХЕМ НИЗКОЙ ЧАСТОТЫ ПРИ КЛИМАТИЧЕСКИХ ВОЗДЕЙСТВИЯХВ промышленной практике часто приходится проводить всестороннее исследование параметров схем с температурночувствительными элементами, например с транзисторами, для определения стабильности выходных контролируемых параметров данных схем в различных климатических условиях. Подобная задача возникает как при разработке и исследовании новых схем, так и при модернизации уже запущенных в серийное производство приборов.Известны способы климатических испытаний, состоящие из многочасовых циклов, согласно которым панель со смонтированной испытуемой схемой или же только одни температурночувствительные элементы, подсоединенные электрически к схеме, помещают в камеру и устанавливают заданную температуру со скоростью 1 - 2 градлшн и длительную (от 0,5 до 4 час) выдержку при заданной температуре. В случае необходимости повторения цикла температурных испытаний (нормальная температура, тепло, холод) в результате изменения, например, параметров проверяемой схемы длительно сушат панель после пребывания при отрицательной температуре во избежание появления инея и влаги.При натурных температурных испытаниях нет практической возможности проводить всестороннее изучение схем данного класса,подбирать оптимальные схемные структуры и оптимальные номиналы элементов, обеспечивающие минимизацию температурной нестабильности, несмотря на большое время, за трачиваемое на эти работы.Предложенный способ позволяет ускоритьпроцесс исследования испытаний. Это достигается тем, что каждый температурночувствительный элемент схемы заменяют тремя тем пературночувствительными элементами, установленными стационарно в камерах нормальной температуры, тепла и холода с фиксированными значениями температур, а температурный цикл - нормальная температура, теп ло, холод - осуществляют поочередным подключением испытуемой схемы к коммутационному устройству соответствующей камеры.При проведении испытаний по предлагаемому способу используют простую коммутацион ную приставку для смены температурночувствительных элементов. Множество температурночувствительных элементов разбивают на три группы. Одну группу помещают в камеру холода, вторую - в камеру тепла, а третью - 25 в камеру или просто помещение с нормальными условиями.Фиксирование изменения каких-либо контролируемых выходных параметров, например коэффициента усиления для транзисторного 30 усилителя, при последовательной коммутацииЗаказ 2448/15 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и огкрытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр, Серова, д. 4 Типография, пр. Сапунова, 2(смене) транзисторов трех групп позволяет получить полную информацию о величине климатической стабильности данной схемы с учетом производственного разброса параметров транзисторов,Для ускоренного проведения исследования параметров вместо весьма длительного и трудоемкого поочередного изменения температуры окружающей среды и сравнения выходных контролируемых параметров схемы при различных климатических условиях проводят поочередное подключение к схеме температурно- чувствительных элементов, например транзисторов, находящихся в различных температурных условиях (в камерах тепла, холода и при нормальной температуре), и сравнение выходных контролируемых параметров схемы при подключении температурночувствительных элементов,Таким образом, предложенный способ обеспечивает ускоренное проведение климатических испытаний благодаря сокращению времени натурного температурного цикла с нескольких часов до нескольких секунд и сводит данный цикл к реакции исследуемой схемы на три коммутационных переключения.Описываемый способ можно широко использовать для сокращения сроков работ по разработке и модернизации устройств с температурночувствительными элементами, например, для всестороннего исследования схем указанного класса, при выборе оптимальных схемных 5 структур или же оптимальных номиналоввходных устанавливаемых параметров по критерию минимизации температурных изменений выходных контролируемых параметров исследуемой схемы. Процесс работы по дан ному способу удобен для автоматизации. Предмет изобретенияСпособ исследования параметров электронных схем низкой частоты при климатических 15 воздействиях путем воздействия температурытолько на температурночувствительные элементы, отличающийся тем, что, с целью ускорения процесса исследований, каждый температурночувствительный элемент схемы заме няют тремя температурночувствительнымиэлементами, каждый из которых установлен стационарно в камерах нормальной температуры, тепла и холода с фиксированными значениями температур, а уоведение схемы в за висимости от температурного воздействия оценивают путем поочередного подключения испытуемой схемы к коммутационному устройству соответствующей камеры.