Антенная система для исследования подстилающей поверхности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ р е, 1е з ать(21) 3886815/24-09 22 15.02.85 обность на попо поперечнойия движенеясодержит двентенные решетные на ЛА 2,янная разрешающая спос стилающей поверхности относительно направле ЛА координате. Система плоские Фазерованные а ки (ФАР) 1, установлен при этом угол Ф между ФАР выбран из соотноше оскостями Ф хп( - -+ ч+3гдера обзоращая спосоверхностидвижения змскс ф ее на край сектоьная разрешаю- подстилающей почной относительно я ЛА координате 90 - ччто дению направлений ФАР 1 с краями аправ Максимал ность на по попере аправлени остигается при Ф = оответствует совпа нормалеи к плоскимполосы обзора, 1 ил е Ъ. ОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(71) Ордена Трудового Красного Знамени главная геофизическая обсерватория им,А.И.Воейкова и Ленинградскийордена Ленина политехнический институт им.М,И.Калинина(54) АНТЕННАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОДСТИЛАЮ 1 ЦЕГ 1 ПОВЕРХНОСТИ(57) Изобретение относится в антенной технике и может быть использовано в системах дистанционного зондирования поверхности с летательногоаппарата (ЛА). Обеспечивается посто,БО 1246197 Ф 2 ь Ф ьз.п -- = соя (30 -- -) зп(30 + 2 61246197 с БНИИПИ Заказ 4010/47 Тираж 597 Подписное Произв,-полигр пр-тие г Ужгороц, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к антенной технике и может быть использовано в системах дистанционного зондирования поверхности с летательного аппарата (ЛА).Цель изобретения - обеспечение постоянной разрешающей способности на подстилающей поверхности по поперечной относительно направления движения ЛА координате.На чертеже представлена схема размещения антенной системы для исследования подстилающей поверхности на ЛА.Антенная система для исследования . подстилающей поверхности содержит две плоские газированные антенные решетки (ФАР) 1, установленные на ЛА 2, при этом угол между плоскостями плоских ФАР выбран из предлагаемого соотношения.Система работает следующим образом.Каждая из плоских ФАР 1 расположена так, чтобы нормали к их плоскостям направлялись на противоположные края сектора обзора (полосы обзора вдоль направления движения ЛА). Ширина луча антенной системы для исследования подстилающей поверхности при отклонении луча от нормали к ее раскрыву определяется соотношением где 8 - ширина луча по уровню полаь 5винной мощности;- рабочая длина волны;Е, - поперечный размер плоскойФАР 1;ф - угол между плоскостями плоских ФАР 1;ч - отклонение луча ат нормалик раскрыву.Тогда разрешающая способность оХ на подстилающей поверхности по поперечной относительна направления двиоржения ЛА координате ь Х =сов ч где К - расстояние до подстилающей поверхности вдоль луча.При возбуждении плоских ФАР 1 и поперечном сканировании луча (например, путем параллельного управления фазавращателями каждой плоской ФАР 1)полоса обзора расположена симметрично относительно надира, причем элементы подстилающей поверхности,5 расположенные на краях полосы обзора,наблюдаются под скользящим углом, арасстояние до них вдоль луча значительно больше, чем до элементов, находящихся непосредственно под ЛА 2.10 Если нормаль к плоскостям плоскихФАР 1 близка к направлению на крайисследуемой полосы то разрешающаяспособностьХ изменяется незначительно. Тогда, если задаться максималь ной разрешающей способностью аХна краях полосы обзора (ч =,),то методом оптимизации получаетсясоотношение для выбора угла Ф междуплоскостями плоских ФАР 1 20 . г Ф г о Ф о2в 3 п- - - = саз (ЗО - ) з 1 п(30 +6 Ф р . Ф3Иаксймальное разрешение лХм.,щ наподстилающей поверхности по поперечной относительно направления движенияЛА координате достигается при Ф =900 - 7 , что соответствует савпадению направлений нормалей к плоским ФАР.1 с краями полосы обзора. Ф а р и у л а и з о б р е.т е н и я Антенная система для исследова ния подстилающей .поверхности, содержащая две плоские фазированные антенные решетки, установленные на летательном аппарате симметрично относительно ега продольной оси, а тл и ч а ю щ а я с я тем, чта, с целью обеспечения постоянной разрешающей способности на подстилающей поверхности по поперечной относительна направления движения летательногоаппарата координате, угол Ф междуплоскостями плоских фазираванных антенных решеток выбран из соотношенияФо Ф. оз 1 п-,- = сов (30 - ) з.п(30 +2 6 Ф. Ф+ " )саззп( + 7 ) 3 маркс макс где ъ ,; направление на край сектораобзора.
СмотретьЗаявка
3886815, 15.02.1985
ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ГЛАВНАЯ ГЕОФИЗИЧЕСКАЯ ОБСЕРВАТОРИЯ ИМ. А. И. ВОЕЙКОВА, ЛЕНИНГРАДСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. М. И. КАЛИНИНА
ВОРОНИН ВИКТОР АЛЕКСАНДРОВИЧ, МЕЛЕНТЬЕВ ВЛАДИМИР ВЛАДИМИРОВИЧ, ПИЛИПЕНКО ВЛАДИМИР КОНСТАНТИНОВИЧ, РАБИНОВИЧ ЮРИЙ ИЗРАИЛЕВИЧ, РЫБАКОВ ЮРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, СМИРНОВ ВИКТОР НИЛОВИЧ, УТРОБИН ОЛЕГ БОРИСОВИЧ, ШАННИКОВ ДМИТРИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01Q 13/10
Метки: антенная, исследования, поверхности, подстилающей
Опубликовано: 23.07.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1246197-antennaya-sistema-dlya-issledovaniya-podstilayushhejj-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Антенная система для исследования подстилающей поверхности</a>
Предыдущий патент: Спиральная антенна
Следующий патент: Складной рефлектор зеркальной антенны
Случайный патент: Устройство для сортирования дисков, обладающих повышенной хрупкостью, по диаметрам