Осветительная установка для подсвета нити на прядильных машинах

Номер патента: 871127

Опубликовано: 07.10.1981

Авторы: Арлиевский, Грамматин

МПК: G02B 21/02

Метки: микрообъектив, отраженного, света

...чертеже представлена оптическая схема микрообъектива для отраженного света. 20Микрообъектив для отраженного све- .та состоит из отрицательного мениска1, обрашенного вогнутостью к объектуи расположенных за ним двухсклеенныхположительных компонентов 2 и 3,разделенных воздушным промежутком.Поверхности 4 и 5 мениска 1 выполненыапланатическими апертурному лучу.Линза б склеенного компонента 2 выполнена в виде положительной двояковыпуклой линзы. Линза 7 склеенного 30компонента 2 выполнена в виде отрицательной линзы, причем поверхность8 - апланатическая апертурному лучу,Склеенный положительный компонент3 включает отрицательную линзу 9 и 35положительную линзу 10. Разность коэффициентов дисперсий стекол 10 и 9равна 31,7.Фронтальный отрицательный...

Номер патента: 40006

Опубликовано: 30.11.1934

Автор: Аршинов

МПК: G02B 21/26

Метки: бинокулярной, лупе, металлографического, микроскопа, объектов, отраженном, разных, рассматривания, свете, столику, сторон, углов

...а также для наблюдения насекомых, расте, ний и других биологических, минералогических, физических, химических и технологических объектов. В настоящее время рекомендуется для данных целей более сложный прибор, сконструированный по типу прибора Брегрера Страуманисом, описанный в Ле 11 зсЬгй Шг, 1 ес 1 ш 1 зс 1 ге РЬузй" 1931,11 а, стр. 577.На чертеже фиг, 1 изображает предлагаемое приспбсоблеиие без подставки;фиг. 2 - видоизмененное устройство приспособления с подставкой и с сферическим сегментом -,протракторщм и фиг. 3 - то же с подставкой в виде шаровой зоны, называемой изобретателем качалкой".Р /Приспособление ,состоит из полу. сфры 1, на экваториальной плоскостй которой сделано полусферическое углубление 2, В дно последн го ввинчен на...

Номер патента: 1017932

Опубликовано: 15.05.1983

Авторы: Борисов, Жерлицын, Лунев, Функ

МПК: G01J 1/04

Метки: источников, оптическая, передачи, света, светочувствительному, элементу

...является наличие сложной механическойцентрирующей системы, которая снижает надежность всей системы,Наиболее близкой по техническойсущности к данному изобретению является оптическая система для передачи 25,снета от йсточников к одному светочувствительному элементу, содержащаяволоконные световоды по числу источников света, кажцый иэ которых соединен с одним из источников со светочувствительным элементом 2 ),Недостатком известного устройстваявляется низкая точность регистрациисигналов от источников, которыйобусловлен тем, что современная технология изготовления светочувствительных элементов не обеспечиваетодинаковой чувствительности по всейповерхности и чувствительность определенного участка светочувствительной поверхности...

Номер патента: 618610

Опубликовано: 05.08.1978

Автор: Боленок

МПК: F21V 7/09

Метки: осветительных, отражатель, приборов, света

...имеюший на ренней поверхности гофры, покрытые миниевой пленкой, размещение которы спечивает заданную кривую силы свет бора.Недостатками этого отражателя яв ся одинаковые отражаюшие свойства и участках его поверхности и трудность чения заданной кривой силы света,Цель изобретения -- получение различных отражающих свойств на различных участках внутренней поверхности отражателя.Эта цель достигается тем, что алюминиевая пленка, покрывающая внутреннюю поверхность отражателя, имеет различную толщину на разных участках поверхности.На чертеже изображен предложенный отр аж атель.Отражатель состоит из основания 1, покрытого слоем эмали 2, алюминиевой пленки 3, нанесенной на слой эмали, и прозрачного закрепляющего слоя 4. Различные по...

Номер патента: 807166

Опубликовано: 23.02.1981

Авторы: Закуренко, Кузьмичев, Приз

МПК: G01N 21/55

Метки: коэффициентаотражения

...пучка излучения и распределение плотности мощности в поперечном сечении пучка) при выполнении условия а ъ Х ЭА где а1минимальный линейный размер, характеризующий неоднородности в распределении плотности потока мощности впоперечном сечении пучка электромагнитного излучения, в котором заключена заметная доля энергии, пе- ф 0реносимая всем пучком, Х - шаг решетки, А - длина волны самой низко-,частотной компоненты в спектре пучка,Предлагаемый способ осуществляетсяследующим образом. 65 Между источником излучения и исследуемым образцом помещают боло- метрическую решетку. Для сведения к минимуму влияния побочных эффектов, вызванных взаимодействием исследуемого образца и электромагнитного излучения (например выброс вещества или...