Зеркально-линзовый объектив

Номер патента: 1244614

Опубликовано: 15.07.1986

Авторы: Кулакова, Пуряев

МПК: G01M 11/00, G02B 27/00

Метки: аберраций, качества, компенсатор, оптических, систем

...обозначения 2 Оо-, расстояние по оптической осимежду первой и второй афокальнымилинзами, 4 - точечный источник светаД - мнимое параксиальное изоб-,(ражение точечного источника построенное компенсатором, Я 4 - расстояниеот первой поверхности компенсаторадо М 5 я - расстояние от последнейн/поверхности компенсатора до .А , цсуммарная толщина компенсатора. ЗОАфокальные мениски 1 и 2 обращены друг к другу вогнутыми поверхностями и установлены на особом расстоянии 4 в друг от друга которое вычисляется по формуле35 толщина по оптйческ:ой оси 4 Опервой линзы,толщина по оптической осивторой линзы,показатель преломления материала первой линзы; 45показатель преломления материала второй линзы,линейное увеличение второйлинзы, равное...

Номер патента: 538320

Опубликовано: 05.12.1976

Авторы: Волкова, Соколов

МПК: G02B 17/08

Метки: зеркально-линзовый, объектив

...и вторичное зеркала и линзовыйкомпенсатор полевых аберраций 2-51,обладают недостаточным качеством изображения по всему полю зрения,Известен также зеркально-линзовыйобъектив, содержащий линзовый компонент, выполненный в виде положительнойлинзы и отрицательного мениска, обращенного вогнутостью к предмету, главноеи дополнительное зеркала и линзовый комрхность котоповерхностью нзового компоа имеет фокусщее 3,5 - 4,5 го компонента, ежду положиьным менискомавляет от 0,8 ия всего объек538320 О Составитель С. Ковринаилиппова Техред А. Демьянова Корректор В, Зорина дактор аказ 5717/27 Тираж 637 БНИИПИ Государственного комитета С по делам изобретений и о 113035, Москва, Ж, РаушПодписноеовета Министров СССткрытийкая наб д. 4/5 филиал ППП...

Номер патента: 1282047

Опубликовано: 07.01.1987

Авторы: Бердинских, Кравченко, Сингатуллин, Соловьев

МПК: G02B 13/26, G02B 17/08, G02B 23/00, G02B 26/10

Метки: зеркально-линзовая, концентрическая, телескопическая

...уменьшить габариты системы, упростить конструкцию и повысить ее жесткость. Размещение выпуклого зеркала перед мениском позволяет совместить промежуточ ное изображение с центральной частью вогнутого зеркала, что дает тройной ход лучей в половине системы до промежуточного изображения. Это в совокупности с выбором показателя преломления материала мениска улучшает аберрационную коррекцию и дает возможность двойного исправления сферической аберрации.55Условием исправления и двойнойкоррекции сферической аберрации с11 Пточностью до 2 -3 являются условныевыполнения мениска 1 с показателем 47 2преломления 1,6 и следующие соотношения;К, - 20 вк Кя - 3 770 в где К - радиус вогнутой поверхности1мениска 1;К - радиус вогнутого зеркала 2;К - радиус...

Номер патента: 1688109

Опубликовано: 30.10.1991

Автор: Семин

МПК: G01B 11/27

Метки: асферической, децентрировки, оптической, поверхности

...оси 1-1 необходимо определение координат еще одной точки оси симметрии асфериче. ской поверхности 5,С этой целью помещают измерительный датчик в положение, при котором тест- объект 2 фокусируется в точку асферической поверхности 5, имеющую наибольшее по модулю значение аберрации нормали, и асферическая поверхность 5 достаточно точно аппроксимируется сферой радиусом, равным сагиттальному радиусу Б асферической поверхности в указанной точке, Узел 4 регистрации измерительного датчика разворачивают в плоскости, образованной осью 1-1 вращения контролируемой поверхности и оптической осью оптической системы 3, При этом значение угла 3 между осью Н и нормалью к плоскости узла 4 регистрации устанавливают из соотношенияхсов/3 = (1 - 2; )...

Номер патента: 248249

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Левин

МПК: G01B 11/30

Метки: зеркальной, оптический, поверхности, прямолинейности

...марки в отсчетный микро скоп, огличагогиггйся тем, что, с целью повышения точности измерения и предотвращения повреждения проверяемой поверхности, оптической системой последовательно проектируют изображение марки на проверяемую поверх- Оность, в промежуточное пространство и с двуПриоритетОпубликовано 10,И 1.1969 Известен оптический способ измерения прямолинейности зеркальной поверхности, при котором используют неподвижно установленную афокальную оборачивающую систему, движущуюся по направляющим измерительную каретку с установленными на ней маркой и отсчетным микроскопом и .оптическую систему для передачи изображения марки в отсчетный микроскоп.Особенностью предлагаемого оптического способа является то, что оптической системой...