Устройство для измерения толщины слоя
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 182338
Автор: Пронин
Текст
Союз Советских Социалистических РеспубликО П И С А Н И Е 182338ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 15.1 Ч,1965 ( 1005739/25-28) Кл, 421 т, 12/03 с присоединением заявкиПриоритет Комитет по делам изобретений и открытий пои Совете Министров СССРМПК 6 01 Ь УДК 681.2.083,8:621.3, .011,4-531.717,11 (088.8) Опубликовано 25,Ч,1966, Бюллетень11Дата опубликования описания 22.И 1.19 бб УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЯ МЕТАЛЛИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ20 Предмет изобретения Известны устройства для контроля и измерения толщины металлического слоя, нанесенного на металлические основания (пластины, проволоку), в которых применен емкостной способ измерения. Такие устройства содержат емкостной датчик, высокочастотный генератор и индикатор. Однако их нельзя применить для непрерывного измерения при нанесении металлических слоев на изделия различной формы в вакууме методом вакуумной металлизации.Предлагаемое устройство в отличие от известных позволяет производить непрерывные измерения толщины наносимого слоя непосредственно в вакууме. Это достигается благодаря тому, что оно снабжено электродвигателем переменного тока, а датчик выполнен в виде установленного на валу ротора электродвигателя обтюратора. Последний является подвижным электродом, в качестве неподвижного электрода используется контрольная пластинка, на поверхность которой напыляется измеряемый слой металла. На чертеже представлена принципиальная схема устройства.Датчик устройства представляет собой конденсатор, состоящий,из,контрольной пластины 1, на которую в процессе напыления осаждается слой металла, и диска-обтюратора 2,установленного,на валу якоря электродвигателя 3.В процессе работы датчика измеряетсяэквивалентное емкостное сопротивление конденсатора, образованного обтюратором 2 и контрольной пластиной 1 на частоте ВЧ-генератора 4, стабилизированного кварцем. Частота генератора - около 50 кги. Отсчет производится непосредственно по шкале измери тельного индикаторного прибора 5 в микронах, Перед началом измерений при помощи микрометрического винта между контрольной пластиной 1 и обтюратором 2 устанавливается определенный зазор, соответствующий 15 выбранному диапазону измерений.Устройство предназначено для измеренийтолщины от микрона до нескольких миллиметров. Устройство для измерения толщины слояметаллического покрытия, содержащее емкостной датчик толщины покрытия с непод вижным электродом, высокочастотный генератор и индикатор, отличающееся тем, что, с целью непрерывного измерения толщины слоя покрытия при напылении его в вакууме, оно снабжено электродвигателем переменного 30 тока, а датчик выполнен в виде установленЗаказ 1939/1 О Тираж 1100 Формат бум, 60 Х 90/8 Объем 0,13 изд. л. ПодписноеЦНИИПИ Комигета по д лам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр, Серова, д. 4 Типография, пр. Сапунова, 2 ного на валу ротора электродвигателя дискаобтюратора, являющегося подвижным электродом, и контрольной пластинки (неподвижный электрод), на поверхность которой напыляется измеряемый слой металла, а в непосредственной близости от этой пластинки устанавливается объект, на который напыляется металлическое покрытие.
СмотретьЗаявка
1005739
Е. Д. Пронин
МПК / Метки
МПК: G01B 7/06
Опубликовано: 01.01.1966
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-182338-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-tolshhiny-sloya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения толщины слоя</a>
Предыдущий патент: 182337
Следующий патент: Способ измерения толщинб1 и скорости нанесения пленок
Случайный патент: Устройство для измерения расстояний