Устройство для определения плотности в разреженных молекулярных пучках
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 181868
Авторы: Балаков, Богдановский, Малахов
Текст
СО 1 сз Ссветсиих Ссциалистичесиии РеспублииЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 07,Х,1963 ( 859883/26-25)с присоединением заявкиПриоритет Кл. 42 г, 3/09 МПК 6 01 г 1 Комитет по делам изобретений и отирытн при Совете Министров СССРК 539.198(088.8) публиковано 21,1 тг.1966. Бюллетень10ата опубликования описания 27.1 г 1,19 бб Авторыизобретен Н, Малахов, Г. А. Богдановский и А. В. Балако явитель СТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОТНОСТИВ РАЗРЕЖЕННЫХ МОЛЕКУЛЯРНЫХ ПУЧКАХ торого подается на гальванометр 7 или усилитель постоянного тока. Диафрагмы размещены в фокальной плоскости линзы и в плоскости изображения. Соосно с диафрагмой 4 расположена заслонка 8, поглощающая прямой пучок. Вследствие того, что заслонка и диафрагма 4 расположены в фокальной плоскости линзы, они пропускают электроны, рассеянные в диапазоне угловг Йя., = агсЬу - ,У а 1 - агсЬу -Угде / - фокусное расстояние линзы, а радиусы заслонки и диафрагмы. Лока приема отклоненных электронов в на нии оптической оси системы обесп диафрагмой, расположенной в плоско бражения линзы. гий - льность правлеечивают сти изо 20 Устроиство для определения плотности вразреженных молекулярных пучках, состоящее из Осветительной системы и приемной части, содержащей коллектор электронов и вторичные приборы, отличи 1 ощееся тем, что, с целью локального определения плотности в молекулярном пучке, приемная часть содер- О жит две диафрагмы, расположенные в фоИзвестные устроиства для определения плотности в разреженных молекулярных пучках содержат осветительную систему, снабженную электронной пушкой, и приемную часть, содержащую коллектор электронов и вторичные приборы, Однако эти устройства не позволяют проводить локальное определение плотности В з 10 лскулярных пучках,Особенность описьваемого устройства заключается в том, что приемная часть снабжена двумя диафрагмами, расположенными в фокальной плоскости и в плоскости изображения, и заслонкой, расположенной на оси оптической части и поглощающей первичный пучок.Для изучения локальной плотности обьекта линзы вместе с системой диафрагм и коллектором перемещают вдоль оптической оси, последовательно передавая информацию о плотности молекул в различных участках объекта.На чертеже изображено описываемое устройство. Для получения информации о локальном распределении плотности в обьекте используют тонкий электронный зонд, сформированный осветительнои системой, состоящей из пушки 1 и конденсора 2. Отклоненные электроны и прямой пучок попадают в приемную часть, состоящую из линзы 3, диафрагм 4 и б и коллектора б электронов, сигнал с коПредмет изобретенияаказ 1520/12 Тираж 1175 Формат бум, 60 Х 90/а Объем 0,1 изд. л. Подписно ЦНИИПИ Комитета по делам изооретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4ография, пр. Сапунова кальной плоскости линзы и в плоскости изображения, и заслонку, расположенную на оси оптической части и поглощающую первичныйпучок.
СмотретьЗаявка
859883
Л. Н. Малахов, Г. А. Богдановский, А. В. Балаков
МПК / Метки
МПК: G01N 9/24
Метки: молекулярных, плотности, пучках, разреженных
Опубликовано: 01.01.1966
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-181868-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-plotnosti-v-razrezhennykh-molekulyarnykh-puchkakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения плотности в разреженных молекулярных пучках</a>
Предыдущий патент: Частотный неконтактный кондуктометрический
Следующий патент: Денситометр для определения содержания белковых фракций
Случайный патент: Способ получения диалкиловых эфиров дифторфумаровой и дифтормалеиновой кислот