Пакет для молочных продуктов

Номер патента: 345352

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Щукин

МПК: G01B 9/02

Метки: детали, интерферометр, переносной, поверхности, формы

...стекло в виде сетки в системе прямоугольных координат.Для повышения точности контроля в качестве источника света осветительнои системы применен источник холодного свечения,На контрольном стекле выполнена сетка всистеме прямоугольных координат заданной5 толщины (5 - 7 мк) на основе смол и нитролаков, которая играет роль контактной прокладки и предохраняет стекло от повреждения. На него можно укладывать детали партиями. Смола и нитролаки обеспечивают дли 10 тельную работу, а также при надобности ихможно легко смыть ацетоном или спиртом инанести новые.На фиг. 1 схематично изображен предлагаемый пнтерферометр, общий вид; на фиг. 2 -15 вид сбоку.Интсрферометр содержит корпус 1, диафрагму 2, полупрозрачное плоское зеркало 3,установленное...

Номер патента: 823848

Опубликовано: 23.04.1981

Автор: Литвиненко

МПК: G01B 9/023

Метки: поверхностей, формы

...через неподвижиую точкуслед НИ самопересечения образцовой уповерхности в исходном к повернутомее положениях.Способ ейтроля Формы повщисноатейосуществляется следующим образом.Собирают обычную схему контроляФормы поверхности методом голограФической интерФерометраа (Фиг. 1).Рассмотрим случай контроля цилиндрической поверхностиВолновой Фронт сФормированиыйконтролируемым объектом 1, сравнивается с образцоввая вояиовым Фронтом,восстановленным с голограммн 2 опор"ным пучком 3. При этом, если волно.вые Фронты (контрояируеыый и образ:,цовый) близки по Формеони интер Ферируют и наблюдатель 4 Фиксирует интерФеренционную картину (Фиг. 2 а).ИнтерФеренционные полосы характе ризуют отклонения Формы контролируемой поверхности от образцовой. Если на...

Номер патента: 868345

Опубликовано: 30.09.1981

Автор: Маслов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: двухлучевой, интерферометр, поверхности, формы

...выходящий из коллиматора 2, падает на одну иэ поверхностей оптического светоделительного элемента 3 (призмы), проходит до эталонной поверхности 4, где разделяется на два волновых фронта, один из которых (опорный) отражается от эталонной поверхности 4, а второй (рабочий) проходит через линейчатую структуру растра 5,и достигает конролируемой поверхности 8, Лучи, формирующие эталонный волновой фронт (опорные), отражаются от поверхности 4 без усиления или ослабления на линейной структуре растра 5. Из прошедших лучей (рабочих) до контролируемой поверхности 8 доходят лишь те, которые приходятся на светлые промежутки между полосами растра. Отразившись от контролируемой поверхности, рабочие лучи отражаются в воздушном промежутке между...

Номер патента: 938008

Опубликовано: 23.06.1982

Авторы: Казак, Чебакова

МПК: G01B 11/25, G01B 9/021

Метки: детали, отклонения, поверхности, формы

...точек в заданном сечении поверхности, ню при условии обязательного определения расстояч ф ния от точечных источников до даннои точки контролируемой поверхности 23 .Однако такое определение требует привлечения специальных методов и приспособлений для измерения расстояний между точками. Кроме того, оп- в ределение расстояния от ъочечных источников до базовых точек детали, всегда осуществляется с некоторой погрешностью, равной сумме погрешности собственно измерения расстоя- ы ния и погрешности задания базовых точек. Это обстоятельство снижает точность контроля отклонения Формы 4детали, Необходимость определениярасстояния от точечных источников добазовых точек также снижает производительность контроля отклоненияФормы.Низкие точность и...

Номер патента: 987378

Опубликовано: 07.01.1983

Автор: Комраков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы

...(фиг, 3), отражающая поверхность зеркала 5 вогнутая сферическая, при контроле выпуклой гиперболической 50 поверхности (фиг. 2).Интерферометр работает следующим образом.Излучение лазера 1 проходит микро- объектив 2, светоделитель 3 и фокусируется объективом 4 в точку на поверхности со светоделительным покрытием центральной эоны зеркала 5. Часть излучения отражается светоделительным покрытием зеркала 5 в обратном направлении и представляет собой волновой фронт сравнения. Другая часть проходит светоделительное покрытие, отражается от контролируемой поверхности 7 и падает на зеркало 5 по нормалям к его отражающей поверхности. Отражающая поверхностьзеркала 5 возвращает излучение вновьна контролируемую поверхность 7, после отраженич...