Способ анализа диэлектриков
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
)5 6 01 й 23/22 И БРЕТЕНИЯ ПИС ВТ сследова- организактронная дстейна и 5-237. Р 8. Изобретение относится к способам физико-химического анализа состава поверхности твердых тел методом вторичной ионной эмиссии. етения - повышение точноЦель изобрсти анализа.Поставленная цель достигается тем, что, согласно способу, анализа диэлектриков, включающему подготовку образца, облуче-, ние исследуемого образца корпускулярным зондом, удаление заряда с поверхности образца, регистрацию спектра вторичных ионов, по которому судят о концентрации определяемых элементов, подготовку образца исследуемого вещества к анализу проводят путем прессования с электропроводящим порошком. Стекание.заряда происходит за счет взаимодействия первичных . ионов с электропроводящими участками . спрессованного образца. ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕВЕДОМСТВО СССР(71) Самарский филиал Научно-ительского института технологии иции производства двигателей(54) СПОСОБ АНАЛИЗА ДИЭЛЕКТРИКОВ (57) Использование: при физико-химическом анализе составов поверхностей твердых тел методом ионной эмиссии, Сущность изобретения: согласно способу, ведут облучением порошкового диэлектрика корпускулярным зондом на поверхности исследуемого образца, на котором накапливается положительный заряд. Удаление заряда с поверхности образца осуществляется через электропроводящий порошок, предварительно слрессованный с порошком анализируемого диэлектрика. Отток заряда происходит за счет взаимодействия первичных ионов с электропроводящими участками исследуемого диэлектрика, 2 ил,Пример конкретного исполнения. Диэлектрик в виде порошка смешивали в пропорции 1:1 с порошком свинца и спрессовывали в виде таблетки. Для анализа испольэовали масс-спектрометр типа МСМ, работа которого основана на методе вторичной ионной эмиссии, Бомбардировку осуществляли ионами аргона,На фиг,1 и 2 показаны масс-спектры диэлектрика на основе М 90, полученные без примеси электропроводящего порошка свинца и с примесью соответственно. При сравнении их видно, что на фиг.2 масс- спектр имеет лучшие характеристики по разрешению масс, что повышает точность анализа. Использование предложенного способа анализа диэлектриков обеспечивает, по сравнению с существующими способами, следующие преимущества;1800338 У 90 М Составитель В,Титов Тех ред М. Моргентал актор орре К ктоР С.Шекма Тираж Подписное И Государственного комитета по изобретениям и открытиям при 113035. Москва, Ж, Раушская наб 4/5каз 11 ВНИИ КНТ СССР зводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина возможность анализа диэлектриков без конструктивных изменений в приборе;повышение точности анализа,Формула изобретения Способ анализа диэлектриков, включающий подготовку образца, облучение образца корпускулярным зондом, удаление заряда с поверхности образца, регистрацию спектра вторичных ионов, по которому судят о концентрации определяемых элементов, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности способа за счет улучшения разрешения регистрируемого спектра при анализе порошковых диэлектриков, подготовку образца исследуемого вещества к анализу проводят путем прессования с электропроводящим порошком,
СмотретьЗаявка
4923774, 13.02.1991
САМАРСКИЙ ФИЛИАЛ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОГО ИНСТИТУТА ТЕХНОЛОГИИ И ОРГАНИЗАЦИИ ПРОИЗВОДСТВА ДВИГАТЕЛЕЙ
ТИТОВ ВЯЧЕСЛАВ НИКОЛАЕВИЧ, ЕВГРАФОВА НИНА НИКОЛАЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 23/225
Метки: анализа, диэлектриков
Опубликовано: 07.03.1993
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1800338-sposob-analiza-diehlektrikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ анализа диэлектриков</a>
Способ определения удельной поверхности абразивного порошка
Номер патента: 357459
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Глаговский, Лавров, Ройтштейн, Чир
МПК: G01B 7/32
Метки: абразивного, поверхности, порошка, удельной
...величины заряда к весу, по которомусудят о величине удельной поверхности абразивного порошка,Это значительно повышает производительность процесса определения удельной поверхности абразивного порошка как в лабораторных, так и в цеховых условиях.Испытуемый абразивный порошок заряжают в поле коронного разряда с определеннойконцентрацией ионов, которые абсорбируют на 30 и зерен абразивного порошк оверхн уя своб раный заряд, равный Я =Кф 1+2 Е- коэффициент фов диэлектрическтиц зерна;- напряженность электрическо - площадь поверхности части на; рмы частиц проницаемо ь часполя; Затем зерна абразясь в воздушной среджести, поступают в яную со струнным элеям которого судят оХ Я, ячейку вместевзвешивают и опредерен порошка по формвес...
Способ определения удельной поверхности тонкомолотых порошков средней дисперсности
Номер патента: 773493
Опубликовано: 23.10.1980
Авторы: Книппенберг, Корнеев, Соломатов
МПК: G01N 33/38
Метки: дисперсности, поверхности, порошков, средней, тонкомолотых, удельной
...партий.Удельная поверхность каждой партии определяется на приборе ПСХ(ГОСТ 310-60). Полученнье результаты подвергаются статистической обработке с целью получения "истинных" значений удельной поверхности наполнителя,см/г:2 5 - 495, 5, - 770, 5 - 1020, Я 4 1460, 5- 1610.Объемную массу () определяют в г/смЭ уплотнением под нагрузкой 400 кгс/см с выдержкой до условнойтстабилизации деформаций, равной величине сжатия 0,01 мм за 30 мин.Плотность ( ) определяют по ГОСТ 810-бО в г/см . Методом математической статистики устанавливают "истинные" значения объемной массы и плотности наполнителей по каждой партии.Расчет пустотности наполнителей производится по формуле- МП = --- ьНЗкспьериментальные и расчетные данные приведены в табл. 3.На Фиг. 1...
Устройство для измерения удельной поверхности высокодисперсных порошков
Номер патента: 940016
Опубликовано: 30.06.1982
Авторы: Агузумцян, Гегин, Герасимов, Заблоцкая, Костин, Романенко
МПК: G01N 15/08
Метки: высокодисперсных, поверхности, порошков, удельной
...инжектора частицы вокруг этой оси. Так как заряженные час- ,тицы стоемятся по силовым линиям поля,то они полностью собираются в приемной кювете, что значительно уменьшаетпаразитное осаждение частиц вокруготверстия и повышает точность измерения. Величина потенциала игольчатогоэлектрода зависит от расстояния довыходного отверстия и выбираетсяэкспериментально.На чертеже изображена схема устройО ства,Устройство содержит диэлектрический корпус 1 с закрепленными в нем верхним электродом 2 и нижним электродом 3 с выходным отверстием 4, Под выходным отверстием расположен измерительный электрод 5 с приемной кюветой 6, снабженной игольчатым электродом 7. б 4Измерительная емкость 8 и измерительный прибор 9 служат для .измерениязаряда...
Способ автоионного масс-спектро-метрического анализа металлов
Номер патента: 800864
Опубликовано: 30.01.1981
Авторы: Дранова, Ксенофонтов, Кулько, Михайловский
МПК: G01N 27/62
Метки: автоионного, анализа, масс-спектро-метрического, металлов
...вследствие не; 10регулярности испарения синхронизациидесорбирующего и анализирующего импульсов подаваемое импульсное напряжение должно быть заведомо выше порога испарения, чтобы испарение имело 15место в каждом десорбирующем и анализирующем импульсе. При .столь высокихнапряжениях неопределенность Моментаиспарения и величины ускоряющего напряжения растет. При ориентироьании Щже острия таким образом, чтобы кристаллографическая ось плоскости с низкими индексами совпадала с оптической осью масс-спектрометра, за счетодновременности испарения комплексаионов устраняется неопределенностьускоряющего напряжения. Таким об-,разом, для повышения точности и экспрессности анализа необходимо сочетание коллективного испарения с плотноупакованных...
Устройство для анализа образца на скрытую фекальную кровь
Номер патента: 1480777
Опубликовано: 15.05.1989
МПК: G01N 33/48
Метки: анализа, кровь, образца, скрытую, фекальную
...вид сзади; на Фиг. 5 - то же, с поднятой задней заслонкой, вид сзади; на фиг. 6 - заготовка с передней панелью другого типа, внд свру; на фиг7 - пластинка, вид спереди; на фиг. 8 - то же, вид сзади; на Фиг.9-12 "пластинка,которая показывает отрицательную,положительную реакцию анализа и недостоверный результат. 25Устройство для анализа образца" на скрытую Фекальную кровь содержит верхнюю пластину 1 с отверстиями 2, крышку 3, нижнюю пластину 4, промежу точный лист 5, контрольные зоны 6.Устройство работает следующим образом. После открывания крышки Э наносится тонкий мазок фекала на промежуточный лист 5 через одно из отверстий 2. Аналогично наносится второй мазок через другое отверстие 2, Крышка Э закрывается. На контрольные зоны 6...