Информационная карточка

Номер патента: 1693483

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Бендерский, Ржевский, Рупчев

МПК: G01N 21/45

Метки: подложках, показателя, преломления, прозрачных, слоев

...нормальны к зондирующему излучению, Один пучок проходит сквозь исследуемую пленку и подложку, другой - через подложку без пленки,Линия г.рорези перпендикулярна осивращения пластинки, а сама ось вращениялежит в плоскости зондирукгщих пучков. Отъюстированное на бесконечную полосу излучение интерферометра попадает на оптическое приемное устройство 9, электрический сигнал которого подается на один из входов двухкоординатного самописца, Второй вход самописца соединен с потенциометром, напряжение на котором пропорционально углу поворота образца,Включение двигателя разворота пластинки приводит к одновременному изменению напряжения на выходе оптического приемного устройства и напряжения на потенциометре, отсчитывающем угол поворота 25 30 35...

Номер патента: 739383

Опубликовано: 05.06.1980

Авторы: Бандура, Пашкуденко, Прохоров

МПК: G01N 21/46

Метки: оптически, показателя, преломления, прозрачных, слоев

...показателя преломления30 вещества в слое.Недостатком известного способа измерейия показателя преломления является также. и относительно узкий интервал используемых толщин слоев (1-20 мкм).Цель изобретения - получение возможности определения показателя преломления оптически прозрачных слоев с неизвестной толщиной беэ их разрушения и увеличения40 пределов измерений.Поставленная цель достигается тем, что в отличие от известного способа, заключающегося в измерении сдвига между системами интерференционных полос, наблюдаемых в микроинтерферометре определяют при последовательном перемещении плоскости визирования по глубине слоя сдвиг от первой системы интерференционных полос, образованны при помощи пер 50 вой по ходу луча поверхностью слоя,...

Номер патента: 1002829

Опубликовано: 07.03.1983

Авторы: Бандура, Моисеенко, Пашкуденко, Прохоров, Чирков

МПК: G01B 9/02

Метки: оптически, прозрачных, слоев, толщины

...наредуцированной плоскости 13, и для еенаблюдения необходимо переместить фокус объектива 2 от поверхности слоя11 на расстояние, равноес 1о щ еигде д - вертикальное перемещение объектива 2 от появления системы а интерференционных полосдо системы б, мкм;д - геометрическая толщина слоя,мкм;и - показатель преломления слоя.50 д =с 1 лгде д - вертикальное перемещение объ-.2ектива 2 от а до с систем полос мкмд - геометрическая толщина слоя, 55мкм;и - показатель преломления слоя,Решая систему уравнений из двухуказанных соотношений. толщину слоя На фиг. 1 изображена принципиаль 45ная схема устройства, реализующеГопредлагаемый способ; на фиг. 2 вид интерференционной картины, записанный на самописце в виде эгектрических сигналов,Способ...

Номер патента: 66964

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Аршинов

МПК: B44C 1/22

Метки: изображений, пластмассы, прозрачном, слое, художественных

...массы, составляем р, целлофана, зак чающийся тем, ка, последний нан ЕЛОМЛЯЮЩЕГО ВЕЩ пласт примстл рису ДВ 5 1 Р Способ получения художественных изображений, заключающийся в том, что требуемое изображение составляют из пленок двупреломляющего вещества и заключают его между двр 1 я поляропдными пленками, известен.Предлагаемый способ получения художественных изобра;кений в прозрачном слое пластической массы является дальнейшим развитием предложенного ранее способа и отличается от известного тем, что для получения треб емоГО цветного рисунка, последний наносятстВснпо ня пленку двупрелоъЛяощего Вещества путсъ 1 тр 1 ВлегП 51 1 ли гравировяния,ИЗГОтОВлепие худохкестВсппых изобряжс 1 ии сОГлзсО предлаГаемо - го способа производится следующим...

Номер патента: 1772627

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Куренкова, Скрипаль, Усанов, Феклистов

МПК: G01B 21/08

Метки: полупрозрачных, прозрачных, слоев, тонких

...чертежом, на20 котором представлена схема устройства,реализующего предложенный способ измерения толщины прозрачных и полупрозрачных слоев, нанесенных на отражающиеповерхности,25 Устройство содержит предметный столик 1, на котором располагается исследуемая поверхность 2, оптический блок 3,механизм 4 наводки на резкость с визирнойметкой, Б - источник освещения, 6 - прием 30 ная телевизионная камера, монитор 7, пульт8 управления, блок 9 питания устройства,Исследуемая поверхность 1 расположена на Предметном столике 2 таким образом,чтобы измеряемый слой был обращен к обь 35 ективуЗ оптического устройства,. Исследуе-.мая поверхность 1 должна бытьрасположена в поле зрения оптического устройства 3. Наводка на резкость осуществляется...