Способ определения показателя преломления адсорбированной пленки воды на слюде

Номер патента: 737817

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Комраков, Шапочкин

МПК: G01N 21/46

Метки: диэлектрических, интерференционный, переменной, пленок, показателя, преломления, толщины

...того, уточняющим признаком способа является то, что изменение угла падения освещающего пленку пучка осуществляют в плоскости, параллельной ингерференционным полосам в пленке и перпендикулярной ее поверхности.В этом случае наблюдаемое изменение ширины полосы полностью обуславливается изменением угла падения световых лучей на пленку и не требуетсявведения дополнительных поправок, учитывающих проекционные искажения интерференционной полосы.Способ позволяет определить показатель преломления в пленках переменной толщины не измеряя оптическую толщину пленки ни в одной ее точке. Однако, если оптическая тблщина пленки иэвестна в какой-нибудь ее точке с погрешностью не превышакщей величины, соответствующей одному порядку интерференции...

Номер патента: 1514046

Опубликовано: 27.11.1998

Авторы: Жижин, Силин, Сычугов, Яковлев

МПК: G01J 3/18

Метки: дифракционный, ик-спектрометр, исследования, пленок, тонких

Дифракционный ИК-спектрометр для исследования тонких пленок, содержащий оптически связанные источник зондирующего излучения, выполненный в виде преобразователя объемного излучения в поверхностную электромагнитную волну, держатель образца, решеточный диспергирующий элемент, выполненный в виде периодически гофрированного участка на металлизированной плоскости пластины и имеющий период, соответствующий условию отражения Брэгга, и приемник излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и уменьшения габаритов, спектрометр дополнительно содержит коллимирующую и фокусирующую системы, выполненные в виде цилиндрического вогнутого зеркала, через которое оптически связаны источник дозирующего излучения, решеточный диспергирующий...

Номер патента: 107448

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Мировицкий

МПК: G01R 27/06

Метки: волны, коэффициента, наклонном, образец, отражения, падении, прибор

...синфазном и противофазном суммировании отраженного сигнала с сигналом прямого прохождения. Это достигается путем изменения в процессе измерения расстояния между антеннами и образцом. Такой способ весьм а трудоемок и требует высокой квалификации оператора, причем в применяемой аппаратуре расстояние между антеннами и образцом должно быть значительное, чтобы по возможности исключить взаимодействие между антеннами.Предлагаемый способ измерения и построенный на базе его прибор отличается тем, что определение коэффициента отражения от образца производится по величине сигнала, прошедшего через щель между кромкой экрана и поверхностью образца. Таким образом вместо измерения сигнала, регулярно отражаемого от образца, измеряют сигнал,...

Номер патента: 661312

Опубликовано: 05.05.1979

Авторы: Ванюрихин, Демчук

МПК: G01N 21/48

Метки: коэффициента, отражения

...прерываются) секторами 4, 65 12 46, Измеряемый объект 11 при этом установлен в рабочее положение, Световойлуч излучателя 1 делится светоделителем 2 на две компоненты, одна из которых попадает сразу на отражатель 3,а другая - после отражения от измеряемого ббъекта 11. Затем отраженныеотражателем 3 лучи возвращаются к светоделителю 2 и попадают на фотоприемник 12. Амплитуду электрического сигнала на нагрузке фотоприемника можно записать как15,:(З,тггч,-гртчтг,)ь,кгдеРиТ - коэффициенты отражения ипропускания светоделителя 2 соответственно;Ч 1 - коэффициент отражения мате-риала секторов 4, 6;Ч - коэффициент отражения измеряемого объекта 11;1 О - интенсивность луча излучателя 1;б - чувствительность фотоприемника 12;К 1 - коэффициент...

Номер патента: 792106

Опубликовано: 30.12.1980

Авторы: Васильева, Губель, Лейкин, Молочников, Морозов, Шакарян

МПК: G01N 21/43

Метки: внутреннего, нарушенного, отражения, поглощающих, показателя, полного, преломления, сред, элемент

...такого малого промежутка при условии необходимости поворота линз относитдл но полусферы на значительный угол (30 - 40 ) требует точного изготово бления механических устройств перемещения линз и сложной юстировки всего элемента НПВО.Целью изобретения является повышение точности измерения и одновременное упрощение конструкции элемента.Цель достигается тем, что в известном элементе НПВО радиусы кривизны смежных поверхностей линз и полусферы выбраны из условияг =г-(и)4 с 1,где г - радиус кривизны линз;г - радиус кривизны полусферы и -.показа:ель преломлениялинз и полусферы;Зс - ширина воздушного промежутка между линзами и полусферой,Сущность изобретения поясняетсячертежом, на котором представлена оптическая схема элемента НПВО,...