ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических Республикисимое от авт. свидетельстваКл. 42 Ь,Заявлено 19.111.1963 ( 825803/26-10) с присоединением заяв МПК С 024 Государственны и комитет ло делам изобретений и открьпий СССРиоритет бликовацо 26.Х,1964 юллетень20 Да бликования описания 8.1,19 Авторыизобретения Э орниченко и А. И. Беришв саков, Г. К. Макове Заявител ЕФРАКТОМ стинкой 5, ра кулярной штр дая из полови торый угол. 3 5 пое окно кюведиафрагму 8связанный со фотоприемцик Ре ник диф цое перпендилчем кажа ца неко- а прозрачна вторую ой клин 9, щиальцый зделеннои по линии, ихам диафрагмы, пр и пластинки повернут атем свет попадает ц ты б, на объектив 7, 1 далее через штрихов шкалой, ца диффере 10. При заполцеци дуемой жидкостя смещение луча, ч тового потока ца ного фотосопрот чества света, по часть. Последую потоко с помощ тового клина по смещения луча. мет пзобретени ржащии од лельную п ту и диффер личаюигийся ния точности установлень фотоприем ц источластинку, ецциальтем, чтоизмере- штрихо- иком 1. Рефрактометр, соденик света, плоскопарал 5 дифференциальную кювеный фотоприемник, от в нем, с целью повыше ний, до и после кюветы вые диафрагмы, а перед 0 штриховой клин. дгисная группа1 бЗ фр актометры, содержащие один цсточсвета, плоскопараллельную пластинку,ференциальную кювету и дифференциальфотосопротивление, известны. Однако измерения их недостаточно точны.Предлагаемый рефрактометр позволит по. высить точность измерений благодаря тому, что в нем установлены штриховые диафрагмы и штриховой дифференциальный клин, а поле зрения делится на две равные части плоско- параллельной пластинкой, разделенной по линии, перпендикулярной штрихам диафрагм, причем половины пластинки повернуты одна относительно другой на некоторый угол. Эти детали .позволяют преобразовать изменение направления светового луча в изменение интенсивности освещенности фотоприемника и измерять это изменение с помощью штрихового клина.На фиг. 1 изображена принципиальная схема рефрактометра; на фиг. 2 - поле зрения после раздваивающей пластинки при равенстве показателей преломления исследуемой и эталонной проб; ца фиг, 3 - дифференциальный штриховой клин.Луч света от источника 1 через линзы 2 и светофильтр 3 попадает на штриховую диафрагму 4, содержащую прозрачные и непрозрачные параллельные полосы. Далее поле делится пополам плоскопараллельной плаи кювет эталоцпои ц исслеми происходит поперечное то вызывает увеличение свеодну часть дифференциальивления и уменьшение коли- падающего на другую его щее уравнивание световых ью дифференциального све. зволяет судить о величине16591 икайся тем, что штриховой клин в нем выполнен дифференциальным, с двумя рабочими зонами, зависимости увеличения плотности от угла поворота которых противоположно 5 направлены. Фг. 3 Составитель Л. Я, Гойхманонкова техред т. и. Курилко Коррек едактор Л. М. юняева Заказ 3497/4 Тираж 625 Формат бум. 60 ЦНИИПИ Государственного комитета по Москва, Центр, иТипография, пр. Сапуно 2. Рефрактометр по п. 1, отличающийся тем, что в нем плоскопараллельная пластинка разделена на две равные части по линии, перпендикулярной штрихам диафрагм.3. Рефрактометр по пп. 1 и 2, отлачаю 90/в Объем 0,21,изд, л, Цена 5 коп. елим изобретений и открытий СССР Серова, д. 4.

Смотреть

Заявка

825803

Э. Косаков, Г. К. Маковец, Г. А. Дорниченко, А. И. Беришвили

МПК / Метки

МПК: G01N 21/41

Метки: 165915

Опубликовано: 01.01.1964

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-165915-165915.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">165915</a>

Похожие патенты