Дорниченко

Номер патента: 218320

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Дорниченко, Косаков, Маковец

МПК: H01G 5/04, H03C 1/12

Метки: дифференциальный, емкостный, модулятор

...или параллельно.При передвижении электрода 2 в его же плоскости вправо или влево емкость между неподвижными электродами будет меняться в зависимости от величины отклонения электрода 2. Представим теперь, что электрод 2 вышел за пределы электродов 1 вправо или влево, то дальнейшее его продвижение в ту или иную сторону практически не будет отражаться на емкости между электродами 1, т, е, по лучается, что при оптимальной амплитуде ко. лебаний электродов относительно друг друга увеличение этой амплитуды в некоторых пре. делах не влияет на глубину модуляции описанной элементарной ячейки, Предел допустимых отклонений амплитуды от поминальной зависит от выбранного расстояния между отдельными элементарными ячейками емкостного...

Номер патента: 180264

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Дорниченко, Косаков, Маковец

МПК: H01G 5/04, H03C 1/12

Метки: дифференциальный, емкостной, модулятор

...вын из двух частей, расположенных в плоскости и включенных в измерительепь. Такая конструкция позволяет усть собственный потенциал, связанный с ой выхода электронов с поверхности обк модулятора.чертеже изображена схема модулятора.Неподвижный электрод состоит из двух частей 1, 2, выполненных из диэлектрика с высоким диэлектрическим сопротивлением (силикатное стекло, не содержащее щелочных металлов, керамика, некоторые виды пластмасс). На неподвижный электрод наносится в вакууме пленка инертного металла, например платины или золота, методом испарения в виде двух симметричных относительно друг друга сегментов, каждый из которых является отдельным электродом.Подвижный электрод 3 выполнен из фольги какого-либо металла или из пластмассовой...

Номер патента: 165915

Опубликовано: 01.01.1964

Авторы: Беришвили, Дорниченко, Косаков, Маковец

МПК: G01N 21/41

Метки: 165915

...пластинку,ференциальную кювету и дифференциальфотосопротивление, известны. Однако измерения их недостаточно точны.Предлагаемый рефрактометр позволит по. высить точность измерений благодаря тому, что в нем установлены штриховые диафрагмы и штриховой дифференциальный клин, а поле зрения делится на две равные части плоско- параллельной пластинкой, разделенной по линии, перпендикулярной штрихам диафрагм, причем половины пластинки повернуты одна относительно другой на некоторый угол. Эти детали .позволяют преобразовать изменение направления светового луча в изменение интенсивности освещенности фотоприемника и измерять это изменение с помощью штрихового клина.На фиг. 1 изображена принципиальная схема рефрактометра; на фиг. 2...