160887

Союз Совйтских СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИКОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЛ К АВТОРС КОМК СВИДЕТЕЛЬСТВУ Л 160 Ю.гт фттъ МПК 6 01 тп Заявлено 06,1 Ч.1963 (,11% 829-19026-10) ГОСУДАРСТВЕННЫИКОМИТЕТ ПО ДЕЛАМИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙСССР УДК Опубликовано 26.1.1964. Бюллетень ЛЪ 5 Подписная гргггтгта ЛВ 116 Е, Н. Андреева овицкии СОБ ИССЛЕДОВАНИЯ КРИВИЗНЬ ПОВЕРХНОСТЕЙ Способы исследования кривизны поверхцостей известны. По этим способам цепосредствеццым результатом эксперимецта является це распределение кривизны, а распределение углов наклона поверхности. Для получения кривизны по известным спососам возникает цеобходимость дополцительцой обработки (числеццого диффереццироватгия), которая требует значительной затраты труда и снижает точность результатов.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что для непосредственного получения значений кривизны по всей исследуемой поверхцости производят взаимное смещение экрана и исследуемой поверхности в цаправлеции, по которому определяют кривпзцу без изменения рельефа исследуемой поверхности.На чертеже показана схема устройства для получения графической картины распределецця кривизны по предлагаемому способу,На цилицдричсский экран 1 нанесен растр в виде системы равцоотстоящих параллельцых полос (черцых и белых), ориецтироваццых вдоль образующих цилицдрической поверхцости экрана. К отверстиго (ца чертеже це обозцачеццому) в экране 1 примыкает объектив фотоаппарата 2. Исследуемая поверхность 3 установлена ца расстоянии а от объектива фотоаппарата. Экран 1 выполнен поворотным вокруг оси, совпадающей с оптической осью объектива фотоаппарата 2. Кроме того, экран и фотоаппарат (как единое целое) выполнены подвижными в плоскости, перпендикулярной оптической оси объектива фотоаппарата1 ля цсследовацця крцвцзцы пове 2 хцостц по цре;1 лагаемому способу цсслд) с:уго цоврхгость 3 устацавлцвают ца расстояццц а от ооъектива фотоаппе 1 рата 2. Згттеъг ргстр, цапсенныйный ца экран 1, раьцгомрцо освегцгпот доиолггцтельцымц цсточццкамц цзлучецця (ца гертежс цс показацы) и фото. рафцруюг отражение указанного растра от цссле;1 умой погерхцостц 3 фотоаппаратом 2 через отверстие в экране 1. Не меняя взацмцого расположсцця экрана ц фотоаппарата. смецсатот цх ца велтгчц У . ОТ 1 ОСЦТЕЛЬЦО 11 ССЛЕГУЕ:1011 ПОВЕРХ 110 СТЦ В цаправлеции, перпендикулярном полосам растра, и повторно фотографиругот его отражеггц От исследуе. гой поверхгости па тот же 11 сгг ив. В результате цаложеция двух изображений растра, отражеццых от исследуемой поверхгости, цаходящейся в двух положеццях, образуется картина муаровьгх полос, вдоль которых кривизггьг тгмеют постояго з:гачецц.На чертеже лициями Л 1,ЛУ, ц М Л.г показац ход лучей прц фотографироваццц отраж- цпя растра для точки У цсслдусмой потрхности при двух положсццях поврхцостг. 1 ргтцзца К в точке Л исследуемой поверхпостц равна:1 ., 11,.ГеК= -д . 2 а .т где Я - радиус кривцзцьт псверхцости;св - угол между нормалями и, и и в точке Лг поверхности при двух ее положециях;Л - величина сдвига;М,М, - длина дуги экрана.Подп, к пеи. 1 О/11 - 64 Заказ 715/8 ЦНИИПИ Государ г. Формат Тиран твенного комитета и Москва, Центр, Типографии, пр. Сапунова, 2 Величина МтМ. в данной формуле определяется по картине муаровых полос, Действительпо, там где при наложении изображений какая-то полоса первого изображения растра пересеклась с этой же полосой второго изображения, величина М,М.,=О и К=О. Там же, где эта полоса при наложении пересеклась с соседней, величина М,М.= с/, где с/ - расстояИ ние млкду осями полос растра и К=2 аЛТаким образом, при переходе от одной муаровой полосы к соседней имеем изменение кривизны па величину, равную Аналогичным образом можно получить картину распределепия кривизп по любому паправле 11 ию, для чего следует повернуть экран около оптической оси объектива фотоаппарата таким образом, чтобы полосы растра были ориентированы перпендикулярно направлению, по которому исследуется кривизна. П р сдм ет изобретения Способ исследования кривизны поверхностей путез 1 наложения изобрасжеиия лияейчатого растра, отраженного от исследуемой поверхности, рассматриваемых через отверстия в экране, яа котором нанесен указанный растр, отличающийся тем, что, с целью непосредственного определения кривизны по всей исследуемой поверхности, производят взаимное смещение экрана и исследуемой поверхности, без измепения рельефа последней, в 1;аправлеиии, по которому определяют кривизну.