Уаровая установка для исследования деформации тонкостенных элел1ентов

Номер патента: 316959

Авторы: Нефедьев, Новицкий

ZIP архив

Текст

О П И С А Н И Е 316959ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советски Социалистических Республиквиспмое от авт. свидетельствааявлецо 16.Х 11.1968 (Юе 1290152/29-14) присоединением заявки1415044;29-14 Приоритет 01 гп 5/О сф 3 ф омитет по делам обретений и открытийри Совете МинистровСССР публиковано 07.Х.1971,УДК 69.058.2(088.8) ллетень Мо я 1.1.1972 а опуоликовацця описа Авторы зобретеиВ. В. Новицкий и В, К, Нефедье Заявитсл МУАРОВАЯ УСТАНОВКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ДЕФОРМАЦИИ ТОНКОСТЕННЫХ ЭЛЕМЕНТОВмувом 2алчи- тоым,том, 3 Изобретение отцосится к техцике экспериментального исследования напряженного состояния тонкостенных конструкций, вызванного статическими, динамическими нагрузками, вибрациями, церавцомерцым нагревом,вцутреццими изменениями структуры материала и другими факторами.Известна муаровая устацовка для исследования деформаций тоцкостеццых элементов,включающая вертикальный экрац в виде цилицдрической поверхности с цацесеццыми цяцей полосами растра вдоль образующей, фотоаппарат с объективом, расположенным вотверстии центра экрана и загрузочное устройство, обеспечивающее закрепление исследуемого элемента,Цель изобретения - создацие муаровойустановки, ооеспечив ающей получение угловнаклона деформированпои поверхцостп, крпвизцы, пропорциональной нормальным изгибцым напряжениям, и деформаций сдвигасредицшой поверхпости, процорциоцальцыхкасательным напряжениям.Достигается это тем, что предлагаемаяяровая установка выполнена с устройстдля перемещения экраца с растром парлельно исследуемой поверхности ца велцу, соизмеримую с шагом растра. Кромего, установка снабжена горизоцтальцидентичным вертикальному экряцу, экран имеющим растр, вдоль оси которого перемещают в загрузочном устройстве исследуемый элемент при фокусировании.На чертеже схематически изображеца в двух проекциях муаровая установка для исследовация деформаций тонкостенных элемецт ов.Муаровая установка для исследования деформаций тоцкостецпых элементов содержит вертикальный экран 1 в виде цилиндрической поверхцости с нанесенными ца цей полосами растра вдоль образующей, фотоаппарат 2 с объективом, расцоложецпом в отверстии цецтря экрана и загрузочное устройство 3, выполцеццое в виде пространственной рамы, устаповлеццой ца колесах 4.Б раме загрузочпого устройства смоцтировяц установочный стол 5, па котором закрепляется исследуемый элемент 6. 11 еремещецие стола в вертикальной плоскости осуществляется ходовым винтом 7 с гайкой.Исследуемый элемент цагружастся прц помощи блока 8 с грузом и тягами и рычага с грузом 9.Перемещение вертикального экрана с растром ца величину, соизмеримую с шагом растра, параллельно исследуемой поверхцости производится устройством, выполненным в виде ходового впцтя с гайкой 10, Перпендикулярно исследуемой поверхцости элементавертикальцый экран перемещается ходовм винтом с гайкой 11.Экран свободно поворачивается вокруг с 1. Для одиоврсмсциого исследования деформаций взаимно исрцепдшсуляриых поверхностей элемента установка снабжена тык)ке горизонтальным экраном 12 с растром, вьшолшшым идептичпо вертикальному экрану.Перемещение горизонтального экрыиа с растром параллельпо исследуемой поверхпостц эл(змсцт 1 произВОдитс 51 ходовыз 1 пиитом с гайкой 13, а в перпендш уляриом иаправлеции - ходовым винтом с гайкой 11.Работа установки с целью цолучецця 31 уыровых картин заключается в следующем;. Получение углов наклона деформцроваццой поверхности,Углы наклона деформированной поверхпости получают в двух взаимно церпенди(сулярцых направлениях л и у. Так как деформации очень малы, то углы наклона цриравцшзают частным цроизводпым от нормального к поверхиости иере 5 ещеиия с црц Иб ИО соот. Ветствующей коордшЯте х или ) и:рицим(110 т с и су, При этом изоора)кец 1 я )1 с р ца зеркальпои поверхности элсмсГгя цыходяцссГОся В цягружеииом и цс 2 р 3 жсцОм состояниях, фотографируются два раза иы один и тот же негатив, В соотвстспзи с Гсорией муарового метода па иегатцвс оорызу ОТСЯ МУ 2 РОВЫЕ ЦОЛОСЫ, ОССВЫМИ ЛИЦИ 5 Ми КО- торых явля(отся лишш (,.=Сопз, если полосы растра располагаются исрпс 1 дцку;1 ярцо оси х; а если полосы растра рысцозЯгаОтс 5 перпепдикулярпо оси у - у=сопв.11. Получеш(с кривизы деформ:(ровяццой поверхиости.Кривизну цо заданным двум 3 за 5 мцо ц(рпепдикулярпым направлениям х и у, пропорциональную нормальным изгибпым напряжениям б. и бу, прцравиивают вторым частным производным от цсремецеиия цо соопзстству 1 ощей координате х или у п ввиду малых деформаций принимают с и (уу. 11 зображс 1 шя растра на зеркальной пс)верхцостц элемента фотографру(отея два рызы пр:, Иец;1- груже 1 шом и нагруженном состоянии Гя одцц и тот же негатив. При этом после первого фотографирования перемещают изобржснцс растра ца зыдыппую цеоольшую Вели(шу соизмеримую с шагом растра) в направлении, ц.рпендикулярном к полосам растра. Тогда ца негативе получается картина с= - сопя, е:ли полосы растра располагаются цсрпсндцк 3 ЛЯРио оси .;, ц суу=сопк если полосы Рас(ры располагаются перпендикулярно оси ).111, Получс 1 И(с деформаций сдвига средцццой И 013 СРхиос и.Деформац:я сдвига средшцой поверхноститонкостенного элемента при изгибе пропорЦИОЦЯЛЬЦС и;СЯТС;1 ЬЦЫХ 1 ЦЦР 51)КСИ 13 ЯМ. Т,уту ИО 32 Д(1 ццым д 13ьзаимцо ГСрпецдиклярпым направлениям х ц О приравнивают10 вгорым частным производным от перемещецця ц, одповремеицо по коордицатам ух и ри ввиду малых деформаций црИцма)от ,с)у, Пзобретспис растра ца зсркыльцо 1 1;о 1)срхцостц элсмсцта фотографируют два разы15 и цагружепцом состояшш иа Одиц и тот жсцсгатив. После первого разы перемещаютизображение растра иа заданную пебольшуОвеличину (соизмеримуо с шагом растра) Внаправлении, параллелы(ом к полосам ра 20 стра,а негативе полу Гается картина с)у=сопз,ссли полосы растр;располагаются церцепдц 51 рцо ОСИ Х ц МуарОВЯ 51 рГИИЫ С)у СОПЗ.Ч) Я РОВ Я Я ) сты вовк(1 д)151 иссл(доВ и И 51 дс.й)орз 51 ццЙ тоцкостсцпых эле;Сит(В 13 клОыО(1151 3 СР Г)Кс)1111 ь(и экР 211 3 1)и;.,е и;1;1 Р 10 -скОЙ:О 3 ерхиос 1 И с цси 1 ес(.Ивы.и ця цсй ИО;10 сыми растра вдоль образующец, фото ппыра 1с обьскт 53051, расположс)шым в отверстиицсцгра зкряца и з(ирузочцое устройс 1 ю, Обе40:Счивякшссс зякр( псение:1,".сгедусмого эл( -мента, от,ц(1)(тсч тем, то, с цель:0 по:1 у.:МСЮ 1 ЦИ 31 РЯСР ВДОЛЬ ОСИ КОГОРОГОЕ)Е.10- щакгц в загрузочцом усгро,стве исссСД 303 Ый:5 а аз 5750 2 Изд. Ле 5 1 НИИПИ Комитета по делам зобЧосква, Ж пография, ир. Ссиопа. 2 6 Трака 43 Подисо стени и откоы ии Совете .пиетров ССС 5, Рауиска паб., л. 4,5

Смотреть

Заявка

1290152

В. В. Новицкий, В. К. Нефедьев

МПК / Метки

МПК: G01M 5/00

Метки: деформации, исследования, тонкостенных, уаровая, элел1ентов

Опубликовано: 01.01.1971

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-316959-uarovaya-ustanovka-dlya-issledovaniya-deformacii-tonkostennykh-ehlel1entov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Уаровая установка для исследования деформации тонкостенных элел1ентов</a>

Похожие патенты