G01B 19/38 — G01B 19/38

Устройство для измерения неровноты текстильных продуктов

Загрузка...

Номер патента: 456139

Опубликовано: 05.01.1975

Авторы: Алексеев, Лещенко, Радько, Хавкин, Черкасский

МПК: G01B 19/38

Метки: неровноты, продуктов, текстильных

...а с входом сумматора 15 - через инвертор 16 и 25 переключатель 17. Выход сумматора 15 соединен с входом блока 18 выделения модуля, а выход сумматора 14 соединен с входом блока 19 выделения модуля. Выходы блоков 18 и 19 выделения модуля соединены соответствен но с интеграторами 20 и 21. На выход инте3граторов 20 и 21 подключены регистрирующие приборы 10 и 11.Устройство измерения неровноты работает следующим образом,Сканирующее устройство устанавливается на выходе машины или агрегата, после которого требуется измерять неровноту двумерного текстильного, продукта, например после холетоформирующего аппарата в производстве нетканых материалов. Материал проходит между излучателем 6 и приемником 7 датчика. При включении привода...

Способ регистрации отклонения толщины контролируемой стеклянной нити или проволоки от ее номинальной толщины

Загрузка...

Номер патента: 521459

Опубликовано: 15.07.1976

Автор: Иванов

МПК: G01B 19/38

Метки: контролируемой, нити, номинальной, отклонения, проволоки, регистрации, стеклянной, толщины

...перемещается светочувствительная площадка.На фиг. 2 изображен график, поясняющий процесс модуляции светового потока эталонной и контролируемой 1 тями. Когда какаялиоо из нитей находится в зоне светового пучка, свеовой пучок Ф, падающий на светочувствительную площадку, будет ослаблен па величину ЛФилР ЛФ в зависимости от того, КР 1 кая ИЗ НИТЕЙ НХОДРТСЯ В ЗОЕ ПуЧКа. Для удобства описания процесса моду нщи назовем провалы на графике (фиг, 2) импульсами ослаоления светового потока.Длительность импульсов 1 и 1 Т. е, время, в течение которого контролируемая и эталонная нити пересекают световой пучок, зависит от скорости вращения мотора и диаметра нити.Величина импульса, т. е. глубина модуляции светового потока, зависит от диаь 1 етра нити,...

Устройство для определения неровноты нетканных материалов

Загрузка...

Номер патента: 557726

Опубликовано: 25.05.1978

Авторы: Айзенберг, Алексеев, Варданян, Кипнис, Урбан, Хавкин, Черкасский, Эберхардт

МПК: G01B 19/38

Метки: неровноты, нетканных

...блок 4, соединенный с импульсным про-,2 ообраэователем. Вычислительный блок выполнен трехканчльным и содержит в первомканале последовательно соединенные квадратор 5, накопитель 6, во втором кнале - на-копитель 7, киадратор 8, накопитель 9, в25третьем канале - накопитель 10, квадратор 11. К накопителям 6, 9 подключенблок 12 вычитания. Блок 13 вычитания соедйнен с накопителем 9 и квадратором 11.ЗОБлок 14 извлечения квадратного корня соединен через первый переключатель с выходами блоков 12, 13 вычитания. С вь;ходомблока 14 извлечения квадратного корня;оадинен блок 15 деления,. второй вход котороьго связан с выходом накопителя 10. Регистратор 16 индикации неровноти по ширинен регистратор 17 индикации неровнояа по,олине соединены...

Устройство для измерения толщины тонких пленок

Загрузка...

Номер патента: 731282

Опубликовано: 30.04.1980

Авторы: Галузо, Добрыдень, Илюнин, Столяров

МПК: G01B 19/38

Метки: пленок, толщины, тонких

...в соответствии с формулой31282 5 10 15 20 25 ЗО 35 4ступают теперь на счетный входсчетчика 4, фиксирующего таким образом число интервалов между пройденными максимумами интерференционной картины, Кроме того, каждыйиз этих импульсов побуждает блок 3управления - импульсами на соответствующих выходах - очистить регистрб и передать в него результат, полученный к этому моменту цифровымизмерителем 5 временных интервалов.Таким образом, после прохождения-го экстремума интерференционнойкартины на регистре 5 фиксируетсячисло, пропорциональное величинена счетчике 4 - число ( - 1),а цифровой измеритель 5 временныхинтервалов продолжает отсчет интервала времени, начавшегося в моментпрохождения первого максимума интерференционной картины.В момент...

Устройство для измерения толщины пленок на подложках

Загрузка...

Номер патента: 748131

Опубликовано: 15.07.1980

Авторы: Сафронов, Скроботова, Ходовой

МПК: G01B 19/38

Метки: пленок, подложках, толщины

...для материала 50 на кремниевой подложкедля углов падениями, у,соответственно равных 17 о, 40, 55, чтопозволяет измерить, толщину пленкис погрешностью 10 А , если коэффициент отражения измерен с погрешностью 1. Для любого типа пленки(510, 5 К 4, Фосфорсиликатного стекла) всегда имеются оптимальные углы,при которых обеспечивается равномерность и однозначность измерений, Если дискретность отсчета толщины выбрана 1 А , то номер сектора в точности равен толщине плевки. Например,сектору 11220 осоответствует толщинапленки 11220 А, Если дискретностьпреобразования равна 10 К; .чего вполне достаточно для удовлетворенияпотребности практики, то триады записываются в 10, 20, 30 и т.д. (каждый десятый) секторы, а общее числосекторов определяется...