158714

Номер патента: 241787

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гельман, Гершкович

МПК: G01N 33/38

Метки: держатель, испытания, истирание, неметаллических, образца, устройству

...усилие прижима на вставляемую в патрон 1 с некоторым зазором подложку 10 с приклеенным к ней образцом 11.Поводок 12, выполненный, например, в виде штифта, запрессован в торец упора 5 на 10 его периферии и свободно, с зазором, входитв соответствующее отверстие 13 подложки 10.Разрезное пружинное кольцо 14 вставленов кольцевую канавку 15 патрона 1. Шестерня 2 входит в зацепление с рейкой 16, закреплен ной на корпусе устройства.Держатель работает следующим образом.Подложку 10 с приклеенным к ней образцом 11 вставляют в патрон 1, и она удерживается от выпадания кольцом 14, Упор 5 вра щением гайки 7 устанавливается в такое положение, чтобы образец 11 выступал из патрона на определенную постоянную величину (1 - 2 лм). При перемещении...

Номер патента: 1772686

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Дроздов, Мугнецян, Смирнов

МПК: G01N 3/56

Метки: блок, держателя, нагрузочно-уравновешивающий, образца, трения

...элемент 9. Он снабжен полым цилиндром с фланцем 8, предназначенным для крепления к станине машины трения, регулировочной гайкой 10, установленной в цилиндре 8 с возможностью перемещения вдаль его.оси и связанной с ним при помощи резьбового соединения, второй регулировочной гайкой 7, установленной с зазором по отношению к поверхности фланца 8 и связанной со штоком 5 при помощи резьбового соединения и контргайкой 6, предназначенной для фиксаций от проворота второй регулировочной гайки 7 на штоке 5, который расположен в цилиндре вдоль его оси, второй упругий элемент 9 охватывает шток 5 и установлен между двумя регулировочными гайками 7 и 10, механизм сжатия первого упругого элемента выполнен в виде корпуса 14, закреплен 15 20 25 30 35 40 45...

Номер патента: 968715

Опубликовано: 23.10.1982

Авторы: Копань, Рево

МПК: G01N 23/20

Метки: держатель, дифрактометра, образцов, рентгеновского

...4-5.Держатель образца рентгеновского Ы 5дифрактометра работает следующим образом (при исследовании текстуры в образце),.Кольцо 1 вращается вокруг своей осис помощью механизма 3 и ведущей шестерни 4. Вместе с кольцом 1 вращается феи образец 2. Рентгеновский луч падаетна.образец 2. Отраженный от благоприятно ориентированных кристаллических плоскостей луч попадает в счетчик дифрактометра, на самописце которого записывает ф 5ся интенсивность, После одного оборотакольца 1 поворачивают основание 8 спомощью ручки гониометра дифрактометрана определенный угол ( например, 2 )и снова записывают изменение интенсив цности отраженного луча при вращениикольца 1 на один оборот и т.д. На основе полученных данных строят лаиоснуюфигуру, Затем...

Номер патента: 1490595

Опубликовано: 30.06.1989

Авторы: Гайдачук, Карпов, Литвиненко, Пильник

МПК: G01N 3/56

Метки: держатель, образца

...Тираж 789 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101 349Изобретение относится к испытаниям на изнашивание и может быть использовано при газо-, гидроабраэивном и зрозионном изнашивании материалов и покрытий.Цель изобретения - повышение точности испытаний путем более равномерного изнашивания поверхности образца.На чертеже схематически изображен предлагаемый держатель образца.Держатель содержит стойку 1 с основанием 2, обойму 3 с, образцом 4, поджатым упругим элементом 5, которые установлены на оси 6 вращения, Обойма 3 с осью 6 вращения закреплены на стойке 1 с возможностью поворота...

Номер патента: 343232

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Всг, Кугаевский, Черноусова, Черноусое

МПК: G01R 33/12

Метки: держатель, магнитных, образцов, параметров

...излучения и соседние окружающие предметы.Для исключения переходных сопротивлений 20 контактов и увеличения точности измерений предлагаемый держатель выполнен из двух последовательно соединенных коаксиальной индуктивности и коаксиальпой емкости, имеющих общий высокопотенциальный электрод. 25Кроме того, для исключения влияния поля излучения на результат измерения, к верхнему концу держателя, к его низкопотенциальному электроду присоединен закороченный на конце экран, имеющий на боковой поверхно ез которое исследуемыи о в держатель и вынимаетс343232 Усковва ехред Сатаг ж 406 етений СССР б;, д,одписное ткрытий Типогр нова,7, 8 - выводы для подключения в схему измерительного прибора;9 - экран;10 - исследуемый образец,Электрическая схема...