Способ определения перемещения

(51)5 С 01 В 9(0 ГОСУДАРСТВЕКК ПО ИЗОБРЕТЕНИ ПРИ ПНТ СССР КОМИТЕТОТКРЫТИЯМ БРЕТЕНИЯ АН ЬСТВУ ВТОРСНОМУ СВИ ехнический инкрмсомола.Г. Бахтин,лов Выделение вектора деионных измере с1104-1106. ениеонтрСпбразВн але на поверхность ифракционное зерка В Виде двух зонных оответствующих инт артинам от наложен ъек носят дкрытиенеля,онным льное по- решеток Фр рференция плоской(46) 23.05.90. БюлУ (71) Челябинский поли ститут им. Ленинского (72) С.Б. Артеменко, В С.А.Плохов и В.Г.Речк (53) 531 .715 .1 (088.8) (56) Власов Н.Г. и др отдельных компонентов Формаций в интерферен ниях, - ЖТФ, 1 973, У 5(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЕРЕ 1 дЕщЕНИЯ.(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении плоских перемещений диффузно отражающих. объектовЦелью изобретения является повьппение точности за счет увеличения контраста интерференционной картины. На поверхность объекта наносят дифракИзобретение относится к измери-. тельной технике и может быть исполь,зовано при определении плоских перемещений диффузно отражающих объектов,Целью изобретения является повыш точности за счет увеличения к аста интерференционной картины.особ осуществляется следующим гционное зеркальное покрытие в виде двух зонных решеток Френеля, соответствующих интерференционным картинам от наложения плоской волны и сфе рических волн, центры которых совпадают с центрами апертур двухапертурного спекл-интерферометра. Освещают объект плоской волной когерентного излучения, регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерферометра на фотопластинке спекл-Фотографию объекта, после перемещения объекта снова регистрируют с помощью двух- апертурного спекл-интерферометра на той же фотопластинке вторую спеклФотографию объекта, освещают полученную двухэкспозиционную спекл-Фотографию плоской волной когерентного излучения и путем пространственной Фильтрации получают интерференционную картину, по которой определяют перемещение объекта,волны и сферических волн, центры которых совпадают с центрами апертур двухапертурного снекл-интерферометра. ай Для этого предварительно изготавливают наносимое на объект дифракционное покрытие. При этом используют двухапертурный спекл-интерферометр. На место, предназначенное для разме-а щения объекта, помещают фотопластину и поочередно записывают на нее двевел зонные решетки, образованные наложением плоской опорной волны и сферической волны, исходящей сначала иэ одного, а затем из другого апертурного отверстия пространственного1 566201 Составитель В. Костюченко Техред М,Дидык Корректор С,Шевченко Редактор Н,Бобкова Заказ 1214 Тираж 489 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г,ужгород, ул. Гагарина,101 фильтра в спекл-интерферометре. Дважды эк спониров анную Фотоплас тину подвергают химико-фотограФической обработке для получения плоской голо 5 граммы с рельеФной поверхностью . С помощью полученной таким образом Фазовой голограммы изготавливают зеркальную реплику, которую наносят на поверхность исследуемого объекта. 1 ООбъект помещают в оптическую схему двухапертурного спекл-интерферометра и закрепляют в держателе таким образом, что его поверхность с нанесенным покрытием находится в плоскости, где на первом этапе устанавливают фотопластинку. Освещают объект плоской волной, восстанавливая этим исходные сФерические волны. При этом нанесенное на поверхность объекта зеркальное дифракционное покрытие фокусирует падающее на него излучение в центры апертурных отверстий пространственного Фильтра, причем нулевой порядок дифракции задержи вается непрозрачным экраном Фильтра.фотопластину помещают в плоскости резкого изображения объектива, который образует изображение поверхности объекта. Регистрируют с помощью двух О апертурного спекл-интерферометра на фотопластине спекл-Фотографию объекта, после перемещения объекта снова регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерферометра на той же35 фотопластине вторую спекл-Фотогра фию объекта, освещают полученную двухэкспозиционную спекл-фотографиюплоской волной когерентного излучения и путем пространственной фильтрации получают интерференционную картину, по которой определяют перемещение объекта,Ф о р м у л а изобретенияСпособ определения перемещения, заключающийся в том, что освещают объект плоской волной когерентного излучения, регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерферометра на фотопластинке спекл-фотографию объ. екта, после перемещения объекта снова регистрируют с помощъю двухапертурного спекл-интерферометра на той же Фотопластинке вторую спекл-фотограФию объекта, освещают полученную двухэкспозиционную спекл-Фотографию плоской волной когерентного излучения и путем пространственной фильтрации.получают интерференционную картину, по которой определяют перемещение объекта, о т л и ч а ю ш и й - с я тем, что, с целью повнпения точности за счет увеличения контраста интерФеренционной картины, перед освещением объекта на его поверхность наносят дифракционное зеркальное покрытие в виде двух зонных решеток Френеля, соответствующих интерференционным картинам от наложения плоской волны и сферических волн, центры которых совпадают с центрами апертур двухапертурного спекл-интерферометра,