Патенты с меткой «поверхно-сти»
Установка для выравнивания поверхно-сти полимерной композицией
Номер патента: 509300
Опубликовано: 05.04.1976
Авторы: Лебедев, Макаров, Розов, Смирнов
МПК: B05C 1/02
Метки: выравнивания, композицией, поверхно-сти, полимерной
...йеремещаюший 13, причем на нижней поверхности плит 4воими толкателями 12 плиту иэ левого ра выполнены продольные и поперечные пазыда на освободившееся место в правый ряд 14 и 15. Через камеру обеэжиривания 1 и 15 плиты из правого ряда изделия с камеру сушки 2 и над устройством ддя на , вердевщим выравнивающим слоем смола несения полимерной композиции пропущены снимаются вручную и укладываются в зрель, бадин 16, по которым перемешаются изде- ник 3 на направляющие рейки 19. ПослеО лия 17 с помощью шнековых толкателей 18;, укдадки по одному изделию в каждый ряд:, смонтированных параллельно балкам 16,ф в зредьник рабочий нажимает кнопку пуск,Зрельник 3 ддя окончательной подимериза срабатывает золотник (на чертеже не пока . ции композиции...
Способ удаления покрытия с поверхно-сти подложек
Номер патента: 835980
Опубликовано: 07.06.1981
Авторы: Зелионкайте, Кривенко, Сидаравичюс, Таурайтене
МПК: C03C 23/00
Метки: поверхно-сти, подложек, покрытия, удаления
...крупнопористого силикагеля, Колбу подсоединяют к обратномухолодильнику и кипятят в те чение 25 мин, После чего в этот раствор помещают образец дюралиминиевой подложки электрофотографического . цилиндра (размер образца 2 х 25 х 55 мм) с покрытием триселенида мышьяка тол щиной около 20 мкм и раствор.с образцом кипятят в течение 40 мин.,- т,е. примерно в 4 раза дольше, чем этого требуется для полного растворения покрытия. Поверхность подложки полностью сохранилась, на ней не обнаружено ни малейшего дефекта: ни цветных пленок, ни пятен, ни каких-либо заметных изменений,П р и м е. р 2. К 5 л 70-ного раствора эхилендиамина, в реакторе из нержавеющей стали добавляют 0,05 гранулированного мелкопористого силикагеля и .раствор...
Интерферометр для контроля поверхно-сти детали
Номер патента: 844995
Опубликовано: 07.07.1981
МПК: G01B 9/02
Метки: детали, интерферометр, поверхно-сти
...и под углом 45 к оптической оси интерферометоя тойтье эепкяло 5. лве иилиндпические линзы 6 и 7, держатель 8 детали 9,регистрирующее устройство 10,Ось симметрии держателя детали совмещена с общей фокальной плоскостьюцилиндрических линз.Интерферометр работает следующим образом,До установки контролируемой деталипроизводится замер инструментальной погрешности интерферометра, Для этого параллельный пучок лучей из источника 1света разделяется светоделителем 2 надвапучка, которые, пройдя зеркала. 3 и 4, а затем и цилиндрйческие линзы 6 и 7, суммируются светоделителем 2 и регистрируютсяустройством 10, При этом интерференционная картина будет отражать собственныенеточности двух цилиндрических линз 6 ии возможные дефекты их установки.При...