Компаратор для измерения штриховых мер
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 98120
Автор: Бржезинский
Текст
М. Л. ор жези иски й комплРАтоР для лзмеренкя штрихоВых мнЗаявлено 4 марта 1953 г, за47356,447647 в 1 хомитет по делам мер и измерительных приборов при Совете Министров ГССР ИзобретенНе относится к измерительным приборам, служап 1 им дляточного измерения штрихоззых мер.Известны и существуют ннтерферснцио шыс компаратсры для слнчония концевых мер с образцовыми кснцевь 1 ми мерами. Также известныкомпараторы, прс 1 изводящие измсрсния с помощью окулярных микроьметров и служаш 1 ие для сличения штриховых мер с образцовыми штриховыми мерами.Предлагаемый прибор является универсальным в том смысле, чтос его помощью штр 1 иховые меры могут быть измерены го ОбразцовымШТРИХОВЫМ гМЕраМ ИЛИ КОНЦЕВЫ 1 ЗТЯЛСН 11 Х 1. В КЯЧЕСТВЕ КОТСРЫХ МОГутбыть применены стандартные плоскопяраллельнь 1 е концевые меры илитрубчатые эталоны Фабри и Перо.Ня чертеже изобряжбня конструкт 11 вная и 011 тическая схема прибора.Световой луч от источника света 1 проходит через фокусирующиеи ссбирятельные линзы 2, 8, 4,И 5 и после линзы 6 превращается в пучок параллельных лучей, который, отразившдсь от зеркала 7, падаетна разделительную пластинку 8,Часть лучей, пройдя скВозь разделнтслы 1 ую пластинку и отразившись от второго вспомогательного зеркала 7, падает на зеркало 9, которсе укреплено на кронштейне 10 и перемс 1 цается пО напраВляющимстанины в направлении падающего пучка лучей. Свет, отраженный отВерка;1 а 9, совершает обратньн 1 путь до разделительной пластины 8.где, частично отразившись, попадает последовательно на зеркала 7, 7и поступает в наблюдательную трубу, составленную из зеркала 11, линз12 и 18, второго зеркала И, линзы 15 и окуляра 16. Другая часть первичного пучка лучей, отразившись от поверхности раздел;1 тсльной пластинки 8, попадает одновременно и на свободную плоскость А концевоймеры и ня контактную плОскОсть Б, и котсрОЙ приге 1 ртя концевая мера.Отраженные от зеркальных плоскостей А и Б лучи пойдут обратно, и, пройдя частичцо через ряздел)гсгьпую пластиснку 8, отразившись отзеркал 7, 7, поступят в пабсподаельцую трубу. Эти два пучка при определепных условия:; будут интерПсрирова ь.КОНцЕвс 51 МСрс 1 С КоцакПСй20 БПкой урс,5 С 051 П: "ОГц 1(С 17,КОтОрЫй Прц ОМОЩИ Х(с 0. ),.;2:; ДОо,цИТСЛЬПОГО МСХаНИЗМа МИкрсоподячи 18 Вмссгс. с ы"Ой с )смсЦ 2 стс 5 Б 2 рявгецГи цсска Гучей.ШТРИХОВс)51 ГМЕР 2 УстацсВ,5 БЯСС) 1; КсРСТ.:.С 1.( СОД.ОБРС)ЕПНО Ъ 0.гут быль устяцовлсцы двс; црхоп,ссры), (Ото;)ая исе(1)и(сирОВ 21 ия ГОло)КСГИ 51 1 Приховой мерь рцоо спяб)кец )ысоко) Бствительными пндикат 01:цымц ус роЙс Бь)и: гиптс,)фсрспциоцным инд)- кяторОм И-, Г 10 схеъс птср 1)с,:0)с 2 .,КсгьсоГ, ц язтоколли)2.циОнны) ипдсикяторогм л-(1, 10 схс гсльтряо 1 тимеГря.ИГтерфсрецциоГцый идика Гор испогьзусС 51 при точцых лзмерсНИЯХ, ЯВТОКОЛЛИ 2 ЦИОНПЫЙ - ДЛЯ МСЦЕСОЧ.1;, с Та(и(с В СЛУЧсЯ:;, ГДСт 1)ебуются бОльцис исдс.,ы г 13)е)с;1 и 1, Г)бя ип "и 1;ятсзря п)и 1)спяютс 5Также ОДНОВреМСННО, )С) осМЫ.1 КС;ЦТРОЛПРУЯ ДРУГ Д;)У 1 Я.Перемещая по Направляющей стспи:ы крошгсйп 10, па которомуК 1)ЕПЛЕНЫ Зсрка,3 9 И Тубуе )икрОС(оця 22, ИС 110,ЬЗ;я Зикроподссу КаРетки;и показани 5 0,НОГО из ивикс 1 тоРОБ с 1-(1 и,п И-И, Гочпо фик -СируЮТ ПОЛО)КС.НИЕ ц)лсСБОГО Г 1 Ирикя МСры Под ИКС)СКОГОМ. ПОССС ЭТОГО, перехецяя столик 17 с 1 21;цсБОЙ мерой, Бы авнив 210 Опт 11 сескуюДЛИЦУ ПУТИ ДВУХ П)ЧКОБ ДО ПОВБГс.И 51 1 ГОРфсРС":ИОННЫХ ПО.ОС )2 ВНОЦГолЦицы, причем черпая полоса, овля 0 цаяся при наличии полихромятическог 0 исочника светя, стмсчяется 011 осцтегьно п 1 калы ,"ет(и Окуляра наблюдательной трубы. 11 ослс з"с)гсх Гсрамеща 5 Микроскоп с зерКалам На ВЕЛИЧИНУ ряЗМСра З 2 ЛСГ 5. ДОСбивсц)тея а;аЛОГИЧПОГО ПОЛОКСния черной полосы отпоситсл,о и;калы пабсподятел,пой трубы, причемв интерференцию вступают лучи, отри)ксчшыс от лоскости Б пластины,ПРИТЕ)Этой КО ВТСРОЙ Г 15 ОСКОСИ КОНСВОЙ )АСРЪ, )-С)и сРи ЗТО) ОПТИЧЕокая Ось микроскопя 22 цс сОБпя,дя 1 с СООГвстствуюпи) штрихом измеряе 50 й,меры, то, псрсмещ 251 карску, я КООрОЙ она устянОВлеця, добиваются необходизого соппяд:пия, от) ечяя Бегисицу персмсщеция каретки по одному из сипдпкагоров .-(1 Гали И-И).При размере коццсого": Глоп,коЦсвс Меры) меньшем, чемизмеряемая штрихов 25 Меряк; ьзуясь 1 родол.Гыни перезещенияикаретки, эталона и Гикроско 2, 1 рихсц 515 Паговой метод, определяютлюбые размеры меры, крятцыс )язмсру хопцсвого эталона, причем прииспользовациел в кячссгвс коццево,о зтялоа грубчятого эталона Фабрии ПеРО надобность в его пРОдольцом пеРссмещепии отпадает.Прибор снабжен Гак)ке Вторым )икроскопом 23, с помощью котоРОГО ПРОИЗВОДИТСЯ Н 2 ВОДК 2 Пс КОЦСЧЫЙ ШТРИХ МСРЫ ЦЛИ СС ПОДРаЗделении. Оба,микРоскопа спс,бжсцы ОВИсеки УстОЙстзоГ,двойное Изображсцис паолюдасмого в поле зрения микроскопа штрихамеры, сов)ещаеОго при пяводкс, что повьппяеточность паводкив сравнении с применяемыми;1,я зтх цслсй окулярпьмц микрометрами.Сравсегие поверяемоЙ ме) ы с образцовс;й производитс 5 Известнь 5методом пОперечного кюНарировя 1 и 5, с тсм отли 1 исм, то язность зняЧЕНИЙ МЕр ОпрсдсляЕТ 05 С По."10 ПЬ 10 ОДНОГО ;3 5:Бдццсзтсров 1-И ИЛИИ-И) путем прОдольнОГО сремецен 5 Хяретк с )с)2)п П 2 Ве;Ичинуэтой разности, М 98120П 3) (; м с т 1; з 0 б 0 с т с и 1 511 . 1(0 и и я р я т Ор 3 дл я 1 з мс р с 3 .я и 13) 33 х"В 1 к )с р .сто;1 0 м с ) я В и ен 13 я оверяемо 1 штриховой меры с Обр(зц1;Ой пгр:ховой мерой путем поперечного компарировап 15: ол; ча ю н й с я тем, что, с целью повышения точности компарироЯИ 51 (и Иво;кп 1 а штрих, пр 3:бор снабжен интерференц 3 ионым 1 ти 12,интерфс 1;Омегр 3,333 еельсон 23 и 2 Втоко 1- димяц 3 ионным (типа у;Вгропметра):П 3 дпкаторны 3 мистрОЙстВями, ПРЕДНЯЗНЯЧЕННЫМЗИ Д,1 Я ИЗМЕРСН;51 МЯ,.1.,Х ,1 СРСМЕ 1 ЦЕН Ка)ЕТКИ, НЕСМ- цеЙ штрихоВые меры, сооВсгствуюцИх 1)33 ости Зпасп.;311 пзмеряюых мер, я микроск 3 оп, с помоЦью котороороизподится наводка на штрих меры, снабжОн Оптичсск.1стройсг)ом, (110 ц:. дв(;Й 1 ое нзобр 2 жснис наблюдаемого в поле зрения м 3 икро;коа нтриха, совмещасмого при наводке.2, Форма выполнения компарас,)3 по и. 1, о гл и ч а ю щ а я с я там, чт 0, с целью,ос цествленя возможности ) станов,ения соотношенИЙ ме)кду размераъи концсвьх 13:3 трхо)ьх мс,) 306 ц)х раз)С 1)ов,и,х подразде,ений) в д,инах световых 30,.н, 3 роор спао)кен кареткоЙ, на которой устанавливается концсвй в 220; 1 концевая мерали трубча- тыЙ эталон Фябри и Пер 01 13 плоск 1)1 ." рка,10)1, укрепленныъ Ня Одном кронштене с мик 3 роскоп 301, слу)каим для наводки на первый штрих из- меряемОЙ меры (ил) ее пОдразделен 135)3, 13 рпчем каретка и зе 1)кало с микроскопом имеют поступательные персмсщсния В направлении пучков (.ВЕТЯ, НСХОДЯЦИХ,ИЗ 03 ДНОГО ИСТОЧНИКЯ, 1(ОТОРЫЕ, П)П ПОСРЕДСТВЕ ИЗВЕ. стных оптических систем, Отражаются от поверхностен зеркала и концеВого 2 алона и интерферируют н по, (" среПя зр:Тельно 3 трубы,98120 Комитет по делам изооретений и открытий гри Совете Министров Редакгор Л, Л, Ситнико ства культурь Информационно-издательский отдел. Объем 0,34 п. л, Заказ 5874 р. Алатырь, типография2 Мини Поди. раж 360
СмотретьЗаявка
447647, 04.03.1953
Бржезинский М. Л
МПК / Метки
МПК: G01B 11/02, G01B 9/08
Метки: компаратор, мер, штриховых
Опубликовано: 01.01.1954
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-98120-komparator-dlya-izmereniya-shtrikhovykh-mer.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Компаратор для измерения штриховых мер</a>
Предыдущий патент: Установка для облучения ультрафиолетовыми лучами сельскохозяйственных животных
Следующий патент: Машина для испытания образцов на ползучесть и прочность
Случайный патент: Устройство для испытания электрической прочности изоляции кабеля