Способ определения конкрементов выделительных органов

Номер патента: 130136

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Борин, Бундель, Гурвич, Катомина, Кондахчан, Русанова

МПК: A61B 6/00, G03C 5/16

Метки: высокочувствительной, комбинации, пленка, применяемой, рентгенографии, экран

...в два приема: вначале вместе с плавнемудаляются образующиеся при прокалке хлориды кадмия и серебра(например, при помощи раствора подходящего комплексообразующеговещества), а затем свстосостав обрабатывается раствором вещества (например, гидросульфита, гидроокиси бериллия и т, п.), увеличивающегоагрсгативную устойчивость суспензии светосостава в растворе связующего,Для увеличения разрешающей способности двусторонней сенсибилизированной рентгеновской пленки под одним или обоими эмульсионпы.ми слоями на подложку наносят тонкий слой мелкозернистой малочувствптельной эмульсии.Цинк-кадмий-сульфидные экраны люминесцируют при возбужденииорентгеновыми лучами в полосе с максимумом прн - 5400 Л и полушириной 850 Л, Спектральная...

Номер патента: 542434

Опубликовано: 25.12.1979

Авторы: Васильев, Калмыков

МПК: G01T 1/11

Метки: вещество, гамма-излучения, доз, компактной, костной, поглощенных, рентгеновского, ткани

...процесса измерения и уменьшение погрешностей.Это достигается тем, что к высоко 10 дисперсному порошку 11 Р добавляют порошки солей, не дающих мешающего сигнала термолюминесценции, в следующих пропорциях, вес, В: 11 Р 27,3 45,6 р Са (РО) 43,0 59,0 у СаСО 6,9- 10,3; МЧР 07 0,5-1,81 ЙаЯО 0,9- 1,9; КЯ 04 0,1-0,4. При этом легкие элементы Н, И.и частично С и О, входящие в кость, заменяются на Ь 1 и Р - элементы с близкими им атомными номерами. Благодаря близости элементарного химического состава кости и костноэквивалентного вещества, значения массовых коэффициентов передачи энергии, которые определяют до зиметрическое подобие двух сред,совпадают,Костноэквивалентное вещество готовят следующим образом. Тщательно смешивают порошки...

Номер патента: 843558

Опубликовано: 07.10.1982

Авторы: Астабатян, Лорикян

МПК: G01T 1/00

Метки: излучения, массам, переходного, помощью, разделения, рентгеновского, рпи, частиц, ядерных

...исследуемых частиц вдоль вытягивающего поля.Если обозначить время формирования импульса на выходе от одного электрона ионизации через ДТ, а разброс времени. прихода электронов от трека частицы через ь, то при условии Ь 17 дС эффективное суммирование амплитуд от всего трека не произойдет, так как сигналы от них будут смещены во времени. С другой стороны, так как пробег фотоэлектрона мал, в пределах этого. пробега не.- однородность электрического поля мала и соответственно разброс времени дрейфа значительно мал, условие 4 йЬСвыполняется, т.е. одновременность прихода, электронов от всей области ионизации в случае фотоэлектрона обеспечивается. Следовательно, в случае фотоэлектрона происходит суммирование максимумов амплитуд от импульсов...

Номер патента: 1279383

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Гаврилюк, Мансуров, Разиков, Чудновский, Шавер

МПК: G01T 1/08

Метки: гамма-излучений, регистрации, рентгеновского

...покрытия;1) Прозрачность в спектральномдиапазоне от 0,4 до 2,0 мкм,2) Хорошая адгезия триоксидавольфрама к слюде.3) Хорошая адгезия к поликристаллической пленке триоксида вольфрама аморфной пленки триокснда молибдена с адсорбированным диметилформамидом,4) Малый размер кристаллитов в поликристаллической пленке триоксида вольфрама. С увеличением размера кристаллита увеличивается рассеяние света в устройстве, что уменьшает отношение сигнал-шум и ухудшает чувствительность устройства к рентгеновскому и гамма-излучениям,Покрытие толщиной менее 0,1 мкм имеет островковую структуру, что непозволяет использовать его в качестве адгезионного. Покрытие толщинойболее 0,5 мкм нежелательно из-эа возрастания рассеяния света в устройстве, что ведет к...

Номер патента: 1504041

Опубликовано: 30.08.1989

Автор: Солнцев

МПК: B23K 15/02, B23K 26/02

Метки: глубины, излучению, лучевой, проплавления, процессе, рентгеновскому, сварки, стабилизации

...Т и величины интенсивности рентгенов ского излучения в зависимости от глубины проплавления приведены на фиг.2 для начала участков и имеют адекватный глубине проплавпения качественный характер и максимум в 30 корне канала проплавления.При постоянной энергии луча концентрация и и величина излучения 1еплазмы определяются концентрацией Н и давлением Р паров расплавленного металла. Так, в корневой части канала проплавления величины И и Р максимальны, в его середине - в несколько раз меньше ввиду увеличения объема канала, а вблизи поверхности изделия - меньше на 1-2 порядка, по:;тому вблизи поверхности концентрация электронов и падает до и 10 фсм эе е а величина интенсивности 1 рентгеновского излучения минимальна 1 - (Н), фиг,1.45Во время...