Устройство для исследования электрических неоднородностей высокоомных образцов

ОЮЗ СОВЕТСНИХОЦИАЛИСТИЧЕСНРЕСПУБЛИК 1543331 51 5 ( О И 27/2 АНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ВТОРСН ИДЕТЕЛЬСТ еровО)и свя" ССР80.РЬЗ. ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(71) Московский институт инжежелезнодорожного транспорта (Институт инженеров транспортази, г, Хилина (СЬ)(56) Авторское свидетельствоМ 229413, кл. Ь 01 Я 27/22, 1Авторское свидетельство ССЮ 497507, кл. С О М 2/66, 1 Изобретение относится к измерительной технике и может быть применено для исследования и контроля однородности электропроводности, диэлектрической проницаемости или толщины от дельных участков образцов высокоомных материалов.Цель изобретения - повышение экспрессности исследований,На фиг. 1 показано расположение слоя фотолюминофора перед прозрачным электродом (внутри конденсаторной системы); на фиг. 2 - то же, за прозрачным электродом (в местах, где электрические поле, накладываемое на систему, отсутствует).(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ ВЫСОКООМНЫХОБРАЗЦОВ(57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь"зовано для исследования и контролянеоднородностей электропроводности,диэлектрической проницаемости илитолщины образцов высокоомных материалов. Цель изобретения - повышениеэкспрессности исследований, Устройст"во содержит источник переменного нап"ряжения, плоский измерительный конденсатор, внутрь которого помещаютисследуемый образец, причем один иээлектродов конденсатора прозрачныйи покрыт слоем фотолюминофора. Цельдостигается за счет возможности визуального наблюдения неоднородностей,2 ил. Устройство состоит иэ источника переменного напряжения 1 и конденсаторной системы, в состав которой входят два электрода 2 и 3, по край" ней мере один из которых, например 2, прозрачный, разрядный воздушный зазор, 4 и достаточно тонкий (толщиной в один " два зерна люминофора, т.е. до 100 мкм) фотолюминесцирующий слой 5. Испытуемый образец 6 вводится в зазор между электродами для исследо- . вания, Если используется прозрачный электрод, то он не должен быть слишком толстым (толщина выпускаемых промышленностью стекол 2-3 мм с проводящим слоем двуокиси олова удовлетворя1 93331 формула изобретения 30 ос тавитель В,ехред И,Ходаяи емцев Недолужен орректор лец ак Подписное етениям и открытиям и шская наб., дМ/5Заказ 397 Тираж 51ВНИИПИ Государственного комитета па и113035, Иосква, ЖНТ ССС Производственно-издательский комбинат Патент", г, Ужгород, ул, Гагарина,10 ет этому требованию). Величину воздушнаго зазора между прозрачным электродам и образцом выбирают исходя из техсаображений, что при малых толщинахвоздушного слоя (менее 10 м) электроны не успевают набрать энергию, достаточную для начала газового разряда,в то же время при слишком больших зазорах, во-первых, возрастает напряжение, требуемое для работы устройства,и, ва-вторых, может упасть разрешене получаемой картины. В частности,эмпирически показано, что для получения удовлетворительного разрешениядостаточно, чтобы толщина й зазора непревышала величины Л = 7 а, где арасстояние между двумя "дефектными"участками образца . На практике толщину зазора выбирают равной 0,1-0,5.ммфП р и м е р. Используют источник переменного напряжения (импульсы длительностью 20-50 мкс и частотой повторения 20-100 Гц, амплитудой 05- 25 5 кВ) и конденсаторную систему, состоящую из медного и прозрачного (пленкд двуокиси олова на стеклянной подложке, имеющей толщину 3 мм) электродов. На прозрачный электрод (пленка двуокиси олова находится внутри конденсаторной структуры) нанесен (например, методом накатки) слой ЕпЫ,Си люминофора (суспензия порошкового люминофора в лаке ВС), толщина слоя 0,1., При большом удельном сопротивлении образца (больше 109 Ом.см) для возбуждения свечения требуется большое напряжение на конденсаторной системе, при этом возможен пробой устройства. В случае низкоомных образцовз(10 Ом.см. и ниже) неудовлетворительным оказывается контраст получаемой картины. Таким образом, устройство позволяет исследовать образцы, имеющие удельное сопротивление от 10 доз 10 Ом.см. Устройство для,исследования электрических неоднородностей высокоомных образцов, содержащее источник переменного напряжения, плоский измерительный конденсатор, расстояние между измерительными электродами которо. го превышает толщину исследуемого образца не менее чем на 0,1 мм, причем один иэ электродов прозрачный и оба электрода соединены с источником питания, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения экспрессностиисследований, на прозрачный электрод нанесен слой фотолюминофора.