Устройство для измерения динамических деформаций

. (57) Изобрете тельной техник ИЗМЕРЕНИЯ ЧИНА О ДЛЯ МАЦИЙние оте и м ля измерени осится к измерижет бить испольвысокоскоростован ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЭОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ1 РИ ГКНТ СССР ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ 4241769/2511.058707.07.89.Л.Г,Потапо.Бобылев531,781.2Авторское0743, кл.лупроводниред. М,Дин1965, с. ных пластических деформаций. Целью изобретения является повышение точности измерений за счет увеличения чувствительности. Устройство для измерения динамических деформаций содержит два тензорезистора 1 и 4, испытывающих одновременно одни и те же динамические деАормации, источник 2 отрицательного тока, соединенный параллельно с первым тензорезистором 1 "плюсом" - к общему проводу, "минусом" - к первому выходному проводу 3, источник 5 положительного тока, соединенный параллельно с11 1 вторым тензорезистором 4 минусом к общему проводу, "плюсом" - к второму выходному проводу 6. 1 ил.Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь 20 эонано для измерения высокоскоростных пластических деформаций в эле 5ментах конструкций.Цель изобретения - повышение точности эа счет увеличения чувствительности тенэорезисторон, испытывающих одновременно один нид деформиро Ования.На чертеже изображена Функциональная схема устройства,Устройство для измерения динамических деформаций содержит первый 15тензореэистор 1 и параллельно соединенный с ним первый источник 2 отрицательного тока, "минус" которогои первый вывод первого тензорезистора 1 соединены с первым выходнымпроводом 3, а "плюс" и второй выводпервого тенэорезистора 1 соединеныс общим проводом, второй тензорезистор 4 и параллельно соединенный сним второй источник 5 положительноготока, "плюс" которого и первый выводвторого тензорезистора 4 соединеныс вторым выходным проводом 6, а "минус" и нторой вывод второго тензорезистора 4 соединены с общим провадом, два разделительных конденсатора 7 и 8, первые обкладки которыхсоединены с выходными проводами 3 и6 соответственно, а вторые обкладкиконденсаторов 7 и 8 соединены с нходами дифференциального усилителя (нероказан). Тензорезисторы 1 и 4 установлены в одной измерительной точкеисследуемой конструкции и испытываютодновременно один вид деформирования,Устройство работает следующим образом.В режиме покоя одинаковые по величине токи источников 2 и 5 тока,протекая через тензорезисторы 1 и 4, создают на них падение напряжения,Ток,вытекающий из источника 5 положительного тока, проходит только через тензорезистор 4 в направлении к общемупроводу, а ток источника 2 отрицательного тока проходит только в направлении от общего провода через тензореэистор 1 к перному выходному проводу 3, При такой схеме включения тензореэисторов 1 и 4 каждый источник 2,5 тока создает в соответстнующем ему тензорезисторе рабочий ток 11 - 1 д = 1 С, и падение напряжения 3 = 1 = 1,а при равенстве сопротивлений тенэореэисторови 4 В = Б = Б и их приращений АБ, = ЬБ+ = ЬВ,получаем 11 еых = 1 В+4 4)+ 12 Б.В связи с тем, что тензорезисторы 1 и 4 установлены на элементах конструкции в одной измерительной тачке рядом, параллельно друг другу н одной плоскости, то динамическое деформирование конструкции вызывает синфазное.изменение их сопротивлений Это, в свою очередь, ведет к появлению на них противофазных импульсных напряжений, которые через разделительные конденсаторы 7 и Я подаются на входы дифференциального усилителя.Формула изобретенияУстройство для измерения динамических деформаций, содержащее два тенэореэистора и два источника тока, параллельно соединенных с соответствующими тенэорезисторами, одни выводы источников тока и тенэорезисторон объединены общей шиной, а другие соединены н первый и второй выходные провода соответственно, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повьппения точности эа счет увеличения чувствительности тенэореэисторов, испытывающих одновременно один вид деформирования, первый источник тока соединен с первым тензорезистором "плюсом" - к общему проводу, "минусом" - к первому выходному проводу, а второй источник тока соединен с вторым тензореэистором минусом" - к Общему проноду, "плюсом" - к второму выходному проноду.