Пьезоэлемент для ультразвуковых измерений

Номер патента: 1796867

Опубликовано: 23.02.1993

Автор: Баранов

МПК: G01B 5/08

Метки: радиусов

...на фиг.1; на фиг.З - положение устройства ири измерении наружйых радиусов,Устройство состоит из корпуса 1, вь 1 полненного дугообразным с рабочим радиусом г, причем Яг81, где В - радиус внутренних поверхностей; Ь - радиус наружных поверхностей контролируемых деталей. На корпусе 1 с возможностью перемещения установлены каретки 2, на которых в свою очередь размещены полые стебли 3, телескопически сочлененные со штангами 4, Штанги 4 подвйжно соединены с базовыми опорами 5, выполненными в виде сменных магнитных присосок. На стеблях 3 установлены нониусы 6, а на штангах 4 нанесены основные шкалы 7. Штанги фиксируются в стеблях 3 винтами 8, а каретки 2 на корпусе 1 - винтами 9. Устройство снабжено рукоятками 10. От выпадания и разворота...

Номер патента: 1379615

Опубликовано: 07.03.1988

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/255

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...4 и 3,где а =А-А, - разность отсчетов в положениях зеркал3 ирасстояние междуотражающими поверхностями зеркал 3и 4;расстояние от точки Р до поверхности зеркала 2,При измерении радиуса кривизны поверхности детали приемлемая точность достигается при смещении зеркал 3 и 4 на величину а, не превышающую 300-400 мм, а диапазон измерений величин К большой. формула изобретения30 Устройство для измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали, содержащее автоколлимационный микроскоп, механизм перемещения и отсчетную шкалу с индекопределяют по резкому автоколлимационному изображению сетки микроскопа 36 1. Затем устанавливают зеркала 3 и 4. Зеркала смещают по направлению к автоколлимациоцному микроскопу 1 до совпадения точки Р...

Номер патента: 1411576

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Авдеев, Куренкова, Скрипаль, Тупикин, Усанов

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: кривизны, объектов, поверхностей, радиуса, сферических

...равная расстоянию между плоскостямиВВи ВВ (Фиг 1),с - скорость света;И - время когерентности;Л - средняя длина волны немонохроматического излучения винтервале длин волн от Л доЛ+д Л,Немонохроматическое излучение можно представить как совокупность когерентных монохроматических компос нент, занимающих некоторый диапазон длин волн от Я до Л+ йЯ, Каждая моно- хроматическая компонента образует свою интерференционную картину. Полная интенсивность в любой точке равна сумме интенсивностей, создаваемых каждой монохроматической составляющей. При использовании немонохроматического источника белого света (диапазон длин волн 0,4 - О, 7 мкм), ш с Л /йЛ 2, интерференционная картина имеет слеетра тину с еренционную кар иус, о т л и ччто, с целью...

Номер патента: 55017

Опубликовано: 01.01.1939

Автор: Максутов

МПК: G01B 11/255, G02B 27/54

Метки: вогнутых, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических

...изображенный, посылает пучок света на вогнутое зеркало 3, дающее изображение круглого отверстия О на шарике Ш. Со стороны шарика зеркало 3 представляется светящим ся диском, поэтому в фокусе шарика (на расстоянии Ы его диаметра от передней повЕрхности) окажется , уменьшенное изображение зеркала 3, 1 и от полученной таким образом светящейся точки в пространство выйдет пучок достаточно большой апертуры.Зеркало 3 частично (ниже горизонтального диаметра) экранирует изделие и, что несущественно для исследования. Так как зеркало 3 расположено почти на оси освещающего пучка, то при высоких его апертурах нам приходится считаться только со сферической аберрацией шарика Ш, Простой расчет показывает, что эта аберрация для большинства случаев...

Номер патента: 257839

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Гутаускас

МПК: G01B 5/20, G01B 7/287

Метки: кривизны, прибор, радиусов

...материал, растягиваясь, давит 1 О на диск б щупа и перемещает последний вместе с датчвкамц 8 вверх, При этом стержни 12 с сердечниками 11 под действием собственного веса спускаются относительно корпусов датчиков 8, следя таким образом за поверхностью 15 испытываемого материала,При рассматриваемом цагружении испытываемого материала радиусы кривизны его поверхности в разных направлениях не одинаковые. Известно, что по направлению цацмень щего линейного удлинения меридианом поверхности является дуга окружности, в других направлениях - эллипсы. Поэтому стержни 12 обоих датчиков 8, установленных на одинаковом расстоянии от оси штока 4, опустятся на 25 разную высоту (Н, и Н.), и, следовательно, впреобразователе разбаланс мостов будет разным,...