Устройство для измерения радиусов кривизны вогнутых сферических поверхностей
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 55017
Автор: Максутов
Текст
СССР М 55017 Класс 425, 35 ОГ 1 ИС АНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОР. СКОМУ СВИДЕТЕЯЬСТВУ,ВЫДАННОМУ НАРОДНЫМ КОМИССАРИАТОМ ОБОРОННОЙ ПРОМЫШЯЕННОСТИЗарееиетрировамо е Бюро иоследующей регнеарациннзооретеиии Госилана ири СНК СССР Д, Д. Максуго утЫ тройство для измерения радиусов криви сферических поверхностей. явлено 1;11 марта 1937 года за Мф 16 Опубликовано 30 июня 1939 гола.Согласно изобретению, предлагается следующее устройство для определения радиусов кривизны вогнутых сферических поверхностей, а также отступлений вогнутых поверхностей от сферической формыШарик Ш, например, от шарнкоподшипника диаметром 1 М - 4 мм после предварительной полировки крокусом на капле смолы (иногда желательно последующее алюминирование отражающей поверхности шарика) устанавливается в пластинке П таким образом, чтобы он выступал над зеркальной поверхностью пластинки на Ы часть своего диаметра или во всяком случае на величину, которая может быть в дальнейшем измерена.Если спроектировать на этот шарик достаточно удаленный источник света (расстояние в десятки раз больше диаметра шарика), то мнимое изображение источника (светящаяся точка) окажется совпадающим (или несовпадающим, но на величину нам известную) с плоскостью ножа и, являющегося ребром пластинки О, удаленным от светящейся точки на 1 - 3 им. Некоторый обычный осветитель малой апертуры О, на чертеже не изображенный, посылает пучок света на вогнутое зеркало 3, дающее изображение круглого отверстия О на шарике Ш. Со стороны шарика зеркало 3 представляется светящим ся диском, поэтому в фокусе шарика (на расстоянии Ы его диаметра от передней повЕрхности) окажется , уменьшенное изображение зеркала 3, 1 и от полученной таким образом светящейся точки в пространство выйдет пучок достаточно большой апертуры.Зеркало 3 частично (ниже горизонтального диаметра) экранирует изделие и, что несущественно для исследования. Так как зеркало 3 расположено почти на оси освещающего пучка, то при высоких его апертурах нам приходится считаться только со сферической аберрацией шарика Ш, Простой расчет показывает, что эта аберрация для большинства случаев пренебрежимо мала, в особых же случаях она может быть учтена.Фокусируя нож Н на изображение светящейся точки Ямы, во-первых, наблюдаем ошибки иэделия по тенел .Г цц вой картине иво-вторых, измеряемрасстояние от плоскости ножа до любой точки поверхности изделия (в данном случае изделие - вогнутое пробное стекло, линза или шлифовальная чашка) и тем самым измеряем радиус кривизны изделия (а в других случаях в вершинное расстояние системы) с известными нам поправками. Так как чувствительность фокусировки с помощью ножа достаточно высокато все дело сводится к необходимости точного измерения расстояния от лезвия ножа до сферической поверхности.В тех случаях, когда желательно иметь щелевидное освещение высокой апертуры вместо шарика применяется полированный цилиндр. В целом предлагаемое устройство представляет собой жесткую отъюстированную системуперемещаемую в пространстве как одно целое. Меняя диаметр шарика или диафрагмируя зеркало 3, мы получаем возможность изменять размеры светящейся точки. Предмет изобретения.Устройство для измерения радиусов кривизны вогнутых сферических поверхностей и исследования отступлений от формы их теневым методом, отличающееся применением в качестве точечного осветителя высокой апертуры шарика малого радиуса, связанного жестко с ножом так, что светящаяся точка совпадает с плоскостью ножа,. Сов. Печэ, Зак.5071 450
СмотретьЗаявка
1638, 11.03.1937
Максутов Д. Д
МПК / Метки
МПК: G01B 11/255, G02B 27/54
Метки: вогнутых, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических
Опубликовано: 01.01.1939
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-55017-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-radiusov-krivizny-vognutykh-sfericheskikh-poverkhnostejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения радиусов кривизны вогнутых сферических поверхностей</a>
Способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей
Номер патента: 1747881
Опубликовано: 15.07.1992
МПК: G01B 11/24
Метки: кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических
...симметричных порядках дифракции голограммы соответственно,Кроме того, с целью повышения точности контроля выпуклых поверхностей об разцовая осевая голограмма выполнена в виде двух соосно размещенных на одной подложке голограмм; а вершину и цЕнтр кривизны контролируемой поверхности совмещают соответственно с иэображениями 30 светящейся точки от каждой из двух голограмм.На фиг, 1 - 3 приведены схемы для реализации предлагаемого способа. На фиг. 1 приняты следующие обозначения: 1- светя щаяся точка (точечный источник); 2 - контролируемая вогнутая оптическая :- поверхность с радиусом кривизны Р; 3. -"йропускающая образцовая осевая голо"граФЬ, 4- объектив; 5 - коллимированный 40"мойохроматический пучок света, освещающий голограмму 3; 6-...
Устройство для автоматической дуговой сварки поверхностей с участками разной кривизны
Номер патента: 233140
Опубликовано: 01.01.1969
МПК: B23K 9/10
Метки: автоматической, дуговой, кривизны, поверхностей, разной, сварки, участками
...составляющей скорости движения сварочной головки С=/осоз иь подается на вход интегрирующей следящей системы б горизонтальной подачи головки, тде складывается с напряжением отрицательной обратной связи, пропорциональным действительнойскорости движения головки вдоль оси х. Приэтом следящая система с помощью исполнительного двигателя через редуктор 7 перемещает каретку сварочпого автомата 5 вдольоси х со скоростью, соответствующей С.В этом случае результирующая скорость перемещения электрода сварочной головки относительно стыка будет равна ЬО= 1 сов а++ 1 з 1 п а=1 о,где О, - истинное значение скорости сварки.Напряжения переменного тока, снимаемыес асинхронных тахогенераторов вертикальной 8 и горизонтальной 9 подач, поступают...
Интерферометр для измерения радиусов кривизны отражающих поверхностей
Номер патента: 1460598
Опубликовано: 23.02.1989
МПК: G01B 11/27, G01B 9/02
Метки: интерферометр, кривизны, отражающих, поверхностей, радиусов
...поверхности совпадал с центром кривизны высокоточной поверхности сравнения мениска 7. Отра зившись от контролируемого объекта 1 световой поток, не измеяя своего сферического волнового фронта (при качественном изготовлении контролируемого объекта), возвращается в строго обратном направлении и на высокоточной поверхности сравнения мениска 7 интерферирует с вторым световым потоком, образуя интерференционную картину, которая при помощи линз 6 и 4, светоделительной пластины 3 и окуляра 5 рассматривается в поле зрения окуляра 5.Микросмещени-. ем контролируемого объекта 11 в направлении, перпендикулярном оптической оси, добиваются наличия в цоле зрения окуляра 5 определенного (в зависимости от метода обработки интерференционной картины)...
Интерференционный способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей
Номер патента: 1810750
Опубликовано: 23.04.1993
МПК: G01B 11/24
Метки: интерференционный, кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических
...способ.Способ осуществляется следующим об-разом,Перед контролируемой поверхностью 1устанавливают пропускающую образцовуюголограмму 2, которую освещают соосный сней когерентный коллимированный пучком3 света, С помощью голограммы 2 в ее симметричных порядках дифракции, например,в+1-м и 1-м, +2-м и -2-м и т,д., в проходящемсвете из пучка 3 формируют два направленных на поверхность 1 гомоцентрических когерентных пучка 4, 5 света с центрами,соответственно 6 и 7, расположенными нарасчетном расстоянии 2 Р один от другого.Ручки 8, 9 света с.центрами 10, 11 соответственно, полученные отражением от повер- .хности 1 пучков 4 и 5 соответственносовмещают на голограмме 2, Возникающиепри совмещении пучков 8, 9 интерференционная картина...
Интерференционный способ контроля радиуса кривизны оптических сферических поверхностей
Номер патента: 1830445
Опубликовано: 30.07.1993
МПК: G01B 11/24
Метки: интерференционный, кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических
...Направляют пучок 8 света на поверхность 4 и полученный из него отражением от нее пучок 12 света с центром 11 направляют на голограмму 2, спомощью которой преобразуют его в прошедшей сквозь голограмму 2 в обратном свете ходе лучей квазиколлимированный пучок 14 света,Направляют пучок 9 на поверхность 4 и получают из него отражением от поверхности 4 пучок 15 с центром 16 направляют на голограмму 3, с помощью которой преобразуют его в прошедший сквозь голограмму 3 в обратном ходе лучей квазиколлимированный пучок 17 света, Совмещают с эталонным пучком б света оба пучка 14, 17 и регистрируют с помощью светоделителя 18 и объектива 19 на экране 20 одновременно две интерференционные картины 21, 22 сопоставляют их и по взаимному...
Предыдущий патент: Зубчатый насос с наружным зацеплением
Следующий патент: Машина для точечной сварки
Случайный патент: Устройство для диатермокоагуляции