Способ исследования развития трещины в образце из электропроводящего материала

Номер патента: 1520411

Опубликовано: 07.11.1989

Авторы: Дукатс, Курземниекс, Парфеев

МПК: G01N 23/20

Метки: исследованиях, образцов, растяжения, рентгенографических, эластичных

...16в диске 8 и закреплены на рамке 13с помощью крьаек 1 ч, На свободномторце втулки 19 с возможностью вращения беэ осевого перемещения (например, на штифтах) размещена гайка 20,взаимодействующая с винтом 2.1, который размещен внутри втулки 19 и снабжен тензодатчиками 22.Устройство работает следующим образом.Перед испытанием стойку 6 со смонтированным на ней приспособлениемснимают с ползуна 3, освобождая винт7. Вращением гайки 20 приближают рамку 13 к диску 8. На поверхность выступа 15 на диске укладывают образец17, концы 13 образца 17 пропускаютчерез прорези 16 в диске и спомощьюприжимных крышек 14 крепят на сторонах рамки 13, причем в случае испытаний на одноосное растяжение используют только два зажима. После установки образца 17...

Номер патента: 1021976

Опубликовано: 07.06.1983

Авторы: Дацко, Леонтьева, Маринин, Оберемченко

МПК: G01N 1/00

Метки: закрепления, исследования, кристалла, образца, свойств, физико-механических

...зазоров,Целью изобретения является повышение точности результатов, получаемых при исследовании внутреннеготрения в криокристалле с помощьюкрутильного маятника, за счет безлюфтоеого закрепления образца,Цель достигается тем, что .устройство для получения и закрепления 2образца криокристалла для исследования физико-механических свойств, содержащее вакуумную камеру, криостат, размещенную е нем ампулу-кристаллизатор, служащую для выращивания криокристалла, и соосно установленные е ней верхний подвижный и нижний неподвижный вмораживаемые захваты, снабжено стаканом с отверстием в боковой стенке для вывода паров кристаллизующегося газа, установленным в ампуле-кристаллиэаторе дном вверх и охватывающим конец подвижного захвата, а каждый из...

Номер патента: 1280481

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Бондаренко, Гаврилов, Жованик, Каминский, Шкарапута

МПК: G01N 1/28, G01N 1/36

Метки: исследований, микроскопических, образца, подготовки

...образца для микроскопических исследований, и может быть использовано для 5изучения структуры материала детали,Целью изобретения является обес печение идентичности деформаций образца и нагруженной детали.На чертеже приведена схема осуществления предлагаемого способа.Способ осуществляют следующим образом.Деталь 1 нагружают до заданнойвеличины нагрузки. На исследуемуюобласть поверхности детали наносятклеевой слой и струбциной 2 к нейприжимают жесткую накладку 3 рифленой поверхностью, Материал накладкивыбирают тверже материала детали.После затвердевания клеевого слоядеталь 1 разгружают, снимают струбцину 2. Рифления жесткой прокладкиобеспечивают фиксацию деформированного состояния в каждой точке исследуемой поверхности. Часть детали...

Номер патента: 1698831

Опубликовано: 15.12.1991

Авторы: Зуев, Полыгалов, Фельдман

МПК: G01N 22/00, G01R 27/26

Метки: диэлектрических, измерительная, исследования, образца, параметров, ячейка

...образцов во временной области, содержащая предлагаемую ячейку, основывается на принципах метода сосредоточенной емкости, Он прост в реализации, перекрывает широкий диапазон частот, позволяет измерять комплексную диэлектрическую прони цаемость я(а) с достаточно высокойточностью. Метод сосредоточенной емкости является однойиз немногих модификаций метода временной диэлектрической спектроскопии (ВДС), которая позволяет 10 получать информацию непосредственно вовременной области в виде функции диэлектрического отклика р(с), однозначно свяэаннойс еФ(в) соотношением)(т)=3 1( е(Я)/Я) (1) 15 где . - символ оператора обратного преобразования Лапласа;а(5) - предельное значение я(в)при в -+ со, Я= у + в;Я - обобщенная комплексная...

Номер патента: 1322206

Опубликовано: 07.07.1987

Авторы: Горностай-Польский, Горячкин, Филиппов, Шилов

МПК: G01R 31/12

Метки: диэлектриков, испытаний, образцов, прочности, электрической

...11 и регистрирующий 40 блок 8 заключены в заземленный металлический экран 9, а каждый подвижныйконтакт 10 подпружинен при помощисоответствующего упругого элемента 11,45 Устройство работает следующим образом. Испытуемые образцы 5 помещают между высоковольтными 4 и заземляющими 6 электродами, после чего включается источник 1 высокого напряжения. При пробое одного иэ испытуемых образцов 5 блок 2 отключения освобождает прикрепленный к нему конец гибкого соединительного элемента 3. Гибкий соединительный элемент 3 разрывает цепь подвода высокого напряжения на испы 5055 туемый образец 5 и не создает усилия,препятствующего перемещению жесткой 5 ные контакты 10, упругие элементы 11, 2006 гдиэлектрической тяги 7. Последняя под действием...