Способ определения относительных изменений емкости высоковольтных конденсаторов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1456910
Автор: Шамшурин
Текст
(191 01) 7/26 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕН А ВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕНИ ЕЛЬСТ 8 74288/24-21(21) 42 (22) 03 (46) 07 (72) С. (53) 62 предемко 5 в э дят из емкос низстичвысоиз80 свидетельство СССР Н 01 С 4/02, 1978.ПРЕДЕЛЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНЫХ ОСТИ ВЫСОКОВОЛЬТНЫХ КОНриситеты при низженин ие относитс ект Вг юг у: гых напряжений п жени низком напр и после пов е изменение гд вн н а на ответственно доо0 . Относительн скоотеннего и мкосго электродафклонение от едшений соответссоком напряжен форНг)х ссчитывают - и ) /(Кг и конденсатора уле,йС/С = 2 Р тнои выВтич(14 в 1 воф (1 г)нв я к электроиэожет быть- повышение то тносительньм из Изо Цель изобретенсти определения етение отн ной техник о в метрол и,мгиче мерител примене повероч рий, за ческих е скои прак ных лабор ением эле то-, трител ых и из ых конденсаторов рических коаксиал с разрезным элект рабочего напряжен имающихся изм еличин при вы одом под деиствиея. нии. ком напряж(56) Н 11 Ьаиэ 1 ЕЕЕ Тгапв оп Чо 11 М, Рес 416,Авторское Нф 665338, кл. (54) СПОСОБ О ИЗМЕНЕНИЙ ЕМК ДЕНСАТОРОВ (57) Изобрете.Ь., Регегвоп А.Е. всгцш. цпд Меавогеш ег, 1973, Р 4,в.408 адиусы соответстнешнего цилиндринф пн и швницы измеренныхвенно при низкомиф (1)в э (Ьг)но - отношение ча измерительной технике, Способления относительных измененийти высоковольтных конденсатороключается в следующем, Произвомерение отношения частичныхтей разрядного электрода прком напряжении, измерение чных отношений емкостей приком напряжении, затем одинэлектродов поворачивают наотносительно собственной оси измеряют отношение частичных емкос.тей при низком напряжении, По измерен ным отношениям рассчитывают эксцентм и высоком напря-.г Ф менений емкости высоковольтных цилинде. де К и К ы соответствнутреннего иго цилиндриэлектродов; ения от едира ен нешн ки в и откл ницыи змер ен ныл ний соотв отнош ствен при низком и высоком напряжнии,". (м,),(и,80 э д- отношения час емкостей при напряжении.ьное изменение емк ых зко Относителконденсатормуле и ссчитывается по фор 20(К 2-К 2 ) 1 и значение эксцентрисивтета системы электродов соответственно при низком и высоком напряжеде Р Составитель В,Андреевактор В.Данко Техред М,Дидь Корректор А,Обруч Подписноеретениям и открытиям пушская наб., д. 4/5 Т С роектная, 4 изводственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгор Способ заключается в следующем.Производится измерение отношений частичных емкостей при низком напряжении измерение отношений частич 15 ных емкостей при высоком напряжении, в процессе измерения поворачивают один из электродов на 180 относительно собственной оси, измеряют отношение частичных емкостей при низком 10 Заказ 7549/45 Тираж 71 1 ВНИИПИ Государственного комитета по и 113035, Москва, Ж, напряжении, по результатам измерения определяют значения поправок нанеидентичность площадей поверхностейобкладок разрезного электрода, которые учитывают при измерении отношений частичных емкостей при высоком напряжении. Измеренные отношения вводятся в расчетные формулы эксцентриситетовФормула изобретения Способ определения относительных изменений емкости высоковольтных конденсаторов, заключающийся в том, что измеряют отношения частичных емкостей при низком напряжении и измеряют отношения частичных емкостей при высоком напряжении, о т л и ч а - ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности определения относительных изменений емкости высоковольтных цилиндрических коаксиальных конденсаторов с разрезным электродом под действием рабочего напряжения, дополнительно поворачивают разрезнойоэлектрод на 180 относительно собственной оси, измеряют отношения частичных емкостей при низком напряжении и по результатам измерений определяют значения Поправок на неидентичность площадей поверхностей обкладок разрезного электрода, которые учитывают при определении. относительно изменения емкости исследуемого конденсатора.
СмотретьЗаявка
4274288, 03.04.1987
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6348
ШАМШУРИН СЕРГЕЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 27/26
Метки: высоковольтных, емкости, изменений, конденсаторов, относительных
Опубликовано: 07.02.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1456910-sposob-opredeleniya-otnositelnykh-izmenenijj-emkosti-vysokovoltnykh-kondensatorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения относительных изменений емкости высоковольтных конденсаторов</a>
Способ измерения уровня раздела двух сред с различной плотностью в подземных емкостях с газопроводами низкого и высокого давления на поверхности
Номер патента: 1113322
Опубликовано: 15.09.1984
Авторы: Гефтер, Жадовец, Михлин, Пузырев, Федоров, Чумиков
МПК: B65G 5/00
Метки: высокого, газопроводами, давления, двух, емкостях, низкого, плотностью, поверхности, подземных, раздела, различной, сред, уровня
...давления,. - длина участка колонны с измененным диаметром. На фиг. 1 изображена конструкция, обеспечивающая технологию измерения уровня двух сред с различной плотностью в подземной емкости по предлагаемому способу; на фиг. 2 - диаграмма роста перепада давления во времени.Конструкция (фиг. 1) содержит подземную емкость 1, скважину 2, колонну 3 рабочих труб, участок 4 колонны рабочих труб с увеличенным диаметром, газопроводы высокого 5 и низкого 6 давления, задвижки 7 - 3, измерительный манометр 14, дифферен.циал ьн ый м а нометр 15.Способ реализуется в следующей после.довательности технологических операций.В подземную емкость 1, соединенную сдневной поверхностью через скважину 2, опускают рабочую колонну труб 3, нижний участок...
Управляемый высоковольтный преобразователь напряжения
Номер патента: 964597
Опубликовано: 07.10.1982
Автор: Степанов
МПК: G05F 1/56
Метки: высоковольтный, управляемый
...лампу 1, разряднуюэлектровакуумную лампу 2, ограничительный резистор 3, диод 4, узел управления уровнями выходного напряжеЭ 5ния 5; с входом 6, узел 7 управлениянапряжением на сетке зарядной лампы1., изолированный источник 8 питания,выходную клемму 9 и дополнительновведенную электровакуумную лампу 10,Лампы 1 и 2 образуют высоковольтный делитель напряжения, С катодалампы 1 снимается выходное напряжение, Лампа 10 является элементом отри 5цательной обратной связи, Узел 7 управления с диодом 4 обеспечивает форсированный режим работы лампы 1 припереключении выходного напряжения с:низкого на высокий уровень. Изолированный источник 8 питания обеспечива фет работу узла управления Лампой 1.Преобразователь работает...
Прибор для измерения коэффициента мощности (cos ф) в цепях переменного тока низкой и высокой частоты
Номер патента: 759
Опубликовано: 15.09.1924
Автор: Шулейкин
МПК: G01R 21/00
Метки: высокой, коэффициента, мощности, низкой, переменного, прибор, цепях, частоты
...следующих частей: из катодной лампы Б, индуктивного сопротивления Е, трансформатора Т и измерителя тока В. Допустим, что А, фиг. 1 представляет часть электрической цепи, на зажимах которой желательно измерить сов р, при чем в часть подводящего провода введено безъиндукционное сопротивление Е, зажимы котороо присоединенгя между волоском и сеткой катодной лампы. Благодаря этому, напряжение на сетке будет меняться в фазе с током, потребляемым цепью Л. Цепь анода катодной лампы присоединяется к точке о 1. В цепь анода введена батарея высокого напряжения Г и измерительный трансформатор Т, во вторичную цепь которого где ./ - переменная слагающая силы тока цепи анода; Е - напряжение на зажимах цепи Л; Л; - внутреннее сопротивление катодной...
Устройство для повышения рабочего напряжения нелинейных элементов с высоким выходным сопротивлением-мультитрон
Номер патента: 728120
Опубликовано: 15.04.1980
Автор: Шор
МПК: G05F 1/56
Метки: высоким, выходным, нелинейных, повышения, рабочего, сопротивлением-мультитрон, элементов
...7 и диодов б выбрано так, что 40ток коллектора транзистора 7 превышает токбазы транзистора 5 на границе насыщения вовсем допустимом диапазоне токов коллекторатранзистора 5. Напряжение в режиме насьпцениятранзисторов мало, стабилнтроны 8,.9, 10заперты и не оказывают влияния на работусхемы, так как их обратные токи меньшеобратных токов транзисторов (за счет соответствующего соотношения площадей переходов),При уменьшении тока базы ниже границынасьпцения, транзистор 1 переходит в активныйрежим; и напряжечис на нем растет. Когданапряжение на транзисторе 1 приближается кнапряжению пробоя стабилитрона 8, последнийпробивается и уменьшает ток базы транзистора5 в ячейке 2, транзистор 5 переходит в активный режим и далее напряжение на...
Штамм sтrертососсus lастis 585-133, используемый в заквасках при производстве твердых сычужных сыров с низкой и высокой температурой второго нагревания
Номер патента: 960255
Опубликовано: 23.09.1982
Авторы: Гудков, Одегов, Одегова, Остроумов
МПК: C12N 15/00
Метки: 585-133, lастis, sтrертососсus, второго, высокой, заквасках, используемый, нагревания, низкой, производстве, сыров, сычужных, твердых, температурой, штамм
...нормальное. теченйемолочнокислого поопесса в условияхфаговой контаминации,Это наглядно видно из следующегоэкспеоимента, в котооом поедлагаемый штамм БСг. 1 асС 1 э 585-133 и постиэводственный штамм БСг, 1 асС 1 э 722инкубиоуются в молоке, содеожашембактериофаги молочнокислых стрептококков.П о и.м е о 1. ИспользованиеБСг. 1 асС 1 э 585-133 в условиях остоой Фаговой контаминации.Пастеоизованное молоко в колбепо 0,5 л инокулиоуют 1 заражения)18-часовой молочной культурой штамма БСг. 1 асС 1 э 585-133 вариант 1)или штамма ЯСг, 1 асС 1 э 7223(вариант 2),Для создания провокационного фона через 4 ч инкубации в колбы обоих вариантов вносят фаголизат (израсчета .около 2 10 фагочастиц/мл мог.лока), содержащий все 52 штамма бактеоиофагов из...
Предыдущий патент: Устройство для измерения составляющих комплексных сопротивлений
Следующий патент: Способ измерения центральной частоты полосового фильтра
Случайный патент: Устройство для подачи воды к дождевальным машинам в движении