Способ градуировки шкалы длин волн спектрофотометров
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1415867
Авторы: Копко, Литвиненко, Матковский, Сугак
Текст
СООЗ СОВЕТСКИХСОЦИА ЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 09) 01 г 31 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ НИ МУ СВИДЕТЕЛЬСТ К АВТО оЯки ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ(56) Сайдов Г.В. и др. Практическое руководство по молекулярной спектроскопии. Л., иэ-во ЛГУ, 1980, с135,Спектрофотометр "Бресогй М 40". Инструкция по пользованию. Народное предприятие,"Карл Цейсс Иена", ГДР, 1981, .с. 142.(54) СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ ШКАЛЫ ДЛИН ВОЛН СПЕКТРОФОТОМЕТРОВ(57) Изобретение относится к области оптики и моает быть использовано для градуировки шкалы длин волн оптических приборов, в частности спектрфотометров. Целью изобретения явлется повышение точности градуирови обеспечение использования одногоэталона для градуировки всех типовспектрофотометров, работающих вультрафиолетовой, видимой, блюкнейи средней инфракрасных областях. Приградуировке шкалы длин волн в качестве эталона используется моноЮРисталл ЩОаО Спектры поглощения ионов Б 6 в гранатовой матрицимеют узкие интенсивные линии поглощения в широком диапазоне длинволн от 0,25 до 8 мкм,14 15867 формула изобретения Составитель Н. НазароваТехред Л,Олийнык. Корректор С. Черни Редактор Т. 8)рчинова акаэ 4335 Тираж 428В 11 ИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж"35, Раушская наб., д. 4/5 Подписное ФПроизводственно-поли; рафическое предприятие, г. ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к области оптики и может быть использовано для градуировки шкалы длин волн оптических приборов, в частности спектро 5 фотометров.Целью изобретения является повышение точности градуировки шкалы для спехтрофотометроя и обеспечение воз можности использования одного этало- н для градуировки всех типов спектрофотоиетров, работающих в ультрафиолетовой, видимой, ближней и средней инфракрасных областях спектра.Воэможность использования монокристаллических пластин неодимгаллиевого граната в качестве градуировочных эталонов обусловлена особенностями спектров поглощ .ня ионов неодима3+щ з в гранатовой матрице, в первую 20 очередь наличием узких интенсивных линий поглощения з широком диапазоне длин волн от 0,25 до 8 мкм (4000 С 1250 см )П р и и е р. Тонкую пластину моно кристалла Ы з СаО, крепят в держателе, который устанавливают в отсеке для испытания образцов спектрофотоиетров. Проводят регистрацию спектра пропускания градуировочного эталона 30 Ы Са,О, . В случае несоответствия между показаниями шкалы длин волн прибора и известным спектральным положением иаксимуиов характеристических полос поглощения (минимумов про пускания) эталона Яй Оа О, добиваютсч путем поворота регулирово ного винта на рычаге призмы (или решетки) совпадения индекса на шкале длин волн прибора со эначеннеи длин волн максимумов полос поглощения (минимумов пропускания) Юб Са О, . Проверку шкалы длин волн проводят по всему рабочему спектральному диапазону спектрофотометра.Поскольку линии поглощения иона неодима имеют очень малую ширИну и большую интенсивность, точность определения положения максимума характеристической линии поглощения возрастает в 4-10 раэ,что соответственно увеличивает точность градуидовки. Способ градуировки шкалы длин волн спектрофотометров, заключающийся в том, что регистрируют спектр градуировочного эталона и устанавливают соответствие между спектральньв положением характеристических линий поглощения эталона и показаниями шкалы длин волн спектрофототметра, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с це" лью повышения точности градуировки и обеспечения использования одного эталона для градуировки всех типов спек" трофотометров, работающих в ультрафиолетовой, видимой, ближней и средней инфракрасных областях, регистрируют спектр градуировочного эталона, выполненного в виде пластины моно- кристалла неоднм-галлиевого граната Ыэ СаО,.
СмотретьЗаявка
3991134, 21.10.1985
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8525
КОПКО Б. Н, МАТКОВСКИЙ А. О, СУГАК Д. Ю, ЛИТВИНЕНКО В. И
МПК / Метки
МПК: G01J 3/12
Метки: волн, градуировки, длин, спектрофотометров, шкалы
Опубликовано: 15.12.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1415867-sposob-graduirovki-shkaly-dlin-voln-spektrofotometrov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ градуировки шкалы длин волн спектрофотометров</a>
Устройство для градуировки шкал генераторов сигналов
Номер патента: 1080016
Опубликовано: 15.03.1984
Авторы: Голубев, Кузнецов, Соловьев
МПК: G01D 13/12
Метки: генераторов, градуировки, сигналов, шкал
...резец 23,внутренняя гильза 24 с пазами сцепной муфты 25 и шарикоподшипником 26,внешняя гильза 27 с зубчатым колесом 28 и выступами сцепной муфты 25,устанавливаемая в шарикоподшипниках29, зубчатое колесо 30 повышающего редуктора, сцепная муфта 31, закрепленная на оси электродвигателя 32,рычаг 33 со штифтами 34, соленоид 35.На горизонтальной каретке 5 жестко закреплена направляющая 36 вертикальной каретки 37 (фиг. 1), выпал.ненная в виде зубчатой рейки. Пере"щение вверх и вниз каретки 37 обеспечивается электродвигателем 38. Накаретке 37 жестко укреплен оптоэлектронный блок с фотоприемником 39,выполненным, например, на фотоматрице и имеющим оптический прицеп 40и объектив 41. С горизонтальной кареткой 5 жестко связана зубчатаярейка 42,...
Эталон для калибровки спектрофлуорометра
Номер патента: 1718058
Опубликовано: 07.03.1992
Авторы: Воропай, Коржик, Мейльман, Нижников, Павленко, Смирнова, Торпачев
МПК: G01N 21/64
Метки: калибровки, спектрофлуорометра, эталон
...365 нм (линия спектра ртутной лампы) пик рэлеевского рассеяния будет на длине волны 365 нм (первый порядок) и 730 нм (второй порядок решетки монохроматора), при этом будет одновременно наблюдаться пик комбинационного рассеяния на длине волны 416 нм, В том случае, когда длины волн возбуждения и люминисценции близки одна к другой, искажения из-за рассеяния не позволят точно измерить 7.Рассеянный свет можно отличить от флуоресценции по степени поляризации, т,е, его можно отсечь поляризационными фильтрациями, Однако такие фильтры, отличаясь сложностью, сильно снижают величину сигнала и тем самым понижают точность измерений. Для уменьшения влияния рассеянного света регистрируют интенсивность люминесценции через светофильтр, пропускающий...
Устройство для градуировки шкал электроизмерительных приборов
Номер патента: 210397
Опубликовано: 01.01.1968
Автор: Роосе
МПК: G01D 13/12
Метки: градуировки, приборов, шкал, электроизмерительных
...3 на точку А 30 приводной механизм 4 следящей системы через переключатель б наводит средний контакт одного из запоминающих потвнциомегров 7, подключенных к дополнительному источнику 8 питания, в положение, соответствующее отклонению стрелки на точку А. Затем от источника 1 эталонного сигнала подается новый сигнал, и стрелка градуируемого прибора отклоняется на какую-то новую величину В на шкале градуируемого прибора 2. Следящая система 3 в этом случае останавливается на точке В на градуируемой шкале и дает сигнал шкалографу 5 о нанесении основной риски В, Одновременно с наводкой следящей системы 3 на точку В приводной механизм 4 следящей системы через переключатель б наводит средний контакт другого запоминающего потенциометра 7 в...
Способ градуировки шкалы прибора для измерения степени заряженности свинцовой аккумуляторной батареи
Номер патента: 448516
Опубликовано: 30.10.1974
Авторы: Барсов, Белоновский
МПК: H01M 45/06
Метки: аккумуляторной, батареи, градуировки, заряженности, прибора, свинцовой, степени, шкалы
...подбором параметров настроечных резисторов схемы прибора устанавливают максимальный угол отклонения стрелки и отмечают это положе3448516 нив как 10 О,5 заряженности (Ор разряженности) батареи. Производят градуировку шкалы прибора в пределах выбранного диапазона измерений, например, от 100% до 50-40%.Подают на вход напуижейие,соответствующее равновесной ЗДС йолностью заряженной батареи при меньшей исходной плотности электролита. Уменьшая угол закрутки пружи о ны, подводят стрелку к максимальной отметке (1007). Сняв входное напряжение, отмечают исходное положение стрелки при данной плот ь ности электролита батареи (группы батарей). Составитедь И. ИайДййа Редак горЯ. Ксеиогроитови ТехредЛ.ЧйВуШЬяй Корректор Р.КиселеваЗаказ Изд. МД...
Диалкиламиды фталоцианинокта-4, 5карбоновых кислот для получения оптических фильтров с поглощением в красной области спектра
Номер патента: 740802
Опубликовано: 15.06.1980
Авторы: Копылова, Лукьянец, Соловьева
МПК: C09B 47/04
Метки: 5карбоновых, диалкиламиды, кислот, красной, области, оптических, поглощением, спектра, фильтров, фталоцианинокта-4
...62,91; 63,05;Н 6,75; 6,76; Ы 16,37,16,15.С НззСцИ 6 ОнВычислено, : С 63,25; Н 6,37;Ы 16,39.)макс (в этаноле): 671, 640, 604,344 (нм)ПРи использовании нместо диметилформамида хинолина (т. кип, 237 ОС)при сохранении остальных условий(выход 52),Получение промежуточного продуктабисдиэтиламида 4,5-дибромфталевойкислоты,Смесь 6,1 г 4,5-дибромфталевогоангидрида (т. пл. 213-214 ОС) и 4,4 г пятихлористого фосфора нагревают собратным холодильником в течение10 ч при 150-160 С на масляной бане. Поднимая температуру бани до 250 С, отгоняют РОС 1 з, К бензольному раствору образовавшегося дихлорангидрида 4,5-дибромфталеной кислоты добавля - ют при перемешивании раствор 7,3 гдиэтиламина в 30 мп бензола, перемешивают при 50 ОС 1 ч и оставляют на.ночь....
Предыдущий патент: Устройство для хранения грузов
Следующий патент: Способ определения миоглобина
Случайный патент: Инвертор