Способ измерения слабых магнитных полей
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51) 4 Ся 01 К 33/06 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНК А 8 ТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ч измерителььзовано при ых магнит- ения можег(71) Институт физики АН УССР(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СЛАБЫМАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ(57) Изобретение относится кной технике и может быть испопизмерении напряженности слабных полей (МП). Способ измер 801357892 А 1 быть реализован в устройстве. Из моно- кристалла кремния вырезают пластину для датчика 1 в направлении 1101. На ее торцы наносят токовые контакты 2, а на боковые поверхности - зонды 3 для измерения поперечного напряжения, которые располагают на линии, перпендикулярной пропускаемому через пластину току и МП. Датчик 1 располагают в катушке 4 соленоида камеры 5 криостата промежуточных температур так, чтобы напряженность МП и пропускаемый через пластину ток были взаимно перпендикулярны. На пластину воздействуют с одновременно импульсным греющим элект рическим полем в интервале его величин фу 40 - 200 В/см и температурой 4,2 - 40 К, %ф Ф Строят график зависимости поперечного С напряжения от напряженности МП. Способ имеет высокую чувствительность. 2 ил. фФвай,(,Р )го лс, 1 оси)екг)5) И 5С ,. Изобретение относится к измерительц 1 й техцике и может быть использовано цри измерении напряженности слабых магнитных нолей.Целькт изобретения является повышение Ц М ВОТ ВЦТЕЛ ЬНОСТИ.На фи.представлена фуцкциона.ьцая схема устройства; на фцг, 2 - график зависимости поперечного напряжения ), от напряженности мацитного поля 1-1 для температуры 27 К. 10Сцосоо Осх цсстц,ястс 51 следуюцим ОО- разом.Из монокристалла электронного кремния вырезают пластину в форме параллелепипеда для датцикафиг. 1) в направлении 110. На торцы пластины наносят токо)зые контакты 2, а на боковыс поверхности 110 -- зонды 3 для измерения цосреццэго напряжения. Зонды располагаготся ца линии, перпендикулярной пропускаемому церез образец току и магнит ному полю.Датчик 1 располагается в катуцке соленоида 4 камеры 5 криостата промежуточных тсмпсратур так, что напряженность магнитного поля и пропускаемый через образец ток взаимно перпендикулярны. 25Напряжение с датчика 1 подается ца оси)ииОграф, с помощью которого ощрег(егяОт зца 51 ецге измеряемой напряженности маг- ЕИТЦОГО ПОГ 51.П,астццы д,я датцика вырезаюсяэлектронного кремния с удельным сопзогивленисм р: 100 Ом см.Параметры питаощего импульсного напряжения, создаюц(го греющее электрццсскос поле; выбираются так, что це происходит нагревания датчика вследствие выделяемой в нем мощности.График зависимости поперечного напряжения от напряженности магнитного поля (фиг. 2) состоит из участка В, где имеет место аномальный эффект Холла ц реализуегся высокая чувствительность, обусловленная смещением чежслойцой стенки, и участков Л и (" .обычного эффекта Холла.Участок В проявляется только в интер. вале греющих электрических полей 40 - 200 Всм при температурах 4,2 50 К. В слуцае необходимости рабочую точку на участке В можно устанавливать с помо(цью катушки соленоида 4. Дополнительное магнитное поле, создаваемое катушкой соленоида 4, используется либо для расширения области измеряемых полей в случае измерения магнитного поля одной полярности 1 дг 51 чего рабочая точка помещается в область начала или конца участка В кривой), либо для устранения нссимметрицности кривой АВС относительно оси Н (в случае измерения магнитного поля обеих полярностей рабочая тоцка смецается в середину цастка В). Способ измерения слабых магнитных полей, заключающийся в помещении чувствительного элемента в криостат и воздействии па него магнитным полем, от,гичаюгчггггея тем, что, с целью повышения точности измерений, на чувствительный элемент одновременно воздействуют ихпульсцым гр(ющим электрическим полем в интервале его велициц 40 200 В/сч и температх рой 4,2 -50 К.
СмотретьЗаявка
3798368, 10.10.1984
ИНСТИТУТ ФИЗИКИ АН УССР
АШЕ МАРИОН, КОСТИАЛ ХЕЛЬМАР, САРБЕЙ ОЛЕГ ГЕОРГИЕВИЧ, КУРТЕНОК ЛЕОНИД ФЕДОРОВИЧ, ГРИБНИКОВ ЗИНОВИЙ САМОЙЛОВИЧ, МИТИН ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 33/07
Метки: магнитных, полей, слабых
Опубликовано: 07.12.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1357892-sposob-izmereniya-slabykh-magnitnykh-polejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения слабых магнитных полей</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения магнитного поля
Следующий патент: Устройство для измерения магнитного поля
Случайный патент: Способ пропитки графитированных электродов