Способ косвенного определения флуктуации микротвердости полимерных пленок

Номер патента: 1262340

Авторы: Афонин, Рязанов, Самойлов, Филиппов, Шахманов

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК с 9)ЪаУ (1 26234 5 Б 4 0 О 1 11 3/4 ОСУДАРСТВЕНКЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ(56) АвторскоеУ 634173, клАвторское сУ 911211, кл,(54) СПОСОБ КОСВЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯФЛУКТУА 1 ИИ МИКРОТВЕРДОСТИ ПОЛИМЕРНЬПЛРНОК(57) Изобретение относится к опредленив Флуктуации микротвердости.ипозволяет раснирить диапазон исспедуемых полимерньж пленок при опредленки Флуктуации микротвердости.Исследуемуд пленку помещают на оражающуы подложку из гомогенноготериала, микротвердость которойизмеря 1 дт при постоянной нагрузке ипри заданном времени выдержки поднагрузкой. затем в пленку внедряютиндентор при условиях определениямикротвердости подложки и по отпечаткам индентора на отражающей иложке судят о флуктуации микротвдости полимерной пленки,262340 ф о р м у л а и з обретения Изобретение относится к измерению твердости материалов, в частности к способам определения флуктуации микротвердости полимерных пленок,Цель изобретения - расширениедиапазона исследуемых материалов.Способ реализуется следующим образом,Составитель С,Волобуев Редактор А,111 ишкинаТехред В. Кадар Корректор Е,СирохманЗаказ 5418/39 Тираж 7/8 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул, Проектная, 4 При постоянной нагрузке и фиксированном времени определяют микротвердость отражающей подложки, выполненной из гомогенного материала, Исследуемую полимерную пленку помещают на отражающую подложку и вдавливают в нее индентор при условиях измерения микротвердости отражающей подложки. Удаляют пленку с подложки и по размерам отпечатков индентора на подложке судят о флуктуации микротвердости полимерной пленки,Способ косвенного определенияфлуктуации микротвердости полимерныхпленок, заключающийся в том, что исследуемую пленку помещают на подложку, в поверхность пленки под действием постоянной нагрузки в течениезаданного времени вдавливают остро О конечный индентор и определяют флуктуацию микротвердости, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью расширения диапазона исследуемых материалов, в качестве подложки исполь.15 зуют отражающую подложку из гомогенного материала, измеряют ее микротвердость, вдавливают индентор впленку при условиях измерения микротвердости отражающей подложки, а о 20 флуктуации микротвердости пленки судят по размерам отпечатков на подложке.

Смотреть

Заявка

3907064, 10.06.1985

ВОЕННЫЙ ИНЖЕНЕРНЫЙ КРАСНОЗНАМЕННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. А. Ф. МОЖАЙСКОГО

АФОНИН ВЛАДИМИР КОНСТАНТИНОВИЧ, РЯЗАНОВ ЮРИЙ СЕРГЕЕВИЧ, САМОЙЛОВ НИКОЛАЙ СЕМЕНОВИЧ, ФИЛИППОВ НИКОЛАЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ШАХМАНОВ ВЛАДИМИР АНАТОЛЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 3/42

Метки: косвенного, микротвердости, пленок, полимерных, флуктуации

Опубликовано: 07.10.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1262340-sposob-kosvennogo-opredeleniya-fluktuacii-mikrotverdosti-polimernykh-plenok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ косвенного определения флуктуации микротвердости полимерных пленок</a>

Похожие патенты