Глазурь

Номер патента: 332141

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Войцехов, Черн

МПК: G01N 21/17

Метки: качества, металлических, покрытий, полупроводниковых, прибор

...резистора (рабочий температурный интервал резистора определяется рассеиваемой на нем мощностью) их показатели преломления совпадали для единственной длины волны спектра белого света, однозначно изменяющейся с температурой.В качестве жидкости может быть использована органическая, либо неорганическая прозрачная для белого света жидкость, характеризуемая высокими изоляционными свойствами,Материалом для сосуда 1 может служить органическое стекло, полимерный материал и т. д.Деталь, качество поверхностного проводящего покрытия которой контролируется, например резистор 3, нагревается протекающим по покрытию током при подключении источника э.д.с, б и нагревает тонкий слой жидкости. Картина температурного поля жидкости практически...

Номер патента: 658461

Опубликовано: 25.04.1979

Авторы: Давыдов, Кочкин, Мышленникова, Охрименко

МПК: G01N 27/46

Метки: качества, металлов, нанесения, поверхности, подготовки, покрытия

...металла, При этом, с помощью ьысокоомного вольтметра 2 измеряют стационарный потенциал образца подложки (исследуемого электрода) с естественной окисной пленкой при отсутствии поляризующего тока. Источник задагощего напряжения 1 устанавливают н соответствии с измеренным значением стационарного потенциала. Затем на злектрохимическую ячейку 4 подают напряжение, давая приращение потенциалу в сторону положительных значений и Фиксируют значение тока на миллиамперметре 5.Нарушение пассивности металла (нижняя граница средней пассивности) характеризуется возрастанием тока на миллиамперметре 5 ныше О. Значение напряжения на вольтметре 2 при этом и будет значением потенциала нижней границы области средней пассивности. йалогично определяют...

Номер патента: 859878

Опубликовано: 30.08.1981

Авторы: Слайдинь, Такерис

МПК: G01N 15/08

Метки: качества, металлической, основе, покрытия

...в течение 0,5-2 с йа палладиевый электрод вьщеляется водород, а на противоположной стороне измеряется и записывается потенциал поверхности. Это повторяют несколько раз до получения хорошо совпадающих кривых потенциал - время. 5О 15 20 25 ЗО 35 40 45 50 55 После этого на лалладиевую основу наносят покрытие иэ меди, Проницаемость водорода через меДь хуже, чем через палладий. Повторяя вьщеление водорода и измеряя изменение потенциала и время прохождения водорода при некачественном покрытии, получаются практически совпадающие кривые, а если покрытие качественное, кривые получаются с уменьшенным изменением потенциала и с увеличенным вре. менем прохождения водорода по сравнению с первоначально получаемыми кривыми, Изменениые кривые...

Номер патента: 1019296

Опубликовано: 23.05.1983

Авторы: Василенко, Цимбал

МПК: G01N 19/04

Метки: качества, покрытия

...ние покрытия происходит только в случае слабого его сцепления с подложкой.При качественном сцеплении покрытияс подложкой материал подложки пластически деформируется.15 Благодаря синусоидальной формерисок по всей плоскости покрытия возникают касательные напряжения. 8 результате этого качество покрытия контролируется во всех направлениях.Для одного вида покрытий синусоидыпостоянны, а величина усилия нажатиянаконечника при этом выбирается опытным путем.Предлагаемый способ позволяет производить непосредственный сплошнойконтроль качества покрытия. 1 1 ОИзобретение относится к испытаниям покрытий, в частности к определению адгезии покрытий.Наиболее близким к изобретению является способ контроля качества покрытий, заключающийся в том, что на...

Номер патента: 1157410

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Кордит, Якубович

МПК: G01N 19/04

Метки: качества, подложкой, покрытия, сцепления

...цель достигается тем,Я что согласно способу определения качества сцепления покрытия с подлож- коВ, эаключакщемуся в том, что в покрытие, нанесенное на подложку, вдавливают индентор под нагрузкой долокального отслоения покрытия и измеряютпараметр, характеризующий качество сцепления, нагрузку на инден"тор поддерживают постоянной, вдавливают индентор в подложку до нанесения на нее покрытия, а в качествепараметров регистрируют сигналы вкус.тической эмиссии при вдавливании индейтора в подложку и покрытие, посоотношению максимальных амплитудкоторых судят о качестве сцепленияпокрытия с подложкой.Способ осуществляют следующим образом.В поверхность подложки, предназначенной для напыления на нее покрытия, вдавливают под постоянной наг"рузкой...