Способ получения масс-спектров

Номер патента: 1597964

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Евстифеев

МПК: H01J 49/26

Метки: ионизацией, ионов, источник, поверхностной

...ленты накала на втором этапе (Йг) В ЭВМ 5 вычисляетсяВготношение - и сравнивается с заданным,Воопределяемым или из анализа эталонной пробы, проводимого по обычной методике, но с контролем отношения сопротивлений, или исходя из формулы 10 конденсаторами на входе. В состав устрой 20 25 30 35 40 45 50 55 где а (Тг) - температурный коэффициент удельного сопротивления материала ленты накала 2 с учетом распределения температуры по ленте, 1/К;Тг - температура ленты в месте нанесения пробы, соответствующая проводимой методике анализа, К,При достижении отношения заданной величины по команде с ЗВМ 5 в устройстве 4 управления формируются сигналы, при которых останавливается развертка сигнала на первом его выходе, сигнал на втором выходе...

Номер патента: 243251

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Галль, Леднев

МПК: H01J 37/08

Метки: ионизацией, ионов, источник, поверхностной

...от ионизатора.Парьв анализируемого вещества из иапарителя вводятся в ионизатор через его боковую ,поверхность вблизи закрытого конца трубки.На чертеже изображена схема ионизато 1 ра с испарителем пробы. Ионизатор содержит устройство 1 для иони,- зации, испаритель 2, соединительную трубку3 и систему формирования пучка ионов 4.,При нагреванни испарителя 2 с пробой па 5 ры вещества пробы через соединительнуютрубку 3:попадают на внутреннюю поверхность ионизатора 1.Часть атомов при этом ионизуется и вытягивается,полем ионизатора в сторону систе 10 мы формирования пучка ионов 4, т. е. в сторону открытого конца трубки-ионизатора,Атомы, не ионизировавшиеся при переомстолкновении с вну тренней поверхностьюионизатора претерпевают...

Номер патента: 397984

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Калыгин, Прокопьев

МПК: H01J 3/04

Метки: ионизацией, ионов, источник, поверхностной

...к источникам ионов и может быть использовано в масс-спектрометрии, а также в технологии электромагнитного разделения изотопов.Известен ,источник ионов с поверхностной 5 ионизацией, содержащий испаритель и ионизатор, выполненный в виде закрытой с одного конца трубки из материала с большой работой выхода. Закрытый конец трубки соединен с выводом источника питания той же полярности, что и полярность ионов, эмиттируемых источником.В этом устройстве протекающий по корпусу ионизатора ток нагревает его до рабочей температуры и создает внутри трубки однородное осевое электрическое поле, служащее для вывода ионов из источника.Наиболее существенными нелсстатками известного источника ионов являются низкий коэффициент использования пробы и большой...

Номер патента: 1132726

Опубликовано: 30.10.1987

Авторы: Галль, Дашук, Краснов, Кузьмин, Лукашенко, Николаев

МПК: H01J 37/08

Метки: ионов, источник, масс, основе, разряда, скользящего, спектрометрии

...превышает толщину стенки диэлектрика, Электроды могут быть выполнены с возможностью перемещения вдольоси цилиндрического диэлектрика, атокопроводящий заземленный элементвыполнен в виде цилиндра с наружнымдиаметром в 2-5 раз меньшим внутрен3 113него диаметра диэлектрика и расположен на внутренней поверхности диэлектрика по образующей так, что упомянутая образующая и образующая наружной поверхности диэлектрика, покоторой расположен один из электродов лежат в одной плоскости, приэтом диэлектрик выполнен с возможностью вращения вокруг оси,На фиг, схематически изображенпредлагаемый источник ионов, содержащий источник импульсного электрического питания 1, подключенный кэлектродам 2 и 3, разделенным разделительным диэлектриком 4, на...

Номер патента: 1429829

Опубликовано: 27.07.1996

Авторы: Галль, Кормилицын, Кузьмин

МПК: H01J 37/08

Метки: ионов, источник, масс, основе, разряда, скользящего, спектрометрии

Источник ионов на основе скользящего разряда для масс-спектрометрии по авт. св. N 1132726, отличающийся тем, что, с целью повышения выхода ионов, он снабжен дополнительным электродом, соединенным с катодом, расположенным над областью разряда на расстоянии, большем половины межэлектродного расстояния, и имеющим щель для экстракции ионов.