Способ ультразвукового структурного анализа материала
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1185220
Авторы: Летуновский, Федоров
Текст
(19) (11 2 5 Ц 4 С 29 00 АНИЕ ИЗОБРЕТЕН О госуда ственный НОмитет сссрпО делАм изОБРетений и Открытий ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(54)(57) СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОГОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА МАТЕРИАЛА,заключающийся в том, что в образциз исследуемого материала на опре деленной частоте возбуждают импульсультразвуковой плоской волны, принимают этот импульс после прохождения образца, измеряют амплитУдУпринятого сигнала и по измереннойамплитуде определяют коэффициентзатухания ультразвуковых волн,о т л и ч а ю щ и й с я тем, что,с целью повьппения точности структурного анализа, возбуждают в образце на той же частоте импульсультразвуковой сферической волны,измеряют сигнал реверберации упругих волн в образце, по величинекоторого определяют коэффициентпоглощения ультразвуковой волны,и по разности коэффициентов затухания и поглощения определяют структуру исследуемого материала.1185220 го 20 Составитель А.федоровРедактор М. Бандура Техред Л.Миклош Корректор С.Шекмар Заказ 6356/39 Тираж 896 Подписное ВНИИПИ Государственного. комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,4 Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для ультразвукового контроля структуры материалов, напри" мер среднего размера зерна. 5Целью изобретения является повышение точности структурного анализа.Способ ультразвукового структурного анализа материала осуществляют следующим образомВ образце иэ исследуемого материала на определенной частоте возбуждают импульс ультразвуковой плоской волны, Принимают этот импульс после прохождения образца и измеряют амплитуду принятого сигнала. По измеренной амплитуде определяют коэффициент затухания ультразвуковых волн, например, методом сравнения экспоненты с огибающей эхоимпульсов на экране осциллографа. Затухание импульса плоской волны обусловлено геометрическим рассеянием и поглощением. Коэффициент затухания в этом случае определяется 25 между плоскопараллельными поверхностями в начальный период времени прихода эхоимпульсов, когда геометрически рассеянные волны в виде структурных помех не оказывают су- З 0 щественного влияния на амплитуду принятых эхоимпульсов, Затем в том же образце на той же частоте возбуждают импульс ультразвуковой сферической волны, например, фокусирующимили рассеивающим преобразователем. Измеряют сигнал реверберации упругих волн в образце, по которому определяют коэффициенты поглощения ультразвуковой волны. Коэффициент 40 поглощения по сигналу сплошной реверберации определяют методом совмещения экспоненты с огибающей сигналов на экране осциллографа. В случае определения коэффициента поглощения сферической волны, рассеянныена внутренних дефектах структурныеволны (структурная реверберация),совместно с многократно отраженными от всех граничных поверхностейобъекта (объемная реверберация),образуют единый непрерывный сигналреверберации, затухание которогообусловлено только поглощением. Определяемый коэффициент поглощенияявляется усредненной характеристикой всего. объема объекта. Вычитаяиз коэффициента затухания плоскойволны коэффициент поглощения сферической волны, получают коэффициент рассеяния, который характеризует структуру материала изделияПо построенному тарировочному графику зависимости коэффициента рассеяния от структуры материала объекта (среднего размера зерна, карбидных неоднородностей и т.д.) и измеренному коэффициенту рассеянияопределяют структуру исследуемогоматериала. Способ ультразвукового структурного анализа материала позволяет повысить точность изменения,поскольку коэффициент рассеяния, определенный как разность коэффициента затухания и коэффициента поглощения ультразвуковых волн при замере на одной частоте, наиболее точно характеризует структуру материала.
СмотретьЗаявка
3599880, 06.06.1983
КРАСНОЯРСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
ФЕДОРОВ ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ, ЛЕТУНОВСКИЙ ВАЛЕНТИН ВАСИЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/00
Метки: анализа, структурного, ультразвукового
Опубликовано: 15.10.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1185220-sposob-ultrazvukovogo-strukturnogo-analiza-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ ультразвукового структурного анализа материала</a>
Способ измерения коэффициента поглощения ультразвуковых волн
Номер патента: 1147971
Опубликовано: 30.03.1985
Авторы: Дербан, Жук, Крылович, Шашков
МПК: G01N 29/00
Метки: волн, коэффициента, поглощения, ультразвуковых
...двух акустических базах ультразвуковые волны, изменение скорости которых ь ( б связано с изменением температуры Ь(,(Ю исследуемой среды по формуле 15 20 Время измерения выбирается из условия адиабатичности (на результатизмерений не оказывают влияния ни 25 перенос тепла вдоль ультразвуковоголуча, ни радиальный теплоотвод отлуча) , Рь( - )агде х - радиус ультразвукового 30 излучения;с - коэффициент температуропроводности вещества.Коэффициент поглощения определяютиз соотношенияЬ 1 (-ехр(-2 и,х,) 35 ьгехр(,-ЬХ,)где а - коэффициент поглощения;Х,(Х ) - расстояние первой (второй)базы;Ь 5,(ь- изменение частоты принимаемых А 0 сигналов по сравнению с излученными сигналами.Использование способа позволяетповысить точность измерений. Составитель...
Способ определения коэффициента поглощения при колебаниях
Номер патента: 1442846
Опубликовано: 07.12.1988
Автор: Сидоров
МПК: G01M 7/00
Метки: колебаниях, коэффициента, поглощения
...профилей Д 16 Т. Элементы сборного образца соединены 72 болтами И 6, затянутыми моментом 5 Н м. Образцы консольно защемляются в массивном зажиме за корневую часть с давлением поджатия75 МПа, Для сохранения формы сборного образца в его корневую частьустанавливают стальные вкладыши, Зажим с образцом подвешивают на упругой податливой подвеске. Частота собственных колебаний монолитного образца на первой форме 209 Гц, сборного227 Гц, частота .колебаний зажима наподвеске 0,5 Гц.На верхней и нижне . сторонах образцов на расстоянии 30 мм от заделки устанавливают тензодатчики, сигнал которых тарируется относительноамплитуды колебаний свободного конца образца.Тензодатчики включаются в цепьполумоста, два другие регулируемыеего плеча...
Способ определения коэффициента поглощения твердых слабопоглощающих слаборассеивающих материалов с малой диффузной составляющей коэффициента отражения
Номер патента: 1286966
Опубликовано: 30.01.1987
Авторы: Моисеев, Петров, Степанов
МПК: G01N 21/59
Метки: диффузной, коэффициента, малой, отражения, поглощения, слабопоглощающих, слаборассеивающих, составляющей, твердых
...сферы5, с приемником 12 излучения служит 35для определения пропускательной способности образца. Узкополосный усилитель 13 и цифровой прибор 14 служат для измерения и регистрации сигналов с приемников 8 и 12.40Способ осуществляют следующим образом,Через входное отверстие первой интегрирующей сферы 5 на установлен ный в ее центре эталон 7 с коэффициентом отражения К , направляют излучение так, чтобы отраженный луч попадал на стенку сферы; Измеряют сигнал А 4, пропорпиональный энергии, отраженной от эталона. Эталон выводят из зоны действия луча. На место эталона под малым углом к лучу вводят образец 6 так, чтобы зеркально отраженное излучение попадало на стен 55 ку сферы. Измеряют сигнал А, пропорциональный освещенности в первой сфере...
Способ определения коэффициента поглощения ультразвука
Номер патента: 1649413
Опубликовано: 15.05.1991
Авторы: Войтонис, Конев, Рубинов
МПК: G01N 29/00
Метки: коэффициента, поглощения, ультразвука
...частотомером 4. Исследуемый материал 5 находится между двумя плоскими параллельными одна другой пьезопластинами 6 и 7.Устройство включает линейный широ,кополосный усилитель 8, измерительный 15 осциллограф 9 и милливольтметр 10. Входное сопротивление усилителя 8 выбирается достаточно большим, чтобы прием сигнала на пьезопластине осуществлялся в режиме холостого ходаЦель изобретения - повышение точности - достигается за счет исключе:ния влияния на результаты измерений ;неизвестных и трудно подданищахся расчетам коэффициентов отражения от пье зопластин. Определение 06 следует из известных зависимостей, используемых ,в непрерывном и импульсном способах определения 06, Так, при излучении ультразвука первой пьезопластиной зависимость...
Способ измерения коэффициента поглощения ультразвуковых волн
Номер патента: 669285
Опубликовано: 25.06.1979
МПК: G01N 29/00
Метки: волн, коэффициента, поглощения, ультразвуковых
...изобретения является увеличе 26ние точности определения коэффициентапоглощения ультразвуковых волн за счетисключения составляющей ошибки измерения, обусловленной неидентичностью36 Тираж 1089 Подписное НИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 5, Москва, ЖРаушсквя наб д. 4/5 Заказ 365 1303 ПППатент, г. Ужгород, чи. Проектная 4 филиа туле сигнала, принятого другим приемником 6.Нв втором атвпе измерения сигнал свыхода генератора 1 с помощью переключателя 2 подается на излучатель 4, Снова измеряются амплитуды сигналов, принятых приемниками 5 и 6. Определяетсявеличина п 12, равная отношению амплитуды сигнала, принятого близлежащим кточке излучения приемником (в данномслучае прие," ником 6), к амплитуде синала,...
Предыдущий патент: Устройство для дистанционного контроля трубопроводов
Следующий патент: Способ измерения коэффициента затухания продольных ультразвуковых колебаний в материале
Случайный патент: Автомат для ошиновки