Способ определения коэффициента поглощения твердых слабопоглощающих слаборассеивающих материалов с малой диффузной составляющей коэффициента отражения

(56) Стекло кварцевое оГОСТ 15130-79.Иванов А.П. Оптика рсред. Минск: Наука и тс. 454-457,(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯПОГЛОЩЕНИЯ ТВЕРДЫХ СЛА ссеивающихника, 1969,КОЭФФИЦИЕНТА ПОГЛОЩАЮЩИХ ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Институт высоких температуАН СССР СЛАБОРАССЕИВАЮЩИХ МАТЕРИАЛОВ С МАЛ ЙДИФФУЗНОЙ СОСТАВЛЯЮЩЕЙ КОЭФФИЦИЕОТРАЖЕНИЯ(57) Изобретение относится к технической физике. Способ позволяет повысить точность определения коэффициента поглощения твердых слабопоглощающих слаборассеивающих материалов и измерять указанный коэффициентпрн, отсутствии информации о коэффициенте отражения исследуемых материалов. С помощью двух интегрирующихсфер и эталона с известным коэффициентом отражения определяют коэффициент поглощения образца с учетомотраженной и рассеянной энергии поформуле, приведенной в изобретении.1 ил.Изобретение относится к технФеской физике и связано с исследованием оптических свойств твердых полупрозрачных материалов.ФЦель изобретения " увеличение точности. определения коэффициента поглощения твердых слабопоглощающихслаборассеивающих материалов, имеющих зеркально-диффузный характеротражения границ, эа счет учета влияния поверхностного рассеяния и возможности определения коэффициента поглощения материалов с неизвестнымкоэффициентом отражения.На чертеже схематически изображено устройство для осуществленияпредлагаемого способа.Устройство содержит источник 1коллимированного излучения, модулятор 2, приводимый во вращение двигателем 3, диафрагму 4, интегрирующуюсферу 5; в которой располагают образец 6, эталон 7 (на чертеже это поверхность сферы), приемник 8 излу чения и защищающий его от засветкипосле первого отражения от поверхности сферы экран 9. Перемещающий1 держатель 10 позволяет вводить и выводить образец 6 и эталон 7 изэоны действия излучения. Сфера 11,расположенная на некотором расстоянии от первой и имеющая только одновходное отверстие, соосное с входными выходным отверстиями первой сферы5, с приемником 12 излучения служит 35для определения пропускательной способности образца. Узкополосный усилитель 13 и цифровой прибор 14 служат для измерения и регистрации сигналов с приемников 8 и 12.40Способ осуществляют следующим образом,Через входное отверстие первой интегрирующей сферы 5 на установлен ный в ее центре эталон 7 с коэффициентом отражения К , направляют излучение так, чтобы отраженный луч попадал на стенку сферы; Измеряют сигнал А 4, пропорпиональный энергии, отраженной от эталона. Эталон выводят из зоны действия луча. На место эталона под малым углом к лучу вводят образец 6 так, чтобы зеркально отраженное излучение попадало на стен 55 ку сферы. Измеряют сигнал А, пропорциональный освещенности в первой сфере при взаимодействии луча с образцом.Во второй интегрирующей сфере 11 из меряют сигнал А, пропорциональНБйэнергии излучения, прошедшего сквозьобразец. Образец выводят из эоны действия луча. Затем измеряют сигнал Аво второй интегрирующей сфере, про-.порциональный освещенности, созданной полым падающим излучением. Определяют коэффициент поглощения по формуле 1-Р-С К = ----НА,/Аз,А/А 4Кзттолщина образца,коэффициент отражения эталона,где Р =С Н -Н,Формула изобретения лощения материалов с неизвестным коэффициентом отражения, дополнительноизмеряют сигнал - А 2, пропорциональный сумме объемного и поверхностногорассеяний, а также зеркального отражения образца, при минимальном повороте образца по отношению к падаю -щему лучу током, что все лучи, зеркально отраженные образцом, попадаютна стенку сферы, а коэффициент поглощения определяют по формуле 1-Р-С К Н где Р=А/А С=К,А/А пропускательная способность образцаотношение энергиирассеянной и отраженСпособ определения коэффициента поглощения твердых слабопоглощающих слаборассеивающих материалов с малой диффузной составляющей коэффициента отражения, заключающийся в том, что направляют луч света на образец, рас- положенный в центре интегрирующей сферы, измеряют сигнал А 4, пропорциональный пропущенной образцом энергии, выводят образец из хода луча и измеряют сигналы, пропорциональные падающей энергии Аэ и энергии А 1, отраженной от установленного на место образца эталона с коэффициентом отражения Кэ и рассчитывают коэффициент поглощения, о т л к ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерений за счет учета влияния поверхностного рассеяния и возможности определения коэффициента пог1286966 Н - толщина образца в направлении хода луча. ной образцом к падающей Составитель И.НикулинРедактор Е.Копча Техред Л.Олейник КорректорГ,Решетник Эаказ 7706/43 Тираж 776 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и .открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5