Способ определения распределения радионуклидов по глубине при поверхностной активации изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1176754
Авторы: Константинов, Леонов
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКРЕСПУБЛИК 19 21 Н 5 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ЬМ; 1 М. ЕЛЬСТ т еоно пада- з- г- иэ ССР5 вост39. г к=У(ЕЕ,Ч= Е,+В,деУ (ЕЭ ) градуировочн симость, и о ют распредел дионуклидовне для обоих Г, (х) и Г(х ветственно из щих соотношен ая зави- ределяние рао глуби- изделийсоот- следуюЕ,(х) Г ( Г (х) фй, ( дп 6дп Е, - распредеда по гл на, облу ние радионуклиине для этало"нного перпенповерхности. ул ГОСУДАРСТ 8 ЕККЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ 1 Ф К АВТОРСКОМУ СВИ(56) Авторское свидетельствоВ 148501, кл. С 01 Н 3/56, 1Метод поверхностной активпромышленности. / .Под ред. Вникова, М,: Атомиздат, 1975,(54)(57.) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ РАДИОНУКЛИДОВ ПО ГЛУБИНЕ ПРИ ПОВЕРХНОСТНОЙ АКТИВАЦИИ ИЗДЕЛИЙ, включающий в себя облучение эталонного образца изделия пучком ускоренных заряженных частиц под углом 9, к поверхности и определение распределения наведенных радионуклидов по глубине х методом послойного анали- . за, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности, дополнительно облучают по крайней мере еще одно изделие, расположенное под заданным углом ( относительно первого изделия, измеряют интен-, сивность рентгеновского Ю, И игамма-излучения Л, Я для обоихизделий в одинаковых для каждогода излучения условиях, рассчитывНу, Нуотношение К= / , вычисляюн, н, фуглы Е, и Е между направлениемющего излучения и поверхностями иделий по величине отношения Е и улу Ч междуповерхностями издеяийсистемы уравнений1176754 Ф(6 9) / - ф ф 2 цЯ,Г(х) Е (х)еп 9,1 (х)Е (х)з 1 п 8 . Редактор С,Титова Техред И.Верес , Корректор Т.Колб,Заказ 4844/1 Тираж 386 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, 7-35, Раушская наб., д. 4/5производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4,Изобретение относится к использо.ванию излучений от радиоактивныхисточников в качестве следящего индикатора и может быть применено приактивации изделий, исследуемых насопротивление механическому износуи истиранию.Цель изобретения - повышение точ.ностиИзобретение .поясняется черте"жом, где первое изделие 1, второеизделие 2, эталон Э, пучок заряженных частиц 4,Способ осуществляется следующимобразом.Изделия 1 и 2 устанавливают подзаданным малым углом у между их поверхностями, а биссектрису этого угла располагают вдоль оси ионопроводаускорителя. Между изделиями 1 и 2под углом 900 к указанной биссектрисе устанавливают эталон в виде стопки фольг. Проводят облучение пучкомзаряженных частиц 4. Иэ-эа наличияуглового разброса пучка заряженныхчастиц для всех существующих конструкций ускорителей при активации намалйе углы значения углов облученияпервого и второго изделий Ю, и 9с достаточной степенью точности не,известны. Поэтому для их определенияподле облучения в одинаковых условиях измеряют интенсивность Н, Н,рентгеновского и Юр Яу, гамма-иэлучений для первого и второго изделий соответственно. Определяют величинуотношения 5 к -- /ф 1 х ф 1 мБу, НВ общем виде это отношение длязаданного материала определяетсятолько величинами углов 6, и 9,Поэтому до осуществления настоящегоспособа определяют градуировочнуюфункцию но всему диапазону изменения углов для исследуемых материалов.Точные значения углов 6, и 6 вычисляют из следующей системы уравне- ю По полученным значениям 9, и 9 25и измеренному методом послойного анализа наведенной активности радионукли дов по глубине й(х), где х - глубина, определяют распределение радионуклидов по глубине для первого и З 0 второго изделий по следующим соотношениям:
СмотретьЗаявка
3679337, 23.12.1983
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2679
КОНСТАНТИНОВ И. О, ЛЕОНОВ А. И
МПК / Метки
МПК: G21H 5/02
Метки: активации, глубине, поверхностной, радионуклидов, распределения
Опубликовано: 07.09.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1176754-sposob-opredeleniya-raspredeleniya-radionuklidov-po-glubine-pri-poverkhnostnojj-aktivacii-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения распределения радионуклидов по глубине при поверхностной активации изделий</a>
Способ изготовления бис на мдп-транзисторах с поликремниевыми затворами
Номер патента: 1340481
Опубликовано: 15.11.1993
Авторы: Глущенко, Гордиенко, Колесников, Коновалов
МПК: H01L 21/265
Метки: бис, затворами, мдп-транзисторах, поликремниевыми
...термическое окисление (Т = 950 С)поликремния в кислородной среде до тало20 щины окисла кремния 700 А. Затем осуществляют фотогравировку, используядополнительные маскирующие свойства выращенного окисла кремния, слоя поликремния, вытравливая его над областями стока,истока и затвора, При этом оставляют подслоем поликремния диэлектрик запоминающего конденсатора и второй промежуточ-.ный диэлектрический слой окисла кремния,расположенный над активными областямиструктур стока, истока и подзатворного диэлектрика,Для Обеспечения необходимого примесного распределения в подзатворной области подложки с учетом последующейо 5 термической сегрегации примеси и для подгонки порогов через выращенный слойокисла кремния проводят подгонку имплантацией...
Угломерное устройство для контроля углов при гибке труб или других изделий
Номер патента: 200190
Опубликовано: 01.01.1967
Метки: гибке, других, труб, углов, угломерное
...угломера 2, выполненного в виде втулки 9, прикреплен валик 10, на котором на подшипнике 11 насажен поворотный угломерный полудиск 12 с грузом И и неподвижная стрелка 14. На конце втулки навинчена фиксирующая гайка 15, а на основании 1 б нанесена риска 17.5 Работа устройства заключается в следующем.Для приведения угломера в действие егозакрепляют на свободном конце трубы и устанавливают стрелку 14 вертикально до совпа дения с нулевым делением на полудиске 12.После изгиба полудиск устанавливают поворотом втулки 9 на стойке 3 так, чтобы валик 10 был параллелен несогнутому участку трубы, а затем поворачивают трубу вокруг оси ее не согнутого участка на заданный угол междуплоскостями изгибов.При изгибе трубы полудиск под действиемсилы тяжести...
Способ определения глубины залегания дефекта при ультразвуковом теневом контроле изделий
Номер патента: 1661640
Опубликовано: 07.07.1991
Автор: Словинский
МПК: G01N 29/08
Метки: глубины, дефекта, залегания, контроле, теневом, ультразвуковом
...через изделие УЗ-колебаний производят в ходе сканирования приемного преобразователя по пло 40 45 точек образования минимумов номера и оп(10) 50 5 10 15 20 25 30 35 скости М изделия при выполнении условия значительного превышения минимально возможного расстояния между дефектом О и приемным преобразователем величины б. Для таких условий выполняются следующие равенства, = г; (3)д : фд, (4)г = г соз фд, (5) где гд - радиус вектора от центра дефекта до точки А приема на плоскости М сканирования;Хд - расстояние от точки А приема по плоскости М до центра "теневой" зоны за дефектом;рд - угол между радиусом-вектором гд и волновым вектором к излучаемых волн,Излучение осуществляют в непрерывном или квазинепрерывном режиме таким образом,...
Способ измерения угла вращения плоскости колебаний поляризованного излучения
Номер патента: 1744462
Опубликовано: 30.06.1992
Автор: Мачтовой
МПК: G01B 21/00
Метки: вращения, излучения, колебаний, плоскости, поляризованного, угла
...фазовый детектор 17,Излучение от источника 1 пропускают через поляризатор 2, оптически активное вещество 3, вызывающее вращение плоскости колебаний излучения на угол д, и далее через модулятор 4, анализатор 5 и объектив 6 направляют на фотоприемник 7 в виде излучения, модулированного по интенсивности в соответствии с (1), см. эпюру Е на фиг.16,В качестве приемника применяют матрицу ФПЗС с универсальным средним регистром в режиме межкадрового вычитания (МКВ), В твердотельном телевидении (4) при так. м режиме работы подавляется стационарная часть сигнала, что позволяет существенно повысить чувствительность, Возвращаясь к выражению (1), очевидно, к стационарной части сигнала на выходе ФПЗС можно отнести составляющие частоты 2 ви...
Способ измерения угла между створом отвесов и направлением первого стана в шахте
Номер патента: 70202
Опубликовано: 01.01.1948
Автор: Потапенко
МПК: G01C 5/00
Метки: между, направлением, отвесов, первого, стана, створом, угла, шахте
...проволок обоих отвесов. Далее, наведением визирной оси на изображения проволок с соответствующим изменением фокусировки и дополнительным поворотом зеркала добиваются точного совмещения визирной оси с изображениями обеих проволок, после чего берут отсчет по лимбу теодолита с зеркалом.Затем алидаду с зеркалом поворачивают в сгорону второго теодолита так, чтобы на той же визирной оси пришлось изображение его же шпиля. Затем берут второй отсчет по лимбу теодолита с зеркалом. Разность между двумя отсчетами составит половину измеряемого угла.Для устранения остаточных инструментальных ошибок второй полуприем измерения этого угла производят при другом положении вертикального круга второго теодолита (положение шпиля: над трубой и под...
Предыдущий патент: Электронно-лучевая трубка
Следующий патент: Модель орбитальной станции
Случайный патент: Опалубка для отделки откосов проемов